Co-Aligned HP 凭借全波段覆盖与高精度数据表现,在多个专业领域具备广泛应用前景。其 400-2500nm 的宽光谱范围使其能够精确捕捉不同物质的特征光谱,在树种分类中可有效区分不同植被类型,在高光谱探矿与矿物精细识别中能精确识别矿物成分与分布,在地质灾害调查与火山监测中可及时捕捉地表环境变化。系统的专业适配性不仅体现在硬件配置上,更通过完善的软件支持与校正方案得到强化,3*3m 定标毯与 SpectralView 软件的组合的,确保了数据在不同场景下的可靠性与可比性。无论是科研机构开展矿物填图研究,还是工程团队进行地质灾害应急调查,Co-Aligned HP 都能提供稳定、高精度的高光谱数据支持,成为专业领域不可或缺的监测工具,充分展现了其在复杂应用场景中的强大适配能力。Nano HP 功耗 < 15W,轻量化设计延长无人机续航,适配长时间野外作业。机器视觉高光谱成像仪厂家

Nano HP 配套的三轴稳定云台是其适配性强、操作便捷的关键所在。这款云台重量不足 0.8kg,采用一体化设计,无需复杂的三轴调平衡操作,通电即可投入使用,极大降低了用户的操作门槛。其稳定性经过行业主流无人机的充分验证,无论是大疆 M350、纵横 CW-40 等旋翼无人机,还是各类固定翼无人机,都能实现稳固挂载与精确成像。云台与轻量化的高光谱成像系统配合,使整套设备(含云台)重量小于 1.8kg,完美适配轻小型无人机平台,解决了传统高光谱设备适配难、操作复杂的痛点。在实际作业中,用户无需花费大量时间进行设备调试,可快速开展飞行采集任务,结合推扫式成像的高效性,大幅提升了野外作业的灵活性与时效性,尤其适合对作业效率要求较高的农林监测、水体调查等场景。上海便携式高光谱成像仪源头厂家Co-Aligned HP是一款双探测器,光谱范围覆盖400-2500nm的 全波段机载高光谱成像仪。

Co-Aligned HP 配备 3*3m 的大尺寸反射率定标毯,该定标毯包含三种梯度反射率标准,为辐射校正提供了精确、可靠的参考依据。辐射校正是高光谱数据处理的重要环节,直接影响数据的定量分析精度,Co-Aligned HP 的定标毯尺寸与梯度设计经过专业优化,能够适应不同光照条件下的校正需求,确保在野外作业中快速完成辐射定标。配合 SpectralView 后处理软件,用户可实现批量辐射校正操作,大幅提升数据处理效率。经过校正后的高光谱数据,辐射精度明显提升,不同批次、不同场景下采集的数据具备良好的可比性,能够满足矿物填图、地质灾害动态监测等对数据一致性要求极高的应用场景。这一专业的辐射校正方案,让 Co-Aligned HP 的输出数据具备更强的科学性与实用性,为后续分析决策提供坚实保障。
Co-Aligned HP 的 SWIR 相机搭载 Stirling 制冷型 MCT 传感器,专门针对 900-2500nm 的短波红外波段优化,其 15μm 的像元尺寸确保了良好的探测效率与空间分辨率。MCT(碲镉汞)传感器是短波红外探测的选择,具备高量子效率、宽光谱响应范围等优势,而 Stirling 制冷技术则能有效降低传感器的热噪声,提升探测灵敏度,让相机在短波红外波段能够捕捉到微弱的光谱信号。在矿物识别中,短波红外波段的光谱数据可有效区分不同矿物的振动吸收特征,为矿物填图、高光谱探矿提供重要依据;在地质调查中,能精确识别岩石类型、地层边界;在植被监测中,可反演叶片水分含量、木质素含量等参数。15μm 的像元尺寸平衡了空间分辨率与探测灵敏度,在远距离作业中仍能保持良好的空间细节,让 Co-Aligned HP 的 SWIR 相机在多种场景下都能输出高质量的光谱数据。Nano HP 的 Pitch&Roll 精度 < 0.03°,Heading 精度 0.08°,姿态控制精确。

Co-Aligned HP 采用高度一体化的 Turnkey 解决方案,整体重量 4.0kg,内部集成高光谱成像仪、高精度 GNSS/IMU 模块、嵌入式采集控制模块及 SSD 存储设备,无需用户进行复杂的硬件集成调试。系统配备的三轴稳定云台拆装便捷,支持通电自动调平,可灵活搭载于中小型旋翼无人机、固定翼无人机及无人直升飞机,适配不同作业场景的需求。在数据采集过程中,高光谱数据与姿态信息可同步存储于 SSD 中,确保数据的完整性与时间一致性。用户只需专注于飞行计划制定与后期数据处理,无需投入精力在设备兼容与调试上,大幅降低了操作门槛。此外,系统支持上传 KML 文件并基于地理位置触发采集,进一步提升了作业的精确性与便捷性,尤其适合大规模、高精度的野外作业任务。Co-Aligned HP 适用于矿物填图、火山监测等专业场景,全波段优势突出。武汉高精度高光谱成像仪厂家直销
Nano HP 光谱通道达 340 个,可捕捉植被、水体的精细光谱特征。机器视觉高光谱成像仪厂家
Co-Aligned HP 的重要技术源于 Headwall 公司的 Offner 像差校正型凸面全息反射光栅技术,这一技术与我国 “高分 5 号” 卫星的高光谱成像技术同源,体现了当前高光谱成像领域的先进水平。该技术通过独特的光路设计,能够有效抑制杂散光干扰,减少成像畸变,同时赋予系统极高的热稳定性和信噪比,确保在复杂环境下仍能输出高质量的光谱数据。对于科研用户而言,数据质量直接决定了研究结果的可靠性,Co-Aligned HP 的技术配置恰好满足了科研工作对数据精度、稳定性的严苛要求。无论是实验室的精确分析,还是野外复杂环境下的长期监测,该技术都能为用户提供一致、可靠的高光谱数据,让科研工作者能够专注于数据解读与研究创新,无需担忧设备技术瓶颈带来的限制。机器视觉高光谱成像仪厂家