EMI测试场的衰减测试可以由频谱分析仪、适当的天线和射频发射装置来完成。按照FCC和VDE发射说明进行测试的装置必须满足FCC或VDE中指定的相应场地衰减要求。频谱分析仪能用来测试材料、设备屏蔽箱体、甚至较大屏蔽测试室的屏蔽效能。材料样品可以通过横电磁波（TEM）室、频谱分析仪和追随信号发生器测试，测试装置与滤波器衰减测试很相似，只是用TEM波室代替了滤波器。材料样本放在TEM室里测试其频率变化的衰减特性或屏蔽效能。另一种用频谱分析仪测试材料的方法是将材料样本蒙在测试盒的开口上。此时追随信号发生器与一小发射天线相连并放在测试盒的内部。接收天线放在测试盒的外面并与频谱分析仪相连。用材料样本覆盖的测量值之差就是屏蔽效能值。问题信号发生的越频繁，问题信号的一定幅度就越可能被准峰值测量所屏蔽。广州GB9254EMI诊断辐射发射测试
由于EMI测试上﹐EUT必须转360度而天线由1m到4m变化﹐其目的是要记录辐射很大的情况。同样地﹐当我们发现无法通过测试时﹐首先我们先将天线位置移到噪声接收很大高度﹐然后将桌子转到差角度﹐此时我们知道在EUT面对天线的这一面辐射强﹐故可以初步推测可能的原因﹐如此处屏蔽不佳或靠近辐射源或有电线电缆经过等。另外须注意的是要关掉EUT的电源﹐看噪声是否存在﹐以确定噪声确实是由EUT所产生。曾见测试Monitor一直无法解决某一点的干扰﹐结果其噪声是由PC所造成而非Monitor的问题﹐亦有在OPEN SITE测试Monitor发现某几点无法通过﹐由测试接收仪器的声音判断应是Monitor产生﹐结果关掉电源发现噪声依然存在﹐所以关掉EUT电源的步骤是必须的﹐而且通常容易被忽略。天津新能源汽车EMI诊断辐射发射测试准峰值以便对从广播角度看解释为“干扰”的信号施加更多的权重。
故在EMI的问题上﹐常常看到一个EMI有问题的产品﹐由于未能找到造成EMI问题的关键﹐花了许多时间﹐下了许多对策﹐却始终无法解决﹐其中亦不乏专业的EMI工程师。以往谈到EMI往往强调对策方法﹐甚而视许多对策秘决或绝招﹐然而没有正确的诊断﹐而在产品上加了一大堆EMI压制组件﹐其结果往往只会使EMI情况更糟。起初接触产品EMI对策修改时﹐会听到很好EMI工程师说把所有EMI对策拿掉﹐就可以通过测试。初听以为是句玩笑话﹐如今回想这是很宝贵的经验谈。而后亦听到许多EMI工程师谈到类似的经验。本文中将举出实际的例子﹐让读者更加了解EMI的对策观念。
一个实际使用的设备箱体屏蔽效能测试方法与刚才描述的屏蔽盒测试方法相似，小发射天线放在设备箱体外部而不是屏蔽盒内部。发射天线经箱体屏蔽和未屏蔽的两种情况下，用接收天线和频谱分析仪测得的两者之差即屏蔽效能值。如果设备箱体完全是金属或射频密封，它能够很容易地得到100dB以上的屏蔽效能。然而，通常情况下，屏蔽箱体带有开口，如缝隙、未屏蔽的显示屏、非金属区域以及通风口。如果屏蔽效能值没满足要求，这里就可以使用辐射发射测试中描述的故障诊断和检测方法。测试室为出EMI报告而开展的扫描通常是在特殊条件下进行的。
将探头放在振荡部件的上方，频谱分析仪上将显示大量的振荡频率谐波。如果电路经过屏蔽、滤波并且其导线很短，这将不成问题。对于一个产品，工程师一般关注以下几个方面：导线是否较长、带状线缆是否未经屏蔽、是否存在接地回路、视频电路是否未经屏蔽、导线在输出端是否未经滤波、或导线是否靠近箱体接缝。诊断出问题区域后，就可进行修补措施：通常是综合运用屏蔽、滤波、接地和搭接。频谱分析仪另一个重要诊断用途是确定发射的特性。例如：一个信号根据它被确定为宽带或窄带的不同而选用不同的限值。由于每台新被测设备都不同，根据EMI信号特征选择正确的工具以及识别辐射源十分重要。上海GJB151BEMI诊断测试设备
通过EMI测试﹐而使设计工程师花费许多时间和精力投入EMI的修改。广州GB9254EMI诊断辐射发射测试
噪声是由机器内部耦合到电缆线上﹐而使电缆成为辐射天线。这一点是许多测试工程师容易忽略的。此情形如（a）中所提到的﹐只要将一条电缆靠近﹐则可从频谱上看到噪声立刻升高﹐此表示噪声已不单纯是由线上所辐射出﹐而是机器本身的噪声能量相当大﹐一旦有天线靠近则立刻会耦合至天线而辐射出来。在实际测试中﹐我们发现许多通讯产品有这类情形发生﹐此时若单纯用Core或Bead去处理﹐并不能真正的解决问题。机器内部的引线﹐连接线成为辐射天线，由于许多产品内部常有一些电线彼此连接工作厅﹐当这些线靠近噪声源很容易成为天线﹐将噪声辐射出去。针对此点的判断﹐在200MHz以下之噪声﹐我们可以在线上加一Core来判断噪声是否减低﹐而对于200MHz以上之高频噪声﹐我们可以将线的位置做前后左右的移动﹐看噪声是否会增大或减小。广州GB9254EMI诊断辐射发射测试
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