半导体材料和元件的测量进行MOS型半导体制造工艺评价时，需要氧化层电容和衬底杂质密度这些参数，这些可从C－Vdc特性的测量结果推导出来。通过提供的直流源，结合各种扫描功能，可以方便地完成C-VDC特性的测量。为了测试晶圆上的半导体器件，需要延伸电缆和探头，仪器的1m/2m/4m延伸电缆选件可将电缆延伸的误差降至极小。各种二极管、三极管、MOS管的分布电容也是本仪器的测试内容。深圳市展荣新精密电子有限公司，专业从事电子变压器、电感线圈、电容电阻等各类元器件测试仪之自主研发、制造和销售。在使用LCR数字电桥时需要注意环境的湿度与温度的把握。梅州lcr性能
LCR数字电桥的常见功能有哪些？BIAS按键，测量电解电容器时要用到2V直流偏压。这可通过按动BIAS键获得。注意：在启用或消除偏压电压后，电桥需要约40秒钟方可恢复。恢复期间，读数显示器上显示出BIAS字符，一旦BIAS字符消失，便可进行正常的测量，不再发生恢复延迟现象。100Hz-1KHz按键，为了充分利用电桥对电感和电容的量程扩展能力，必需选用正确的测量频率。量值高时应在100Hz频率上测量，低量值应在1KHz频率上测量。选择不当时LCR，LCR数字电桥的功能电桥的自动提示系统将通过闪亮频率“100Hz” 或“1KHz”指示LED来建议更改测量频率。惠州高精度lcr经济实用型LCR数字电桥，可以满足一般的测试要求。
对于LCR数字电桥的使用来说，正确的选择所需要的电阻频率很重要。我们需要知道几个选择的规则。电容小于2nF，选择，选择串联1KHz，选用高的测试信号可提高测试精度，同样能量测大于1000μF以上电容。电感小于2mH，用串联1KHz，选择高测试频率可提高测试精度。电感大于200H，并联，120Hz，选择低测试频率可提高测试精度。电阻大于等于 1K Ω，选择并联120Hz(100Hz)，选择低频减少交流影响，选择“并联”，是因为量测过程中出现电抗部份，等效为被测件并联一个电容呈现的高电抗，用并联模式减小这种影响，如果Q＜0.1，已存在小电容影响。
LCR与试样的四端子法:设置**的电压检测电缆，以消除由于测试电缆的串联阻抗所引起的电压降和接触电阻的影响等，是一种减少低阻抗零部件的测量误差的方法。需要考虑由于电缆之间的互电感（M）所产生的影响。如果使用在一个夹子上有2个相互绝缘的电极的开耳芬夹子，那么用2个夹子可以容易地进行4个端子的连接。LCR与试样的四端子对法:对于交流阻抗的测量，与直流测量不同，其特点是不会受到温差电动势的影响。但是，由于电流电缆与电压电缆之间的电磁感应，测量的频率越高，要想测量低阻抗就越困难。对于这个问题，可以利用电缆的屏蔽层，使电流的去路和归路相互重叠，以抑 制磁通量的产生，由此来减少由于电磁感应所引起的残留阻抗。新兴传感器技术作为传感网的基础元件,在今后将有十分广阔的发展前景其中就包含LCR数字电桥.
数字电桥可用于计量测试部门对阻抗量具的检定与传递，以及在一般部门中对阻抗元件的常规测量。很多数字电桥带有标准接口，可根据被测值的准确度对被测元件进行自动分档；也可直接连接到自动测试系统，用于元件生产线上对产品自动检验，以实现生产过程的质量控制。80年代中期，通用的误差低于0.1%的数字电桥有几十种。数字电桥正向着更高准确度、更多功能、高速、集成化以及智能化程度方面发展。深圳市展荣新精密电子有限公司现有的主要产品—电子变压器综合测试系统、精密LCR数字电桥和直流微电阻表等，并代理国内外**品牌的测量仪表。LCR数字电桥是电子元器件设计、检验、质量控制和生产测试强有力的工具。lcr报价
选择LCR数字电桥关心的主要方面：测量准确度，测试信号频率与电平，仪器价位。梅州lcr性能
一般地，LCR数字电桥用于三个方面的目的：首先精确评价元件的性能，保证元件在使用条件下满足要求。为对元件作出精确的评价，需要仪器能提供高准确度、强大的功能，能对元件与多种条件的相关性作出准确的评价。如新元件的研究与开发，计量检定部门作检测、量值传递等。其次元件生产线快速检测或进货检验这种目的对于仪器的测量条件是特定的。如提供快速的分选以提高效率，特定的频率、电平及其它一些所需要的功能等。再而需了解元件的一般性能LCR，选择LCR数字电桥的目的且无快速的分选要求。LCR 数字电桥型号的划分也基本按照这三种要求决定。梅州lcr性能
