红外测温仪：在对物体进行测量时只能测一个点，可以把它认为成只有一个像素的热像仪，因此其显示目标上单个点的温度测量值。小贴士提醒:在知道准确的位置要进行近距离检测时，红外测温仪经济实惠并具有出色的性能。面对以下情况时，建议优先考虑红外热像仪。NO.2进行小目标测量红外测温仪光斑尺寸的同时就限制了需在近距离情况下测量小物体温度的能力。但要测量极小的元件时，则需要搭配特写光学元件（微距镜头）的红外热像仪能聚焦到每像素光斑尺寸小于5μm，这样更有利于被测物件得到准确的测量结果。制冷型红外热像仪由于其精度高误差小灵敏度高，使得其检测结果更加可靠。靶面式红外热像仪量大从优
在同一个温度，测温的红外波长越大，发射率就越小，反之，测量的波长越小，发射率就越大。(注意，这个规律只是针对金属或钢铁来说的，不适合其它材料，其它材料有其它材料的发射率规律，比如玻璃则反之)。发射率表提供的往往是一个发射率范围，你无法准确确认发射率的值，也就是发射率设置经常会有误差，而且有时误差还特别大而且，**重要的一点就是：除了黑体以外，实际物体的发射率值往往在一个范围里，而不是一个固定的值，比如上图中的哈氏合金在1μm时，发射率值是；同样，铁、钢材，也是如此，比如不锈钢在1μm时发射率为，而在8-14μm时发射率是。换言之，在这个范围里，提供的发射率表很多都是一个范围，而不是一个确定的值，在这个范围里，谁也弄不清到底具体发射率值是多少，所以你如何确切地设定发射率呢？又如何确保发射率没有误差呢？所以，发射率误差1%~10%是应用红外测温仪、红外热像仪中非常常见的、经常发生的。德国德图红外热像仪批发红外热像仪的图像是否可以进行后期处理？
红外热像仪的图像可以进行后期处理。红外热像仪通常会输出热图或热图像，这些图像可以通过专门的软件进行后期处理和分析。常见的红外热像仪后期处理功能包括：温度测量和标定：可以通过软件测量图像中不同区域的温度，并进行标定，以便更准确地分析热分布情况。图像增强：可以通过调整亮度、对比度、色彩等参数来增强图像的清晰度和可视化效果。图像滤波：可以使用滤波算法对图像进行去噪处理，以减少图像中的噪点和干扰。图像合成：可以将红外热像仪的热图与可见光图像进行合成，以获得信息。图像分析和报告生成：可以使用软件进行图像分析，如检测异常区域、绘制温度曲线等，并生成相应的报告。
红外热像仪的工作距离是有限制的。红外热像仪的工作距离取决于其焦距和像素分辨率。一般来说，红外热像仪的工作距离在几米到几十米之间。在工作距离范围内，红外热像仪可以提供较为准确的温度测量结果。然而，当距离目标过远或过近时，红外热像仪的测量精度可能会受到影响。如果距离目标过远，红外热像仪可能无法准确地捕捉到目标的细节和温度变化，从而导致测量误差增加。此外，目标与红外热像仪之间的距离过远还可能导致环境因素的影响增加，如大气散射和辐射能量的衰减。另一方面，如果距离目标过近，红外热像仪的视场角可能会变得较小，无法覆盖目标的整个区域，从而导致测量结果不准确。工业中红外热像技术的另一用途是精确检测运行中机器，使机器保持持安全运转状态。
红外热像仪光子探测器的探测机理是光电效应，依据工作模式的不同，它又可进一步分为光电导(photoconductive,PC)探测器、光伏(photovoltaic,PV)探测器、光电子发射(photoemissive,PE)探测器、光电磁(photoelectromagnetic,PEM)探测器和丹倍(Dember)探测器等子类型，其中前两个子类型探测器的发展**强劲、应用*****。常见的IR光子探测器有InGaAs探测器、InSb探测器、HgCdTe探测器、QWIP、QDIP、T2SLS探测器、铅盐探测器以及非本征探测器(主要指BIB探测器)等，不同材料体系工作波长及响应率范围如下图所示：红外热像仪是否可以用于建筑和房屋检测？testo 875-2i红外热像仪操作
考古学家使用红外热像仪探测地下遗迹，无需挖掘即可获取重要信息。靶面式红外热像仪量大从优
由于大尺寸HgCdTe FPA探测器的制作成本居高不下,QWIP FPA探测器被寄予厚望,因而发展迅速｡在LWIR波段,目前QWIP FPA探测器的性能足以与**的HgCdTe相媲美｡QWIP也存在一些缺点:因存在与子带间跃迁相关的基本限制,QWIP需要的工作温度较低(一般低于液氮温度)，QWIP的量子效率普遍很低｡一般而言,PC探测器的响应速度比PV慢,但QWIP PC探测器的响应速度与其它PV红外热像仪相当,所以大规模QWIP FPA探测器也被研制了出来｡与HgCdTe—样,QWIP FPA探测器也是第三代IR成像系统的重要成员,这类探测器在民用与天文等领域都有着大量的使用案例｡靶面式红外热像仪量大从优
