各种接头如Keyboard及Power supply常常由于接头的插头与机器上的插座间的密合度不好﹐影响了干扰噪声的辐射。检查的方式可将接头拔掉看噪声是否减小﹐减小表示两种册可﹐一为线上本身辐射干扰﹐另一为接头间接触不好﹐此时插上接头﹐用手销微将接头端左右摇动﹐看噪声是否会减小或消失﹐若会减小可将Keyboard或Power supply的连接头﹐用铜箔胶带贴一圈﹐以增加其和机器接头的密合度﹐这一点也是实测上很容易被疏忽﹐而会误判机器的EMI为何每次测时好时坏﹐或花许多时间在其它的对策上面。理解EMI报告在讨论排查技术之前，介绍一下EMI测试报告是很有必要的。上海GJB151BEMI诊断方法
如果设备没有通过EMC测试，我们从测量结果中，只能知道哪些频率点“超标”了，而这些频率的电磁干扰是从哪里出来的，往往是工程师门不容易发现、难解决的问题。 EMI快速诊断方法就是针对EUT的原理，先推断引起EMI的原因和内部干扰源可能是什么，再根据EMI产生的途径和机理，透过测试图，分析超差原因；必要时,辅以高频示波器或频谱仪，从频域到时域，寻找产生EMI问题的对应电路和器件；从而制定EMI對策。对策- 显示器使用带磁环类型的信号电缆和电源电缆, 电源输入端串接差模线圈，电源地线剪短就近接地。浙江可视化EMI诊断方法由于每台新被测设备都不同，根据EMI信号特征选择正确的工具以及识别辐射源十分重要。
我们将初步的诊断步骤详列于下﹐并加以说明其关键点﹐这些步骤看来似乎非常平凡简单﹐不像介绍对策方法各种理论秘籍绝招层出不穷﹐变化奥妙。其实﹐许多很好EMI工程师在其对策处理时﹐大部份的时间都在重复这些步骤与判断。笔者要再次强调﹐只有真正找到造成EMI问题的关键﹐才是解决EMI的好的途径﹐若只凭理论推测或经验判断﹐有时反而会花费更多的时间和精力。将桌子转到待测（EUT）很大发射的位置﹐初步诊断可能的原因﹐并关掉EUT电源加以确认。
射频泄漏区的信息有利于设备设计的改善。结构设计可以通过衬垫密封、附加屏蔽或一个全新的结构设计来改善。对于勉强可接受的结构设计来说，应特别注意箱体内的电分布情况。例如：数字电路板不应放在靠近易产生射频泄漏的区域。应注意屏蔽效能值不只从发射角度而且从敏感性角度来考虑都是有用的。如果EMI能从箱体出来，同样它也能进入箱体。因此，电路远离射频窗口有助于防止因外界EMI源引起的电路敏感性问题。在大屏蔽间或大屏蔽箱体的屏蔽效能测试中，频谱分析仪是一种重要的测试和诊断工具。通常EMI部门或外部实验室一开始是使用简单的峰值检测器执行扫描来发现问题区域的。
测试室为出EMI报告而开展的扫描通常是在特殊条件下进行的，你的公司实验室也许无法复制这些条件。举例来说，待测设备（DUT）可能放在一个转盘上，以 便于从多个角度收集信号。这种方位角信息是很有用的，因为它能指示问题发生的DUT区域。或者EMI测试室可能在校准过的射频房内开展他们的测量，并报告作为强场的测量结果。幸运的是，你并不需要完全复制测试室的条件才能排查EMI测试故障。与在高度受控的EMI测试线上执行的一定测量不同，可以使用测试报告中的信息、深入理解用于产生报告的测量技术以及对待测设备周边的相对观察以隔离问题源并估计纠正有效性来开展问题的排查工作。待测设备（DUT）可能放在一个转盘上，以 便于从多个角度收集信号。江苏PCB板EMI诊断器件选型
并不需要完全复制测试室的条件才能排查EMI测试故障。上海GJB151BEMI诊断方法
当设备完全符合有关的规定后,如果为了降低产品成本,减少不必要的器件或设计,可以将先前诊断过程中所采取的措施逐个去掉。首先应该考虑去掉的是成本较高的器件或材料,以及在正式产品上难以实现的措施。如果去掉后,产品的辐射发射并没有超标,那么就可以去掉这个措施。然后通过测试,使产品成本降到低。EMI诊断是设计阶段的主要测试手段产品的设计阶段需要EMC测试。EMC试验可分为规范的EMC测试和EMI诊断。EMC测量必须根据设备类型及使用范围，按标准规定的测量要求，在标准实验室采取规范的测量方法完成数据采集。上海GJB151BEMI诊断方法
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