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光学非接触应变测量基本参数
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光学非接触应变测量企业商机

光学应变测量的历史可追溯至19世纪干涉仪的发明,但其真正从实验室走向工程应用,得益于20世纪中叶激光技术、计算机视觉与数字信号处理的突破。纵观其发展历程,可划分为三个阶段:激光器的出现使高相干光源成为可能,推动了电子散斑干涉术(ESPI)与云纹干涉术的诞生。ESPI通过记录物体变形前后的散斑干涉图,利用条纹分析提取位移场,实现了全场应变测量,但依赖胶片记录与人工判读,效率低下。与此同时,全息干涉术在理论层面证明了光学测量可达波长级精度,却因防振要求苛刻而局限于静态测量。光学非接触应变测量是一种非接触式的测量方法,通过光学原理来测量物体的应变情况。重庆光学数字图像相关技术系统哪里可以买到

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随着计算机图像处理技术的飞速发展,对材料和结构三维信息的提取在工业生产、汽车制造、土木建筑等领域中显得尤为重要。结合光、电、计算机等技术的优点,光学三维应变测量技术达到了非接触性、无破坏性、精度和分辨率高以及测量速度快的特点,在弹性塑性材料等特殊测量领域受到很大的关注。光学非接触应变测量研究和设计一个新产品或制造各种零部件时,掌握所使用材料的特性信息十分关键,这有助于更加可靠、有效地比较塑性材料的差异和优化成形过程。新疆VIC-Gauge 3D视频引伸计应变测量装置光学非接触应变测量技术还可用于测量透明材料的厚度和位置,如玻璃、塑料等。

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光学非接触应变测量和应力测量是两个在工程领域中普遍应用的重要技术。它们之间存在着密切的关联,通过光学非接触应变测量可以间接地获得物体的应力信息。这里将探讨光学非接触应变测量和应力测量的关联,并介绍它们在工程实践中的应用。首先,我们来了解一下光学非接触应变测量的原理。光学非接触应变测量是利用光学原理来测量物体在受力作用下的应变情况。当物体受到外力作用时,其内部会产生应变,即物体的形状和尺寸会发生变化。光学非接触应变测量利用光的干涉原理,通过测量物体表面上的干涉条纹的变化来间接地获得物体的应变信息。通过分析干涉条纹的形态和密度变化,可以计算出物体在不同位置上的应变大小。而应力测量是直接测量物体内部受力状态的一种方法。应力是物体内部的分子间相互作用力,是物体受力状态的直接体现。应力测量可以通过应变测量来实现,即通过测量物体在受力作用下的形变情况来间接地获得物体的应力信息。应力测量的常用方法有应变片法、电阻应变片法等。这些方法通过将应变片或电阻应变片粘贴在物体表面上,当物体受到外力作用时,应变片或电阻应变片会发生形变,通过测量形变的大小和方向,可以计算出物体在不同位置上的应力大小。

随着矿井开采逐渐向深部发展,原岩应力与构造应力不断升高,对于围岩力学性质和地应力分布异常、岩巷的支护设计研究至关重要。研究团队借助XTDIC三维全场应变测量系统,光学非接触应变测量采用相似材料模拟方法,模拟原始应力状态下不同开挖过程和支护作用影响的深部围岩变形破坏特征,对模型表面应变、位移进行实时监测,研究深部岩巷围岩变形破坏过程,分析不同支护设计和开挖速度影响的围岩变形破坏规律,为探索深部岩巷岩爆的发生和破坏规律提供指导依据。进行破坏性实验时,需要使用到非接触式应变测量光学仪器进行高速的拍摄测量。

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针对特殊场景的技术难点,研索仪器推出了一系列专项解决方案。在介观尺度测量领域,µTS 介观尺度原位加载系统填补了纳米压头与宏观加载设备之间的技术空白,通过将 DIC 技术与光学显微镜相结合,可获取 10μm-10mm 尺度下的局部应变场精细数据,为材料微观力学行为研究提供有力工具。面对极端环境测试需求,MML 极端环境微纳米力学测试系统展现出强大的环境适配能力,能够在真空环境下 - 100℃至 1000℃的宽温度范围内稳定工作,实现纳米级力学性能测试,攻克了高温合金、陶瓷等材料在极端条件下的测量难题。光学非接触应变测量认准研索仪器!重庆光学数字图像相关技术系统哪里可以买到

光学非接触应变测量利用光的干涉、散射或吸收特性推断材料的应变情况。重庆光学数字图像相关技术系统哪里可以买到

光学非接触应变测量技术在复杂材料和结构的应变测量中可能面临以下挑战:多层复合材料:多层复合材料具有不同的层间界面和各向异性特性,导致光学测量信号的复杂性和解释困难。非均匀材料:非均匀材料的光学特性可能随位置和方向的变化而变化,导致测量结果的误差和不确定性。材料表面形貌:材料表面的不规则形貌、粗糙度或反射率不均匀等因素可能影响光学测量信号的质量和准确性。应变场分布不均匀:复杂结构中的应变场可能不均匀分布,导致测量点的选择和数据处理的复杂性。为了克服这些挑战,可以采取以下策略来提高测量的准确性和可靠性:校准和验证:在进行复杂材料和结构的应变测量之前,进行充分的校准和验证,建立准确的测量模型和参数。重庆光学数字图像相关技术系统哪里可以买到

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