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近红外分析仪基本参数
  • 品牌
  • 赛默飞世尔
  • 型号
  • 齐全
  • 类型
  • 红外紫外拉曼光谱仪
近红外分析仪企业商机

Antaris系列傅里叶近红外分析主要点:

相同的资格认证工具和程序:


包括完整的 DQ、IQ、OQ 和 PQ 文档和程序

自动执行美国药典(USP)和欧洲药典(PhEur)标准的性能测试程序

包括**完整的算法认证程序和文档

节省成本、简化操作、标准化

相同的工业设计标准:



所有仪器专为工业环境下特定任务的样品分析而设计

RESULT 软件的结构化设计程序能够保证样品分析和数据处理过程任意的按用户所需要的方式运行

集成**完备的过程通讯技术和工具,包括 OPC、PLC 等

用户自己可进行、低成本的系统维护

相同的技术支持计划:



提供从方案确立、实验设计、模型方法建立、系统维护等全程的全球标准应用技术支持

在北京、上海建有世界前列的客户演示中心和培训基地


可同时集成透射、反射、漫透射、光纤探头等检测模块,任何状态的样品均可以方便得到快速、精确的检测分析。广东进口近红外分析仪供应商

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Antaris MX At-Line 现场分析系统技术特征:

• SabIR 漫反射光纤探头通过扳机激发数据采集,样品检测更方便;蓝宝石窗口,耐机械摩擦;可直接透过包装材料对样品进行检测;

• 真正的多通道同步检测系统,内部预置背景通道,背景与样品完全实时同步检测,数据更准确,可以“忘掉背景”;

• 完善的资格认证文档(DQ, IQ, OQ 和PQ),一步完成的自动性能认证程序;

•选择集成的平板计算机、无线通讯技术,及紧凑的尺寸使其能够轻而易举地在不同场所进行流动检测。


新疆Antaris II近红外分析仪多少钱仓库、生产现场等工业环境样品现场分析。

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Antaris II 采样附件

样品杯旋转器:

• 用于积分球漫反射采样模块,采集不均匀样品的平均光谱信息

• 两种型号:4.78cm 和 12cm

• 其它各种型号样品杯和固定器

透射采样附件:

• 不仅可用于分析液体样品,还可用于分析透明包装材料、薄膜等固体样品;

• 计算机控制自动 3 位样品穿梭装置,拥有两个样品分析位置,内置背景采集光路,自动扫描背景而无需取离样

品;

•适应光程0.5-10mm的样品池,而不需更换样品池支架;

• 可选内部温控 ( 室温 -100℃ );也可选择外部加热器

防爆环境下的在线检测:

Antaris EX Process Analyzer


应用于工业防爆环境下的仪器、仪表应满足现场防爆等级要求;Antaris EX 过程分析仪专为此类应用度身定制。

“忘掉背景”

Antaris EX 与 MX 一样,是目前市场上***能够真正实

• 现多通道同步检测、背景和样品光谱同步采集的近红外过程分析系统。整个检测过程中可以“忘掉背景”;无机械切换;无时间延迟;

• 每个通道具备相互**的高灵敏度 InGaAs 检测器,很大程度上保证了检测结果的可靠性,将故障率降低到**小。

Antaris EX 过程分析仪集成一整套完整的保护、计算、通讯和多通道同时测量系统。


通过精密的制造工艺保证系统间硬件性能指标高度重复,**小化系统误差。

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过程通讯和控制技术


基于 RESULT 软件平台的 Antaris 系列近红外过程分析仪除能够在本地显示过程变化趋势外,具备将检测数据实时传递到监控服务器以反映过程变化趋势,或者将检测数据报告给控制系统以进行反馈控制的所有过程通讯工具和技术。

RESULT 软件中集成了工业标准的 OPC 技术,能够与控制系统进行实时通讯并接受指令。Antaris 同时可以提供一个完整的可配置用于实现测定数据模拟或数字输出的 I/O 控制系统。这些工具集成于整套 Antaris过程分析系统中,保证**完备的性能,降低实施成本。


光谱数据更精确,建模需要的标准样品相对较少, 建模过程更容易,模型更稳定。湖南近红外分析仪厂家供应

以比较低的使用成本、培训成本、认证成本和系统维护成本,为企业带来比较高的投资回报率。广东进口近红外分析仪供应商

Antaris MX On-Line 在线分析系统

• 多通道多个检测器,同时监控生产流程的多个控制点;

• 采用 ParaLuxTM NIR Illumination 系统,多通道完全同步检测;通道间无机械切换,避免使用移动部件带来的时间延迟和机械误差;

• 自动内置背景采集,无需占用外部光纤通道,也无须将光纤探头取离检测点去采集背景;

• 在任何样品采集条件下,背景光谱和样品均能同时采集,比较大限度的提高检测结果的准确性、重现性和稳定性;

• 系统能够自动执行性能资格认证(按美国药典 USP<1119> 标准),无需占用外部光纤通道;

• 通过 OPC、4-20mA 和 / 或数字 I/O 与过程控制系统进行通讯。


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近红外分析仪是一种用于工程与技术科学基础学科领域的物理性能测试仪器,于2010年12月15日启用。
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