教育培训产品:霍尔效应实验装置、P型N型霍尔效应实验仪、材料拉力与杨氏模量测量实验装置、金属热膨胀系数实验装置、塞曼效应实验装置、弗兰克-赫兹实验装置、电子荷质比实验、光电效应实验装置、核磁共振实验装置、PN结和波尔兹曼常数、金属电子逸出功实验装置、理想真空二极管综合实验装置、巨磁电阻效应实验装置、激光原理实验装置、光谱分析套件、785nm拉曼测量实验装置、iToF光速测量实验装置、仿真辐射实验装置、扫描隧道显微镜、原子力显微镜、电能无线传输演示实验装置、LED综合特性测量装置、振镜式激光扫描实验装置、RGB颜色匹配实验装置、激光雷达实验装置、多通道红外辐射测量装置、微波光学组合实验装置、新能源实验装置、太阳能电池基本特性实验装置、氢氧燃料电池实验装置等。另外公司还有光学光电子产品,如光源、光分析、驱动控制、定位与振动控制、测量系统等各类光学光电子产品,欢迎访问公司官网、微信公众号或来电咨询。 BIX-8814英光测量系统特点:样品放置方便,配置定制附件,方便读取荧光光谱的特性分布。杭州BIX-8805 辐照度测量系统厂家推荐

SIX-8001红外辐射测量系统
【概述】实际是一套有源热源检测台式红外热像仪,通过热成像及测温技术直观呈现热缺陷或整体温度分布,并可以进行过程监控。通过本系统,可以助力研究电路板热分析、微米级元器件检测、材料应力温升分析、材料热力性能分析、化学反应温度分析、化工工艺温度监测等。
【特点】~桌面在线式设计,着重过程检测和记录。~可调焦式设计,全视距清晰,见微见著。~镜头分辨力50微米,热显微成像。~专业PC端软件,丰富的检测报告内容。
【应用】~电路板热分析。~微米级元器件检测。~材料应力温升分析。~化学反应温度分析。~化工工艺温度监测。 杭州BIX-8805 辐照度测量系统联系电话红外辐射测量系统在电子设备散热设计,监测设备温度,优化散热方案。

Brolight博源光电生产的测量系统产品型号:【BIX-8801,LD/LED光源测量系统】应用于激光二极管测试研究;垂直腔面发射激光器测试;单波长发光二极管测试;宽带光源光谱特性测试研究。【BIX-8805,辐照度测量系统】应用于紫外标准检测计量;LED光辐射安全测量;植物生长/PAR/植物光生物学;紫外线固化系统的表征;光稳定性测量;光谱反射率/吸光度/透过率测量;荧光测量。【SIX-8001,红外辐射测量系统】应用于电路板热分析;微米级元器件检测;材料应力温升分析;化学反应温度分析;化工工艺温度监测。【BIX-8811,反射率测量系统】应用于物质/材料的镜面反射测量;物质/材料的漫反射测量;物质/材料的颜色测量。【BIX-8812,透过率测量系统】应用于滤光片的衰减性能测量;玻璃等材料的透光性能测量;材料对特定波长的吸收性能测量。【BIX-8813,吸光度测量系统】应用于物质的吸光度测量研究、浓度的定量测量、吸收特性测量分析。【BIX-8814,荧光测量系统】应用于生化领域组分分析荧光测量;医药领域的定量分析测量;矿物材料等的荧光光谱特性测量。【BIX-8815,拉曼测量系统】应用于珠宝、文物贵重物品鉴定;药品成分检测分析;瓜果蔬菜等食品快速检测;化工环保监察监测。
Brolight杭州博源光电科技有限公司专业提供测量系统产品:【BIX-8801,LD/LED光源测量系统】应用于激光二极管测试研究;垂直腔面发射激光器测试;单波长发光二极管测试;宽带光源光谱特性测试研究。【BIX-8805,辐照度测量系统】应用于紫外标准检测计量;LED光辐射安全测量;植物生长/PAR/植物光生物学;紫外线固化系统的表征;光稳定性测量;光谱反射率/吸光度/透过率测量;荧光测量。【SIX-8001,红外辐射测量系统】应用于电路板热分析;微米级元器件检测;材料应力温升分析;化学反应温度分析;化工工艺温度监测。【BIX-8811,反射率测量系统】应用于物质/材料的镜面反射测量;物质/材料的漫反射测量;物质/材料的颜色测量。【BIX-8812,透过率测量系统】应用于滤光片的衰减性能测量;玻璃等材料的透光性能测量;材料对特定波长的吸收性能测量。【BIX-8813,吸光度测量系统】应用于物质的吸光度测量研究、浓度的定量测量、吸收特性测量分析。【BIX-8814,荧光测量系统】应用于生化领域组分分析荧光测量;医药领域的定量分析测量;矿物材料等的荧光光谱特性测量。【BIX-8815,拉曼测量系统】应用于珠宝、文物贵重物品鉴定;药品成分检测分析;瓜果蔬菜等食品快速检测;化工环保监察监测。透过率测量系统在玻璃制造工业,严格把控玻璃透过率,满足不同使用需求。

BIX-8811反射率测量系统
【概述】反射率是物质/材料的基本光学特性,也是光谱测量的基本内容。对于不同种类的样品,物体表面的反射主要有镜面反射和漫反射两种。光在完美平整表面上的反射是镜面反射,在毛糙表面上的反射是漫反射,而光在大多数物体表面的反射则介于两者之间。反射测量可以用于测量元件的反射率,也可以测量分析物体的反射的颜色和化学样品中的成分信息。当我们对物体进行反射测量时,判断物体表面主要是哪种反射类型是非常重要的。那些看上去非常光亮的样品表面大多数是镜面反射,可采用光纤进行取样测量,而对于曲面样品,采用积分球取样测量更为合适。
【特点】~样品放置方便,夹具要求不高。~操作简便、重复性好、检测快速。~方便读取全谱的反射率值和曲线。~可通过积分球采样测量材料颜色。
【应用】~物质/材料的镜面反射测量。~物质/材料的漫反射测量。~物质/材料的颜色测量。 拉曼测量系统助力超导体研究,分析超导材料电子态,探索超导机制。杭州测量系统联系方式
BIX-8801,LD/LED光源测量系统特点:可按需配置,集成灵活方便,支持多维数据同步分析。杭州BIX-8805 辐照度测量系统厂家推荐
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