陶瓷电容器具有低损耗值的特征，同时其容量、损耗施加之交流信号会产生明显的变化。LCR仪器具有宽频测试能力并可提供良好的准确度，六位分辨率和自动电平控制（ALC）功能等，中以满足陶瓷材料和电容器可靠、准确的测试需要。液晶单元的电容特性测量电容－电压（C－Vac）特性是评价液晶材料性能的主要方法，常规仪器测量液晶单元的C－Vac特性遇到一个问题是极大测试电压不够。使用扩展测量选件可提供分辨率为1%及至高达20Vms的可编程测试信号电平，使它能在良好条件下进行液晶材料的电容特性测量。LCR数字电桥采用先进工艺和高密度电路设计,浓缩大型LCR测试仪的精华,紧凑,小巧。梅州常用lcr电桥
直流偏置源和市场上的直流电源一样吗？(1)直流偏流源是一个恒流源，输出时呈现的分布电容电感应该很小，其大小决定偏流源与LCR测试的带宽，而普通市场上的直流电源没有这些指标。(2)若要将市售的直流电源做成偏流源要加很大的电感器，来提高电源本身交流输出阻抗，该方法在电桥频率大于10KHZ时基本不能实现。直流偏置电流源可以叠加到几安培？直流偏置电流源TH1772B可以叠加到30安培,TH1773和TH1775不能叠加,TH1776可以叠加到40安培。直流偏置电流源在有些频率下为何无法清零?交流输出阻抗频响不一致，在某些频率点可能产生谐振。中山高频lcr报价目前，LCR数字电桥的研发技术还在不断的改进中。
LCR测试仪测试原理：Vx与Vr均是矢量电压表，Rr是理想电阻。LCR测试仪自平衡电桥的意思是：当DUT(Device Under Test)接入电路时，放大器的负反馈配置自动使得OP输入端虚地。Vx准确测定DUT两端电压（DUT的Low电位是0），Vr与Rr测得DUT电流Ix，由此可计算Zx。LCR测试仪提高精度的方法是: 1,Hp,Lp,Hc,Lc尽量接近DUT; 2,减小测试电流Ix的回路面积&磁通量（关键是分析Ix，要配合使用Guard与Cable*小化回路面积);3,使用Gurard与Cable构建地平面中断信号线间的电场连接，虽然会增加信号线的对地电容（对地电容不影响测试结果），但是会减少信号线的互容。Guard与Cable的对地寄生阻抗（Zhg,Zlg) 不影响测试结果，电桥平衡时Zlg的两端电压是0，流向Rr的电流不会被Zlg分流，Zhg的分流作用不影响Hp的电压测量。
一般用户将lcr数字电桥又称这些为：LCR测试仪、LCR电桥、LCR表、LCRMeter等等。可以精确测量大量电子元件：广普的测量对象半导体元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数测量。其它元件：印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估。介质材料：塑料、陶瓷和其它材料的介电常数的损耗角评估。磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估。半导体材料：半导体材料的介电常数，导电率和C-V特性。测量元件、传感器或其他设备的电感、电容、电阻的LCR数字电桥，可根据电容、电感或电阻进行工作。
LCR数字电桥操作面板都有“串联”和“并联”按键供用户选择，这串联和并联不是物理连结，而是内在计算模式的改变，以改变计算模式得到理想的测试精度。理论上电感正弦波激励响应电压超前电流90度，电容电压落后电流90度。实际测量中由于铜阻和各种损耗的存在，超前或落后都小于90度，这种损耗在测量中以副参数出现，电感损失角的正切值的倒数称品质因素Q值。同样电容损失角的正切值称损耗因子DF。LCR数字电桥进行高精度量化，要建立适当的数学模型，经过一些数学运算，得到各种参数值。在整个过程中，把损耗的影响用电阻等效和电感或电容串并联。通过本文的介绍，相信大家对于LCR数字电桥有了一定的了解。梅州常用lcr厂家
根据LCR数字电桥测量流过被测器件的电流(I)、电压(v )、电压与电流的相位角测量结果，可以计算阻抗参数。梅州常用lcr电桥
对于LCR数字电桥的使用来说，正确的选择所需要的电阻频率很重要。我们需要知道几个选择的规则。电容小于2nF，选择，选择串联1KHz，选用高的测试信号可提高测试精度，同样能量测大于1000μF以上电容。电感小于2mH，用串联1KHz，选择高测试频率可提高测试精度。电感大于200H，并联，120Hz，选择低测试频率可提高测试精度。电阻大于等于 1K Ω，选择并联120Hz(100Hz)，选择低频减少交流影响，选择“并联”，是因为量测过程中出现电抗部份，等效为被测件并联一个电容呈现的高电抗，用并联模式减小这种影响，如果Q＜0.1，已存在小电容影响。 梅州常用lcr电桥
