EMI测试场的衰减测试可以由频谱分析仪、适当的天线和射频发射装置来完成。按照FCC和VDE发射说明进行测试的装置必须满足FCC或VDE中指定的相应场地衰减要求。频谱分析仪能用来测试材料、设备屏蔽箱体、甚至较大屏蔽测试室的屏蔽效能。材料样品可以通过横电磁波（TEM）室、频谱分析仪和追随信号发生器测试，测试装置与滤波器衰减测试很相似，只是用TEM波室代替了滤波器。材料样本放在TEM室里测试其频率变化的衰减特性或屏蔽效能。另一种用频谱分析仪测试材料的方法是将材料样本蒙在测试盒的开口上。此时追随信号发生器与一小发射天线相连并放在测试盒的内部。接收天线放在测试盒的外面并与频谱分析仪相连。用材料样本覆盖的测量值之差就是屏蔽效能值。要解决产品上的EMI问题﹐若能在产品设计之初便加以考虑。广东 EMI诊断器件选型
以往我们常看到谈EMI对策离不开屏蔽（Shielding），滤波（Filter），接地（Grounding）﹐对于接地往往一块电路板多已固定﹐而无法再做处理﹐因为这一部份在电路板布线（Layout）时就须仔细考虑﹐若板子已完成则此时可变动的空间就非常小﹐一般方式只能找出噪声小的接地处用较粗的地线连接﹐减低共模（Common mode）噪声。屏蔽所牵涉的材质与花费亦甚高﹐滤波的方式则是常可见Bead电感等﹐往往用了一大堆亦不甚见效﹐何以如此﹐许多时候是我们没有解决其辐射的天线效应。一般而言﹐噪声的能量并不会因加一些对策组件便消失﹐也就是能量不减﹐ 我们所要做的工作是如何避免噪声辐射到空间（辐射测试）或由电源传出（传导测试）。郑州GJB151BEMI诊断测试仪由于属于事后的补救﹐往往投入许多时间与金钱﹐甚而影响了产品上市的时机。
射频泄漏区的信息有利于设备设计的改善。结构设计可以通过衬垫密封、附加屏蔽或一个全新的结构设计来改善。对于勉强可接受的结构设计来说，应特别注意箱体内的电分布情况。例如：数字电路板不应放在靠近易产生射频泄漏的区域。应注意屏蔽效能值不只从发射角度而且从敏感性角度来考虑都是有用的。如果EMI能从箱体出来，同样它也能进入箱体。因此，电路远离射频窗口有助于防止因外界EMI源引起的电路敏感性问题。在大屏蔽间或大屏蔽箱体的屏蔽效能测试中，频谱分析仪是一种重要的测试和诊断工具。
接下来做什么？电源是EMI干扰噪声的主要来源，示波器的电源谐波分析在这类排查工作中很有潜力。我们不久将讨论这一方面的内容。排查EMI是否一致的四种基本方法：全世界几乎所有有关部门都在尝试控制他们国家生产的电子产品产生的有害电磁干扰（EMI）。为了向用户提供一定的保护和安全等级，有关部门都会制订涉及 电子产品设计的非常特殊的一些规则和规定。当然这是好事。但这也意味着为了尽量减少他们的EMI特征并通过官方的EMI认证测试，许多公司必须在产品设计和测试方面花费大量的人力物力。坏消息是，即使采用了好的设计原理、选择了高质量的元件并且仔细地表征了产品，当进行一致性测试时，如果测试并不是所有阶段都进展顺利，那么EMI故障仍有可能影响到产品的发布日程。信号的射频频率是多少？是脉冲式的还是连续的？这些信号特征可以使用基本的频谱分析仪进行监视。
起初接触产品EMI对策修改时﹐会听到很好EMI工程师说把所有EMI对策拿掉﹐就可以通过测试。初听以为是句玩笑话﹐如今回想这是很宝贵的经验谈。而后亦听到许多EMI工程师谈到类似的经验。本文中将举出实际的例子﹐让读者更加了解EMI的对策观念。一般提到如何解决EMI问题﹐大多说是case by case，当然从对策上而言﹐每一个产品的特性及电路板布线（layout）情况不同﹐故无法用几套方法而解决所有EMI的问题﹐但是长久以来﹐我们一直想要把处理EMI问题并做适当的对策﹐另外也提供专业的EMI工程师一种参考方法。在此我们把电磁干扰与对策的一些心得经验整理﹐希望能对读者有些帮助。近场测量是可用于EMI排查的一种测量，因为它不要求测试站点提供专门的条件就能让你查出能量源。江苏GJB151BEMI诊断作用
EMI报告似乎直接提供了有关特定频率点故障的信息，因此事情看起来很简单。广东 EMI诊断器件选型
事实上﹐我们如果把EMI当做一种疾病﹐当然平时的预防保养是很重要的﹐而一旦有疾病则正确的诊断﹐才能得到快速的痊愈﹐没有正确的诊断﹐找不到病症的源头﹐往往事倍功半而拖延费时。故在EMI的问题上﹐常常看到一个EMI有问题的产品﹐由于未能找到造成EMI问题的关键﹐花了许多时间﹐下了许多对策﹐却始终无法解决﹐其中亦不乏专业的EMI工程师。以往谈到EMI往往强调对策方法﹐甚而视许多对策秘决或绝招﹐然而没有正确的诊断﹐而在产品上加了一大堆EMI压制组件﹐其结果往往只会使EMI情况更糟。广东 EMI诊断器件选型
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