由于EMI测试上﹐EUT必须转360度而天线由1m到4m变化﹐其目的是要记录辐射很大的情况。同样地﹐当我们发现无法通过测试时﹐首先我们先将天线位置移到噪声接收很大高度﹐然后将桌子转到差角度﹐此时我们知道在EUT面对天线的这一面辐射强﹐故可以初步推测可能的原因﹐如此处屏蔽不佳或靠近辐射源或有电线电缆经过等。另外须注意的是要关掉EUT的电源﹐看噪声是否存在﹐以确定噪声确实是由EUT所产生。曾见测试Monitor一直无法解决某一点的干扰﹐结果其噪声是由PC所造成而非Monitor的问题﹐亦有在OPEN SITE测试Monitor发现某几点无法通过﹐由测试接收仪器的声音判断应是Monitor产生﹐结果关掉电源发现噪声依然存在﹐所以关掉EUT电源的步骤是必须的﹐而且通常容易被忽略。由于每台新被测设备都不同，根据EMI信号特征选择正确的工具以及识别辐射源十分重要。浙江 EMI诊断标准
当设备完全符合有关的规定后,如果为了降低产品成本,减少不必要的器件或设计,可以将先前诊断过程中所采取的措施逐个去掉。首先应该考虑去掉的是成本较高的器件或材料,以及在正式产品上难以实现的措施。如果去掉后,产品的辐射发射并没有超标,那么就可以去掉这个措施。然后通过测试,使产品成本降到低。EMI诊断是设计阶段的主要测试手段产品的设计阶段需要EMC测试。EMC试验可分为规范的EMC测试和EMI诊断。EMC测量必须根据设备类型及使用范围，按标准规定的测量要求，在标准实验室采取规范的测量方法完成数据采集。上海可视化EMI诊断元器件近场探针实际上就是设计用于拾取磁场（H场）或电场（E场）变化的天线。
MIL-STD-285和NSA65-6是两种常用的屏蔽效能标准，其测试目的类似于设备箱体的屏蔽效能测试，只不过它是在一个较大规模上进行罢了。测试要求通常会用到磁场、电场、平面波和微波发射接收设备；被测的频率范围从几十Hz到几十GHz；可能会要求屏蔽效能值大于100dB。近场探头和天线与频谱分析仪一起用于标定射频泄漏区域，就象在一个物理小规模上测试电子设备所做的一样。在这里会碰到许多同样的问题，通常的射频泄漏区域为错误的导电封装、衬垫、滤波器以及很可怕的“暗道”。所谓“暗道”指的是箱体外部的一个射频泄漏点在箱体内部的一个不同点上引起了射频泄漏。在短波频率上定位“暗道”是一项极具挑战性的工作。
EMC测试伴随着产品研制的全过程，众所周知，一个产品的电磁兼容性能是否达标靠什么证明呢？无疑是试验，试验是检验产品性能好坏的单独手段。然而，EMC试验不单单承担对产品性能终检验的任务，在产品设计阶段也需要有辅助试验手段检验每一个设计思想及每一项设计措施是否正确。特别是复杂的电子系统，在方案论证阶段需要制定EMC试验规范，在单机设备初样、正样研制阶段需要对每项EMC指标进行测量，组成系统之后需要进行系统级的EMC测试。系统级EMC测试的目的一方面检验系统自身兼容性，另一方面检验该电子系统与特定的工作环境是否兼容。通常EMI部门或外部实验室一开始是使用简单的峰值检测器执行扫描来发现问题区域的。
通常EMI部门或外部实验室一开始 是使用简单的峰值检测器执行扫描来发现问题区域的。但当所发现的信号超过或接近规定极限时，他们也执行准峰值测量。准峰值是EMI测量标准定义的一种方法，用来检测信号包络的加权峰值。它根据信号的持续时间和重复率对信号进行加权，以便对从广播角度看解释为“干扰”的信号施加更多的权重。与不频发的脉冲相比，发生频率更高的信号将导致更高的准峰值测量结果。换句话说，问题信号发生的越频繁，问题信号的一定幅度就越可能被准峰值测量所屏蔽。大多数公司的实验室并不具备做一定EMI测量所需的测试室条件。广东GJB151BEMI诊断测试仪
在同一台仪器上问时域和频域为快速分析有害辐射创造了条件。浙江 EMI诊断标准
为了确定一块特定电路板上的能量源以及位于特定EMI问题中心的天线，你需要检查被观察信号的周期。信号的射频频率是多少？是脉冲式的还是连续的？这些信号特征可以使用基本的频谱分析仪进行监视。你还需要查看巧合性。待测设备（DUT）上的哪个信号与EMI事件是同时发生的？一般常见的做法是用示波器探测DUT上的电气信号。检查EMI问题与电气 事件的巧合性无疑是EMI排查中耗时间的工作。过去，将来自频谱分析仪和示波器的信息以同步方式关联在一起一直是很难做的一件事。浙江 EMI诊断标准
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