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测量系统基本参数
  • 品牌
  • Brolight
  • 型号
  • Brolight
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博源光电测量系统产品:【BIX-8801,LD/LED光源测量系统】应用于激光二极管测试研究;垂直腔面发射激光器测试;单波长发光二极管测试;宽带光源光谱特性测试研究。【BIX-8805,辐照度测量系统】应用于紫外标准检测计量;LED光辐射安全测量;植物生长/PAR/植物光生物学;紫外线固化系统的表征;光稳定性测量;光谱反射率/吸光度/透过率测量;荧光测量。【SIX-8001,红外辐射测量系统】应用于电路板热分析;微米级元器件检测;材料应力温升分析;化学反应温度分析;化工工艺温度监测。【BIX-8811,反射率测量系统】应用于物质/材料的镜面反射测量;物质/材料的漫反射测量;物质/材料的颜色测量。【BIX-8812,透过率测量系统】应用于滤光片的衰减性能测量;玻璃等材料的透光性能测量;材料对特定波长的吸收性能测量。【BIX-8813,吸光度测量系统】应用于物质的吸光度测量研究、浓度的定量测量、吸收特性测量分析。【BIX-8814,荧光测量系统】应用于生化领域组分分析荧光测量;医药领域的定量分析测量;矿物材料等的荧光光谱特性测量。【BIX-8815,拉曼测量系统】应用于珠宝、文物贵重物品鉴定;药品成分检测分析;瓜果蔬菜等食品快速检测;化工环保监察监测。透过率测量系统对光学仪器镜头镀膜工艺,精确控制膜层透过率。BIX-8814 荧光测量系统厂家直销

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LD/LED 光源测量系统基于光谱分析原理,测量光源光谱特性,用于光学设计。BIX-8814 荧光测量系统厂家直销

红外辐射测量系统

【概述】实际是一套有源热源检测台式红外热像仪,通过热成像及测温技术直观呈现热缺陷或整体温度分布,并可以进行过程监控。通过本系统,可以助力研究电路板热分析、微米级元器件检测、材料应力温升分析、材料热力性能分析、化学反应温度分析、化工工艺温度监测等。

【特点】~桌面在线式设计,着重过程检测和记录。~可调焦式设计,全视距清晰,见微见著。~镜头分辨力50微米,热显微成像。~专业PC端软件,丰富的检测报告内容。

【应用】~电路板热分析。~微米级元器件检测。~材料应力温升分析。~化学反应温度分析。~化工工艺温度监测。 BIX-8814 荧光测量系统厂家直销

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