IMPACIS5红外测温仪是一款全数字、紧凑型、高速度、高精度的红外测温仪，用于非接触式测量金属材料、石墨、陶瓷、非金属、玻璃、焊接等各种材料的温度;15精度高，不锈钢外壳、IP65防护等级、德国原装进口，长期工作精度和稳定性非常好;小于2毫秒的高速响应，非常适合用干快速加热或瞬间峰值温度测量;固定焦距镜头，测量距离90mm-4000mm;具有0/4.20mA的可切换模拟信号输出，可以方便的连接PLC等各种自动控制设备;带激光瞄准、目视瞄准或TV视频瞄准，可以精确的瞄准被测目标点，保证测量温度的准确性。还可以使用数字接口将测温仪连接到电脑上，用仪器自带的infrawin软件对测温仪实时测量在线跟踪、分析并将测试过程存储下来，以便于将来随时进行分析;也可以在电脑上对测温仪的所有参数进行设置。配有用于电气装置的连接头，连接电缆线从2米到30米之间根据需要选择。明策红外测温仪IPE140/39，操作便捷，测温范围广，可满足消防行业的温度测量需求。安徽高精度红外测温仪案例
IMPAC IS 320红外测温仪是一款短波、固定式红外测温仪，采用内部字信号处理，主要用于测量金属、石墨、陶瓷、复合材料等各种材料的温度，广泛应用于感应加热、钢铁、锻造、轧钢、金属熔融、激光焊接、工业自动化设备等各种行业。
小巧的机身使其能够安装在小型生产设备上，坚固耐用的设计确保了恶劣工业环境现场应用中的稳定性。该测温仪有多种镜头可选，可以实现较小的光斑尺寸。LED靶光可精确地瞄准测量物体，测量时会自动启动。除了模拟输出外，测温仪还配备了一个RS485数字接口，可确保数据通过长距离安全地传输至电脑或PLC控制器。随机配备的InfraWin软件可显示图形与存储测量数据，并可对仪器的所有参数进行简便地设置。 北京高精度红外测温仪参数明策高精度红外测温仪IGA50-LO，技术先进，可在制药行业准确监控生产温度。
IS 140-PB红外测温仪是IS 140带Pb接口的版本，配置了Profilbus-DP接口，用于非接触式测量金属、非金属、石墨、陶瓷等各种材料的温度。测温仪可通过内置的Profibus-DP接口很容易地集成在现有的现场总线系统内。
GSD文件(标准配置的一部分)提供5种不同的模块配置可供选择，以满足您的要求。使用任何项目工具便可进行项目策划。除了配置有Profibus-DP接口外，其它配置、性能参数指标均与IS 140一样;详细功能和技术指标请参考IS 140红外测温仪。
上海明策高精度红外测温仪的应用范围非常宽泛，可以满足不同行业的需求。在工业领域，它可以用于电力、冶金、化工、机械等行业的设备温度监测和故障诊断。在医疗卫生领域，它可以用于医院、诊所、体检中心等场所的人体体温测量和疾病筛查。在食品安全领域，它可以用于食品加工厂、超市、餐厅等场所的食品温度检测和质量控制。在科研领域，它可以用于实验室、研究所等场所的各种实验的温度测量和研究。
保障用户权益上海明策电子科技有限公司不仅提供高质量的产品，还为用户提供质量的服务。公司拥有一支专业的技术团队，能够为用户提供及时、有效的技术支持和售后服务。无论是产品的安装、调试还是使用过程中的问题解决，都能得到专业的指导和帮助。 明策高精度红外测温仪，响应速度快，数据可靠，在仓储行业广泛应用。
IGA315-K手持式测温仪专也用于炼焦工厂。该测温仪用于非接触式测量炼焦炉内喷嘴口砖块及烟气的温度。测量时要打开烟道，并从炉顶进行测量。因此需调整仪器光路从而能够通过观察孔毫不费力的瞄准喷嘴口砖块并精确测量至12米的目标。
为便于瞄准，取景器上标识有一个圆形测量区，表示所测量物体的大小。仪器的测量结果可以直接在取景器内显示。通过一键操作，可快速地实现开机或者数据存储。该仪器可存储高达2000组含有时间和日期的测试数据，确保了所有与焦化炉烟道有关数据的完整性。这一存储系统便于后续的数据评估，包括通过所含软件传输至电脑的数据。数据既可以以图表也可以转化为EXCEL图表。 明策高精度红外测温仪，测温范围广，响应速度快，适用于工业生产、医疗等多个领域。安徽高精度红外测温仪案例
明策红外测温仪，快速响应，测量准确，适用于商场超市的温度检测。安徽高精度红外测温仪案例
UV400的前身TR2100是*采用集成反射计(2001年)的高温计，为使用光纤镜头和950nm激光实时测量发射率建立了行业标准。
蓝宝石光管传感器和实时的黑体校准源取得的研究进展提供了完整的温度测量解决方案。UV400和UVR400系统是专门为GaN基MOCVD外延工艺开发的下一代温度传感器。这些传感器可以直接测量晶圆表面温度，而非传统的基座温度。UVR400较UV400增加了一个635nm，0.5kHz测量速度的反射率测量仪，可测量沉积厚度.这些系统正在为LED生产过程设定一个新的标准，其结果显示工艺温度和终产品波长之间存在可靠的相关性.这种直接测量的方法可以更精确地控制晶片温度，从而提高成品率主要特点使用紫外波段直接测量GaN层温度；
使用脉冲光源实时快速测量发射率；
使用真正的光计数仪器将测量中的噪声降至低；
防止由于延迟采样（无快门打开和关闭）而造成的数据偏差
测温范围：650至1300℃
重复精度0.01°C(seeTN-828) 安徽高精度红外测温仪案例
