RLK650便携式红外发射率测量仪，是采用较先进的光电检测技术、数字信号处理技术、嵌入式软件技术，以及人体工程学技术新型的光电检测仪器。其基于定向半球反射比（DHR）测量原理，完成双波段（3-5um和8-12um）发射率的贴近测量，产品针对野外、移动试验条件设计，集公司多项技术积累，吸收国际先进产品技术与特点，具有携带方便、操作简单等优点，测量结果保存在SD卡中。产品特点🔷测量原理：定向半球反射（DHR），20°±1°入射；🔷测量波段：光双波段，3-5um&8-12um;🔷便携式设计：良好的人体工程学外形设计，操作手感好；🔷彩色触摸屏：汉字界面、触摸操作、一目了然、一键测量、操作简便；🔷数字存储：MicroSD卡，比较大1024记录，分4组，TXT文件格式，方便在PC机上后续分析。 当AE1测量待测样品上时，RD1就能直接读出发射率。涂层发射率测量仪准不准
此设备在国内外的测量发射率的行业领域已有多年的成熟使用案例。经过可市场的高度认可，性价比高，精度高，性能可靠、稳定，体积小，使用十分便捷，可外出检定使用，后期保养维护成本低。1、专业用于国家纺织品远红外性能的检测和评价标准，十分适用于“GBT30127-2013纺织品远红外性能的检测和评价”和“FZT-64010-2000远红外纺织品”两个标准的检测。2、专门设计为人体表体温度34℃左右下进行测量，避免造成检测不容易而且误差较大，其数据才是客观公正可靠，贴合纺织品的实际使用情况需求。3、EMS302M可测φ=60mm的圆形样品，实用性强，能检定更多的样品和业务。而其他两款只能检测φ80mm的样品，尺寸更大，对业务有限制。4、EMS302M测量波段为5-14μm，完全符合国标要求。其他两款均过多或过少的不满足波段要求。5、EMS302M的温度控制精确度在±，其他两款均无法达到此要求。6、EMS302M的发射率测量范围可达～，其他两款均无法达到此要求。7、EMS302M的用户群体的数量、质量都较高，经过长期的市场认可。8、E10和SRI1000价格极其昂贵，属于美国，并且由于厂家的历史原因等，对国内用户存有一定的限制和审查，对后续采购到位情况有风险。EMS302M不存在相关限制。 涂层发射率测量仪生产厂家可给该测量仪连续供电 12小时左右，有 电池电量指示，可充电。
特定电磁波谱器的温度测试只能通过热电偶接触式测量，该方法测量的误差相对较大，采用热像仪进行非接触式测量，要使测量数据正确就必须测量得到一个准确的红外发射率，因此需要一台远红外发射率测量仪。设备为中国台湾进口设备。目前国产的同类设备不是单独成套的仪器设备，而是很多个部件系统所组成的一套系统，存在较大的系统误差，无法做到高精度，稳定、可靠性低，操作使用方法复杂繁琐，且需要操作人员自己进行数据换算，任一环节或部件出现问题，则导致数据误差。且后期维护不便等，另外系统部件多，加上人工安装、调试等，总体费用高。
采用先进的非接触式测量技术和智能算法优化，能够自动适应不同材质、不同温度下的测量需求，确保测量结果的准确无误。高精度的发射率测量对于材料科学、热工测试等领域至关重要，有助于提升科研和生产的精确度。该测量仪具备独特的光谱分析功能，能够精细识别并区分物体表面的微小差异。这种能力使得它在复杂多变的环境条件下也能保持高度的测量稳定性和可靠性，满足多样化的测量需求。部分型号如SRI1000手持式发射率测量仪，具备快速测量的特点，无需预热即可直接进行测量，提高了工作效率。对于需要快速获取数据的场合，这一优势尤为明显。AE1测量样品**小直径为2.25英寸（5.7cm）。
AE1/RD1便携式半球发射率测量仪，可随时携带至需要测量的现场，无耗材成本，使用方便。可测量样品材料的发射率，辐射率。半球发射率是固体材料的一个重要物理性能参数，它体现了材料在特定温度下相对黑体的辐射能力。材料半球发射率的测试方法包括卡计法和光学方法。卡计法又包含瞬态卡计法和稳态卡计法（稳态量热计法）。美国D&S公司生产的半球发射率测量仪则为稳态量热计法。可测试材料在常温条件下的高精度、较高的半球发射率。是建筑用反射隔热涂料和航天航空热反射热涂料的半球发射率测量仪。 发射率测量仪的价格更优惠。半球发射率发射率测量仪使用
上海明策发射率测量仪品质保障。涂层发射率测量仪准不准
这种广泛的应用范围得益于发射率测量仪本身的高精度、宽光谱分析、快速响应等优异性能，以及上海明策电子科技有限公司在技术研发、产品设计和客户服务等方面的持续投入和创新。这些优势使得该产品在多个行业和领域都能找到用武之地，满足不同用户的多样化需求。因此，可以说上海明策电子科技有限公司的发射率测量仪产品是一款应用范围广泛、性能优良、价值突出的高科技产品。此外，在节能建筑与LEED认证、实验室研发与质量控制等多元化领域，这款产品同样展现出了其强大的应用潜力和价值。涂层发射率测量仪准不准
