透射电子显微镜TEM透射电子显微镜（TransmissionElectronMicroscope,简称TEM），是一种把经加速和聚集的电子束透射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度等相关，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件（如荧光屏，胶片以及感光耦合组件）上显示出来的显微镜。1背景知识在光学显微镜下无法看清小于，这些结构称为亚显微结构或超细结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜，电子束的波长比可见光和紫外光短得多，并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比，也就是说电压越高波长越短。目前TEM分辨力可达。▽电子束与样品之间的相互作用图来源：《CharacterizationTechniquesofNanomaterials》[书]透射的电子束包含有电子强度、相位以及周期性的信息，这些信息将被用于成像。2TEM系统组件TEM系统由以下几部分组成：l电子.：发射电子。由阴极，栅极和阳极组成。阴极管发射的电子通过栅极上的小孔形成射线束，经阳极电压加速后射向聚光镜，起到对电子束加速和加压的作用。结构为：目镜，镜筒，转换器，物镜，载物台，通光孔，遮光器。十堰偏光显微镜
徕卡显微镜操作简单，高对比度，可以接装照相、摄影装置。在连接多达5个物镜的基础上们可以轻松实现多倍数的观察操作，便于操作，可以实现快捷高效的研究分析。这是一台长寿命、高质量的显微镜，是基础实验室和教学显微镜的理想选择。适用于病理学、细胞学与血液学研究，它具有电动物镜转盘、聚光顶镜、自动光线强度调节装置与可选脚踏开关。这种直观的显微镜改善了细胞学与病理学研究的操作流程。徕卡显微镜性能特点：1、结构简单，使用可靠：通过白光(4500K)LED照明和徕卡高质量光学设备更佳匹配。2、大功率LED照明：适用于明场、暗场、微分干涉和偏光的多功能光源。3、光学部件：具有鲜明对比度和锐化的图像与高分辨率视场和优化图像视场结合。4、使用可靠：彩色编码光圈辅助装置(CCDA)、内置对焦止动装置、内置式斜照明装置确保使用方便、可靠。5、配置灵活：不但使用功能适用所有样本，也使得购置更节省。6、简化文件记录过程：摄像头与软件结合，实现数据快速准确地分析、归档。官方显微镜公司德国徕卡显微镜一级代理商主营徕卡显微镜。
▽超细颗粒制备方法示意图来源：公开资料▽材料薄膜制备过程示意图来源：公开资料5图像类别（1）明暗场衬度图像明场成像（Brightfieldimage）:在物镜的背焦面上，让透射束通过物镜光阑而把衍射束挡掉得到图像衬度的方法。暗场成像（Darkfieldimage）:将入射束方向倾斜2θ角度，使衍射束通过物镜光阑而把透射束挡掉得到图像衬度的方法。▽明暗场光路示意图▽硅内部位错明暗场图来源：《CharacterizationTechniquesofNanomaterials》[书]（2）.辨TEM（HRTEM）图像HRTEM可以获得晶格条纹像（反映晶面间距信息）；结构像及单个原子像（反映晶体结构中原子或原子团配置情况）等分辨率更高的图像信息。但是要求样品厚度小于1纳米。▽HRTEM光路示意图▽硅纳米线的HRTEM图像来源：《CharacterizationTechniquesofNanomaterials》[书]（3）电子衍射图像l选区衍射（Selectedareadiffraction,SAD）:微米级微小区域结构特征。l会聚束衍射（Convergentbeamelectrondiffraction,CBED）:纳米级微小区域结构特征。l微束衍射（Microbeamelectrondiffraction,MED）:纳米级微小区域结构特征。
1.斥力模式原子力显微镜（AFM）微悬臂是原子力显微镜（AFM）关键组成部分之一，通常由一个一般100～500μm长和大约500nm～5μm厚的硅片或氮化硅片制成。微悬臂顶端有一个尖锐针尖，用来检测样品－针尖间的相互作用力。对于一般的形貌成像，探针尖连续（接触模式）或间断（轻敲模式）与样品接触，并在样品表面上作光栅模式扫描。通过计算机控制针尖与样品位置的相对移动。当有电压作用在压电扫描器电极时，它会产生微量移动。根据压电扫描器的精确移动，就可以进行形貌成像和力测量。原子力显微镜（AFM）设计可以有所不同，扫描器即可以使微悬臂下的样品扫描，也可以使样品上的微悬臂扫描。原子力显微镜（AFM）压电扫描器通常能在（x,y,z）三个方向上移动，由于扫描设计尺寸和所选用压电陶瓷的不同，扫描器比较大扫描范围x、y轴方向可以在500nm～125μm之间变化，垂直z轴一般为几微米。好的扫描器能够在小于1尺度上产生稳定移动。通过在样品表面上扫描原子力显微镜（AFM）微悬臂。茂鑫实业（上海）有限公司作为一家代理德国徕卡清洁度检测仪DM4M、孔隙率检测仪、3D扫描仪DVM6、影像测量仪等检测设备的公司，茂鑫实业将在展览会上展示其新的产品和技术，以满足客户的需求。选上海显微镜,是您的选择,欢迎来茂鑫显微镜。
LFM是检测表面不同组成变化的SFM技术。它可以识别聚合混合物、复合物和其他混合物的不同组分间转变，鉴别表面有机或其他污染物以及研究表面修饰层和其他表面层覆盖程度。它在半导体、高聚物沉积膜、数据贮存器以及对表面污染、化学组成的应用观察研究是非常重要的。LFM之所以能对材料表面的不同组分进行区分和确定，是因为表面性质不同的材料或组分在LFM图像中会给出不同的反差。例如，对碳氢羧酸和部分氟代羧酸的混合LB膜体系，LFM能够有效区分开C-H和C-F相。这些相分离膜上，H-C相、F-C相及硅基底间的相对摩擦性能比是1：4：10。说明碳氢羧酸可以有效提供低摩擦性，而部分氟代羧酸则是很好的抗阻剂。不仅如此，LFM也已经成为研究纳米尺度摩擦学-润滑剂和光滑表面摩擦及研磨性质的重要工具。为研究原子尺度上的摩擦机理，Mate等和Ruan、Bhan对新鲜解离的石墨（HOPG）进行了表征。HOPG原子尺度摩擦力显示出高定向裂解处与对应形貌图像具有相同周期性（图），然而摩擦和形貌图像中的峰值位置彼此之间发生了相对移动（图）。利用原子间势能的傅里叶公式对摩擦力针尖和石墨表面原子间平衡力的计算结果表明，垂直和横向方向的原子间力比较大值并不在同一位置。徕卡显微镜,徕卡偏光显微镜,徕卡3D显微镜就找茂鑫。扬州电子显微镜
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