EMI测试场的衰减测试可以由频谱分析仪、适当的天线和射频发射装置来完成。按照FCC和VDE发射说明进行测试的装置必须满足FCC或VDE中指定的相应场地衰减要求。频谱分析仪能用来测试材料、设备屏蔽箱体、甚至较大屏蔽测试室的屏蔽效能。材料样品可以通过横电磁波（TEM）室、频谱分析仪和追随信号发生器测试，测试装置与滤波器衰减测试很相似，只是用TEM波室代替了滤波器。材料样本放在TEM室里测试其频率变化的衰减特性或屏蔽效能。另一种用频谱分析仪测试材料的方法是将材料样本蒙在测试盒的开口上。此时追随信号发生器与一小发射天线相连并放在测试盒的内部。接收天线放在测试盒的外面并与频谱分析仪相连。用材料样本覆盖的测量值之差就是屏蔽效能值。待测设备（DUT）可能放在一个转盘上，以 便于从多个角度收集信号。广州芯片EMI诊断方法
EMI电磁干扰场地勘测：便携式的频谱分析仪与宽带天线的组合在探测电磁干扰过程中特别有用。在1KHz～1GHz之间的辐射电磁干扰探测只用一台频谱分析仪和一根天线就可完成。不同地理位置环境干扰的勘测有助于确定好的的EMI开阔测试场地。勘测的信息也可用于确定安置EMI敏感校验或设计组的好的位置。大多数情况下，来自建筑物外小的环境电磁干扰区域趋于建筑物的中间。对于多层建筑物，地下室或较低楼层通常具有小的环境电磁干扰。频谱分析仪在电磁敏感度测试过程中用于监视被测设备上的传导或辐射发射电平。山东通用EMI诊断方法示波器是硬件设计工程师常用的仪器，它增强了研发阶段的EMI排查能力。
近场测量是可用于EMI排查的一种测量，因为它不要求测试站点提供专门的条件就能让你查出能量源。然而，一致性测试是在远场中进行的，而不是近场。你通常不会使用远场，因为有太多的变量让它变得复杂起来：远场信号的强度不只取决于源的强度，而且取决于辐射机制以及可能采取的屏蔽或滤波措施。根据经验需要记住，如果你能观察远场中的信号，那么应该能看到近场中的相同信号。（然而，能观察到近场中的信号而看不到远场中的相同信号是很可能的）近场探针实际上就是设计用于拾取磁场（H场）或电场（E场）变化的天线。一般来说，近场探针没有校准数据，因此它们适合用于相对测量。
很多公司发现他们的电子产品在上架销售前常常栽倒在之后一关，即符合EMC要求。这使他们认识到在早期设计阶段重视预测试和EMI诊断的重要性，以尽量减小测试不合格的影响——重新设计和设备召回，以及延迟产品上市。等到开发期结束才去了解产品是否能够通过一致性测试是一场豪赌，因为每次改进涉及的开发成本会以指数规律攀升。因此，通过试产原型机，甚至早在研发阶段，从设计调研上排查EMI日益重要。对问题电路板进行实验，并采取预防措施是能够为设计带来便利。混合域示波器（MDO）将频谱分析仪、示波器和逻辑分析仪组合在一台仪表内。
如果设备没有通过EMC测试，我们从测量结果中，只能知道哪些频率点“超标”了，而这些频率的电磁干扰是从哪里出来的，往往是工程师门不容易发现、难解决的问题。 EMI快速诊断方法就是针对EUT的原理，先推断引起EMI的原因和内部干扰源可能是什么，再根据EMI产生的途径和机理，透过测试图，分析超差原因；必要时,辅以高频示波器或频谱仪，从频域到时域，寻找产生EMI问题的对应电路和器件；从而制定EMI對策。对策- 显示器使用带磁环类型的信号电缆和电源电缆, 电源输入端串接差模线圈，电源地线剪短就近接地。通常公司为了避免这样的情景出现，会在设计和原型建立阶段做一些“预先的一致性”测量。江苏电磁EMI诊断测试设备
电磁干扰的观念与防制﹐在国内已逐渐受到重视。广州芯片EMI诊断方法
理解EMI报告在讨论排查技术之前，介绍一下EMI测试报告是很有必要的。乍一看，EMI报告似乎直接提供了有关特定频率点故障的信息，因此事情看起来很简单，就是使用报告中的数据确定设计中的哪个元件包含问题源频率，并特别加以注意，以便通过下一轮测试。然而，虽然许多测试条件在报告中是明确表示的，但一些需要考虑的重要事情可能并不那么明显。在审查设计并试图判断问题源时，理解测试室如何生成这种报告是很有帮助的。需要记住的一个好规则是，准峰值检测值总是小于或等于峰值检测值，永远不会大于峰值检测值。因此你可以使用峰值检测来开展你的EMI排查和诊断。你不需要达到与EMI部门或实验室扫描同等程度的精度，因为测量都是相对值。如果你的实验室报告中的准峰值检测值表明，设计超过了3dB，峰值检测值超过了6dB，那么你就知道你需要的修复工作是将信号减小3dB或更多。广州芯片EMI诊断方法
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