fluke示波器探针

现在的示波管屏面通常是矩形平面，内表面沉积一层磷光材料构成荧光膜。在荧光膜上常又增加一层蒸发铝膜。高速电子穿过铝膜，撞击荧光粉而发光形成亮点。铝膜具有内反射作用，有利于提高亮点的辉度。铝膜还有散热等其他作用。

当电子停止轰击后，亮点不能立即消失而要保留一段时间。亮点辉度下降到原始值的10％所经过的时间叫做“余辉时间”。余辉时间短于10μs为极短余辉，10μs—1ms为短余辉，1ms—0.1s为中余辉，0.1s-1s为长余辉，大于1s为极长余辉。一般的示波器配备中余辉示波管，高频示波器选用短余辉，低频示波器选用长余辉。

由于所用磷光材料不同，荧光屏上能发出不同颜色的光。一般示波器多采用发绿光的示波管，以保护人的眼睛。 示波器的“触发”就是使得示波器的扫描与被观测信号同步，从而显示稳定的波形。fluke示波器探针

示波器作为电子行业较常用的测量仪器之一，牵涉着大量的图片导入导出，数据处理，自动化操作等等。示波器是利用电子示波管的特性，将人眼无法直接观测的交变电信号转换成图像，显示在荧光屏上以便测量的电子测量仪器。它是观察数字电路实验现象、分析实验中 的问题、测量实验结果必不可少的重要仪器。示波器由示波管和电源系统、同步系统、X轴偏转系统、Y轴偏转系统、延迟扫描系统、标准信号源组成。阴极射线管(CRT)简称示波管，它将电信号转换为光信号。国产示波器批发示波器探头大的方面可以分为：无源探头和有源探头两大类。

示波器是用来显示波形的仪器，显示的是信号电压随时间的变化。因此，示波器是可以用来测量信号的频率，周期，信号的上升沿/下降沿，信号的过冲，信号的噪声，信号间的时序关系等等。

对于比较慢的信号，示波器能够采到足够的采样点来显示波形，而对于比较快的信号（这里的快慢是针对示波器的采样频率来讲的），示波器不能够采到足够的采样点来显示波形。因此，示波器采样一般采用两种方法来对信号采样，一是实时采样，二是等效采样。

通用示波器通过调节亮度和聚焦旋钮使光点直径较小以使波形清晰，减小测试误差;不要使光点停留在一点不动，否则电子束轰击一点宜在荧光屏上形成暗斑，损坏荧光屏。示波器是测试设备，它的带宽应当比被测信号的带宽大，这样才不会失真，不会漏掉你想观察的东西。比如一个方波的频率是一兆赫，它有效的谐波却超过5兆赫，你用一个带宽只有一兆赫的示波器去显示，得到的是一个差不多是正弦波的显示，你用30兆赫的示波器一看，方波就是方波了。大量的高精度产品测量需求对示波器性能的要求越来越高，使得仪器的检定校准要求也不断提升。

采样速率表示的是示波器在一个波形或周期内，采样输入信号的频率。表示为样点数每秒(S/S)。示波器的采样速率越快，所显示的波形的分辨率和清晰度就越高，重要信息和事件丢失的概率就越小。如果需要观测较长时间范围内的慢变信号，则较小采样率就变得较为重要。

计算采样速率的方法取决于所测量的波形类型，以及示波器所采用的信号重构方式。为了准确的再现信号并避免混淆，奈奎斯特定理规定，信号的采样速率必需不小于其频率成分的两倍。

示波器主要适用于基带信号的分析（正弦波，方波，比特流等未调制信号）。福田区新型示波器服务保障

探头是整个示波器测量系统的一部分，会直接影响仪器的信号保真度和测试结果。fluke示波器探针

谈到光接口的时域指标测试，工程师言必称采样示波器（sampling scope）。因为采样示波器拥有不可比拟的信号完整性方面的优势：带宽高、噪声低、量化误差小（垂直分辨率高），美中不足是需要同步触发时钟，以至于光工程师都渐渐遗忘了实时示波器（real-time scope）。又经常有人提问，为什么用示波器看不到晶振引脚上的波形？一个可能的原因就是因为使用的是探头的×1档，这时相当于一个很重的负载(一个示波器探头使用×1档具有上百pF的电容)并联在晶振电路中，导致电路停振了。正确的方法应该是使用探头的×10档。这是使用中应当注意的，即或不停振，也有可能因过度改变振荡条件而看不到真实的波形了。fluke示波器探针

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