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  • 薄膜发射率测量仪特性,发射率测量仪
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发射率测量仪基本参数
  • 品牌
  • DS
  • 型号
  • AE1/RD1
  • 类型
  • 材料检测
发射率测量仪企业商机

满足《ASTMC1371》《JG_T235-2014建筑反射隔热涂料》《GBT25261-2010建筑用反射隔热涂料》等规程要求。把该仪器放在高发射率标准体(近似黑体)上,设定RD1来表示发射率标准参数;然后仪器就会根据这个标准,计算并直接读出RD1上该被测目标的发射率。AE1测量样品**小直径为2.25英寸(5.7cm)。可选附件AE-AD1和AE-AD3探测头能使测量样品**小直径为1.0英寸(2.54cm),可以为圆柱形表面和几乎任何几何形状面需求的客户提供定制探头。对小直径圆柱形面样品测量,可以测量平行放置的多个样品。如需定制测量头,请来电垂询价格!发射率测量仪测量时间:10 s。薄膜发射率测量仪特性

发射率测量仪

    校准AE1/RD11.设置RD1到“变量”.(downfromtheoffposition)把RD1表头数值调到,2.把一个高发射率标定块放在其中一个测量台上,另一个低发射率放在另一个测量台上。把标定块放上测量台之前请在测量台上滴几滴水,确保有足够的水来填满样本和散热器之间的间隙,但是也不能太多,太多的话会流到样品和探测器里面。3.把探头放在高发射率标定块上,然后等60~90s直至RD1上的读数稳定。然后调节RD1上的旋钮直至该显示的数值和我们提供给您的高发射率标定块的具体发射率数值相同,我们的标定块的具体发射率数值有写在它的反面同时在其校准证书中也有。4.把探头放在低发射率标定块上,然后等60~90s直至RD1上的读数稳定。然后用我们提供给您的小螺丝到调节探头上的微调螺丝,使RD1表头上显示的数值直至我们提供给您的低发射率标定块数值相同,我们的标定块的具体发射率数值有写在它的反面同时在其校准证书中也有。 涂层发射率测量仪代理商D&S的标度数字电压表RD1是AE1发射率仪读数器,RD1通过可调旋钮来设定电压读数和发射率标准体的电压一致。

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AE1/RD1发射率测量仪可以用于哪些行业首先一大行业就是建筑隔热涂料行业,建筑隔热涂料发射率是产品质量的重要管控指标,所以建筑隔热涂料发射率测量是必不可少的。像航天、纺织行业也会有用到。AE1/RD1发射率测量仪组成部分AE1测量头、两个高发射率标定块、两个低发射率标定块、热沉装置、小目标适配器(含铝配件)、大曲率测量适配器、通用100/240v50~60Hz电缆和电源、标准模块化电源线、数字显示仪表RD1、手提箱、CD。上海明策给您介绍。

    进行发射率测量1.将探头放到高放射率标定块的位置,然后等RD1显示的发射率数值稳定下来;并确保RD1在“变量variable”模式下2.把探头移动到被测样品上然后等待RD1的显示数值趋于稳定。此时显示的数值就是该样品发射率,不需要进行任何计算3.当测量未知样品时,一般我们都是采用高发射率标准块来校验下RD1,然后再测样品的发射率;当然设计其他一些特殊样品,我们有其他的一些对应方法,详情敬请咨询上海明策。进行发射率测量1.将探头放到高放射率标定块的位置,然后等RD1显示的发射率数值稳定下来;并确保RD1在“变量variable”模式下2.把探头移动到被测样品上然后等待RD1的显示数值趋于稳定。此时显示的数值就是该样品发射率,不需要进行任何计算3.当测量未知样品时,一般我们都是采用高发射率标准块来校验下RD1,然后再测样品的发射率;当然设计其他一些特殊样品,我们有其他的一些对应方法。 操作简单:探测器采用电加热设计,无须加热样品,也不需要测量温度。

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反射率测量仪则拥有六个经过高精度标定的探测器来对应不同的光谱范围,通过创建一个自定义加权法来配置每个仪器,从而尽量减少不同仪器的变化影响结果,内部卤钨灯对样品孔处的样品提供漫照射,反射光能在与正常情况下成20°角被检测器接收。通过相互作用,这个检测结果等同于在同样检测条件下检测得到的直射光能。SSR-ER反射率测量仪能够准确测量漫反射和镜面反射材料的太阳能吸收率和反射率,甚至还可测透明材料透射率(厚度可测6.4mm)。太阳能反射率或吸收率的***精度为0.001级别,重复精度在0.003可选附件AE-AD1和AE-AD3探测头,能测量样品的**小直径为1.0英寸(2.54cm)。薄膜发射率测量仪特性

光谱半球发射率测量仪是一种用于材料科学、矿山工程技术、食品科学技术、航空航天科学技术领域的计量仪器。薄膜发射率测量仪特性

测量方法介绍辐射积分法:漫射光照射被测物表面,利用多个探测器探测一定角度上不同波段的发射辐射能,加权计算得到被测物表面太阳反射比的方法。***光谱法:将试样放置于积分球中心位置,通过测试试样在规定波长上的***光谱发射比,计算试样太阳光反射比的方法。相对光谱法:通过测试试样在规定波长上相对于标准白板的光谱发射比,计算试样太阳反射比的方法。光纤光谱仪:采用光纤作为信号耦合器件,将试样反射光耦合到光谱仪中进行光谱分析测定试样反射比的仪器。上海明策不仅提供仪器与方案,更有现场专业服务!DS半球发射率AE1/RD1我们有全新现货。可以提供一次测试服务。反射率有太阳光谱反射率测量仪SSR-ER、TESA2000反射率测量仪等。薄膜发射率测量仪特性

上海明策电子科技有限公司发展规模团队不断壮大,现有一支专业技术团队,各种专业设备齐全。致力于创造***的产品与服务,以诚信、敬业、进取为宗旨,以建MIKORN,IMPAC,MEGASPEED,DS,INFRAMET,MAURER产品为目标,努力打造成为同行业中具有影响力的企业。公司不仅*提供专业的从事“电子、计算机软件、仪器仪表、实验室设备(除医疗器械)、机电设备(除特种设备)、电器设备(除承装、承修、承式电力设施)、环保设备”领域内的技术开发、技术咨询、技术服务,工业自动化机械设备安装(除特种设备),电子产品,仪器仪表,实验室设备(除医疗器械)、机电设备及配件,电气设备及配件,环保设备,金属材料及制品,化工原料及产品,五金交电,计算机、软件及辅助设备,通讯器材,日用百货,针纺织品销售,从事货物进出口及技术进出口,同时还建立了完善的售后服务体系,为客户提供良好的产品和服务。明策科技始终以质量为发展,把顾客的满意作为公司发展的动力,致力于为顾客带来***的黑体校准源,红外测温仪,高速摄像机,发射率测量仪。

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