通常EMI部门或外部实验室一开始 是使用简单的峰值检测器执行扫描来发现问题区域的。但当所发现的信号超过或接近规定极限时，他们也执行准峰值测量。准峰值是EMI测量标准定义的一种方法，用来检测信号包络的加权峰值。它根据信号的持续时间和重复率对信号进行加权，以便对从广播角度看解释为“干扰”的信号施加更多的权重。与不频发的脉冲相比，发生频率更高的信号将导致更高的准峰值测量结果。换句话说，问题信号发生的越频繁，问题信号的一定幅度就越可能被准峰值测量所屏蔽。待测设备（DUT）可能放在一个转盘上，以 便于从多个角度收集信号。郑州研发级EMI诊断器件选型
测试室为出EMI报告而开展的扫描通常是在特殊条件下进行的，你的公司实验室也许无法复制这些条件。举例来说，待测设备（DUT）可能放在一个转盘上，以 便于从多个角度收集信号。这种方位角信息是很有用的，因为它能指示问题发生的DUT区域。或者EMI测试室可能在校准过的射频房内开展他们的测量，并报告作为强场的测量结果。幸运的是，你并不需要完全复制测试室的条件才能排查EMI测试故障。与在高度受控的EMI测试线上执行的一定测量不同，可以使用测试报告中的信息、深入理解用于产生报告的测量技术以及对待测设备周边的相对观察以隔离问题源并估计纠正有效性来开展问题的排查工作。山东消费电子EMI诊断频率准峰值以便对从广播角度看解释为“干扰”的信号施加更多的权重。
EMI测试场的衰减测试可以由频谱分析仪、适当的天线和射频发射装置来完成。按照FCC和VDE发射说明进行测试的装置必须满足FCC或VDE中指定的相应场地衰减要求。频谱分析仪能用来测试材料、设备屏蔽箱体、甚至较大屏蔽测试室的屏蔽效能。材料样品可以通过横电磁波（TEM）室、频谱分析仪和追随信号发生器测试，测试装置与滤波器衰减测试很相似，只是用TEM波室代替了滤波器。材料样本放在TEM室里测试其频率变化的衰减特性或屏蔽效能。另一种用频谱分析仪测试材料的方法是将材料样本蒙在测试盒的开口上。此时追随信号发生器与一小发射天线相连并放在测试盒的内部。接收天线放在测试盒的外面并与频谱分析仪相连。用材料样本覆盖的测量值之差就是屏蔽效能值。
机器外部连接之电缆成为辐射天线：由于机器本身外部所连接的电缆成为天线效应﹐将噪声辐射到空间﹐此时噪声的大小和电缆的长度有关﹐因电缆的天线效应相对于噪声半波长时共振情形会很大﹐也往往是造成EMI无法通过测试。在解决这个问题前必须要做一些判断﹐否则很容易疏忽而浪费时间。噪声是由机器内部电路板或接地所产生，此情形为将电缆取下﹐或加一Core则噪声减低或消失。此时必须做的一个步骤是将线靠近机器（不须直接连接）看噪声是否会存在﹐若噪声并没有升高﹐则可确实判定由机器内部产生﹐若将电缆靠近而干扰噪声马上升高。更好的做法是在产品发出去做一致性测试之前就能够确定和修复潜在的EMI问题。
我们将初步的诊断步骤详列于下﹐并加以说明其关键点﹐这些步骤看来似乎非常平凡简单﹐不像介绍对策方法各种理论秘籍绝招层出不穷﹐变化奥妙。其实﹐许多很好EMI工程师在其对策处理时﹐大部份的时间都在重复这些步骤与判断。笔者要再次强调﹐只有真正找到造成EMI问题的关键﹐才是解决EMI的好的途径﹐若只凭理论推测或经验判断﹐有时反而会花费更多的时间和精力。将桌子转到待测（EUT）很大发射的位置﹐初步诊断可能的原因﹐并关掉EUT电源加以确认。电源是EMI干扰噪声的主要来源，示波器的电源谐波分析在这类排查工作中很有潜力。郑州研发级EMI诊断器件选型
在同一台仪器上问时域和频域为快速分析有害辐射创造了条件。郑州研发级EMI诊断器件选型
事实上﹐我们如果把EMI当做一种疾病﹐当然平时的预防保养是很重要的﹐而一旦有疾病则正确的诊断﹐才能得到快速的痊愈﹐没有正确的诊断﹐找不到病症的源头﹐往往事倍功半而拖延费时。故在EMI的问题上﹐常常看到一个EMI有问题的产品﹐由于未能找到造成EMI问题的关键﹐花了许多时间﹐下了许多对策﹐却始终无法解决﹐其中亦不乏专业的EMI工程师。以往谈到EMI往往强调对策方法﹐甚而视许多对策秘决或绝招﹐然而没有正确的诊断﹐而在产品上加了一大堆EMI压制组件﹐其结果往往只会使EMI情况更糟。郑州研发级EMI诊断器件选型
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