电路 板上的组件成为辐射来源，由于所使用的IC或CPU本身在运作时产生很大的辐射﹐使得EMI测试无法通过﹐卵石种情往往在经过（1）﹑（2）﹑（3）的分析后噪声依然存在﹐通常解决的方法不外换一个类似的组件﹐看EMI特性是否会好一些。另外就是电路板重新布线时﹐将其摆放于影响小的位置﹐也就是附近没有I/O Port及连接线等经过﹐当然若情况允许﹐将整个组件用金属外壳包覆（Shielding）也是一种快速有效的方法。由以上的分析介绍我们可以了解﹐造成电磁干扰辐射关键的地方就是电线的问题﹐当有了适当的天线条件存在很容易就产生干扰﹐另外电源线往往亦是造成天线效应的主因 ﹐这是在许EMI对策中容易疏忽的。要解决产品上的EMI问题﹐若能在产品设计之初便加以考虑。上海研发级EMI诊断原理
一个实际使用的设备箱体屏蔽效能测试方法与刚才描述的屏蔽盒测试方法相似，小发射天线放在设备箱体外部而不是屏蔽盒内部。发射天线经箱体屏蔽和未屏蔽的两种情况下，用接收天线和频谱分析仪测得的两者之差即屏蔽效能值。如果设备箱体完全是金属或射频密封，它能够很容易地得到100dB以上的屏蔽效能。然而，通常情况下，屏蔽箱体带有开口，如缝隙、未屏蔽的显示屏、非金属区域以及通风口。如果屏蔽效能值没满足要求，这里就可以使用辐射发射测试中描述的故障诊断和检测方法。浙江仪器仪表EMI诊断频谱仪示波器、频谱分析仪或测试接收机可以从不同角度解决EMI问题。
EMI测试场的衰减测试可以由频谱分析仪、适当的天线和射频发射装置来完成。按照FCC和VDE发射说明进行测试的装置必须满足FCC或VDE中指定的相应场地衰减要求。频谱分析仪能用来测试材料、设备屏蔽箱体、甚至较大屏蔽测试室的屏蔽效能。材料样品可以通过横电磁波（TEM）室、频谱分析仪和追随信号发生器测试，测试装置与滤波器衰减测试很相似，只是用TEM波室代替了滤波器。材料样本放在TEM室里测试其频率变化的衰减特性或屏蔽效能。另一种用频谱分析仪测试材料的方法是将材料样本蒙在测试盒的开口上。此时追随信号发生器与一小发射天线相连并放在测试盒的内部。接收天线放在测试盒的外面并与频谱分析仪相连。用材料样本覆盖的测量值之差就是屏蔽效能值。
EMC测试伴随着产品研制的全过程，众所周知，一个产品的电磁兼容性能是否达标靠什么证明呢？无疑是试验，试验是检验产品性能好坏的单独手段。然而，EMC试验不单单承担对产品性能终检验的任务，在产品设计阶段也需要有辅助试验手段检验每一个设计思想及每一项设计措施是否正确。特别是复杂的电子系统，在方案论证阶段需要制定EMC试验规范，在单机设备初样、正样研制阶段需要对每项EMC指标进行测量，组成系统之后需要进行系统级的EMC测试。系统级EMC测试的目的一方面检验系统自身兼容性，另一方面检验该电子系统与特定的工作环境是否兼容。通常公司为了避免这样的情景出现，会在设计和原型建立阶段做一些“预先的一致性”测量。
设计工程师经常发现新产品设计需要经过多次修改才能达到限值。他们既不拥有EMI诊断诀窍，EMI诊断也不是他们日常责任的一部分。通常，只当设计的电路板几乎完工时才递交给EMC部门或外部实验室做进一步测试。然而，相比早期设计阶段（这时某些设计考虑或许能够妥善处理）修改，在这个阶段做出改动极具挑战性。符合EMC标准的结果在设计上是可控的，能够做出规划，同时也是设计师的责任。解决EMI并非使用什么巫术，也无需时域工程师躲避。使用您熟悉的仪器---示波器，您能够更好地理解EMI问题，以及了解所用解决方案的效果。并不需要完全复制测试室的条件才能排查EMI测试故障。福建芯片EMI诊断辐射发射测试
检查EMI问题与电气 事件的巧合性无疑是EMI排查中耗时间的工作。上海研发级EMI诊断原理
起初接触产品EMI对策修改时﹐会听到很好EMI工程师说把所有EMI对策拿掉﹐就可以通过测试。初听以为是句玩笑话﹐如今回想这是很宝贵的经验谈。而后亦听到许多EMI工程师谈到类似的经验。本文中将举出实际的例子﹐让读者更加了解EMI的对策观念。一般提到如何解决EMI问题﹐大多说是case by case，当然从对策上而言﹐每一个产品的特性及电路板布线（layout）情况不同﹐故无法用几套方法而解决所有EMI的问题﹐但是长久以来﹐我们一直想要把处理EMI问题并做适当的对策﹐另外也提供专业的EMI工程师一种参考方法。在此我们把电磁干扰与对策的一些心得经验整理﹐希望能对读者有些帮助。上海研发级EMI诊断原理
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