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发射率测量仪基本参数
  • 品牌
  • DS
  • 型号
  • AE1/RD1
  • 类型
  • 材料检测
发射率测量仪企业商机

    校准AE1/RD11.设置RD1到“变量”.(downfromtheoffposition)把RD1表头数值调到,2.把一个高发射率标定块放在其中一个测量台上,另一个低发射率放在另一个测量台上。把标定块放上测量台之前请在测量台上滴几滴水,确保有足够的水来填满样本和散热器之间的间隙,但是也不能太多,太多的话会流到样品和探测器里面。3.把探头放在高发射率标定块上,然后等60~90s直至RD1上的读数稳定。然后调节RD1上的旋钮直至该显示的数值和我们提供给您的高发射率标定块的具体发射率数值相同,我们的标定块的具体发射率数值有写在它的反面同时在其校准证书中也有。4.把探头放在低发射率标定块上,然后等60~90s直至RD1上的读数稳定。然后用我们提供给您的小螺丝到调节探头上的微调螺丝,使RD1表头上显示的数值直至我们提供给您的低发射率标定块数值相同,我们的标定块的具体发射率数值有写在它的反面同时在其校准证书中也有。 样品温度:比较大130℉。样品温度和标准体温度必须一致快速测量发射率测量仪

发射率测量仪

    技术参数读数器:D&S微型数字伏特计,型号RD1输出:(当材料发射率为,材料温度为25℃时)线性关系:该测量仪输出和发射率成线性关系,偏差小于±℉。样品温度和标准体温度必须一致漂移:输出值可能随着外界环境的变化而改变,但是这些影响在本仪器这么短的检测时间内可以忽略标准体:随机提供两个高发射率标准体和两个低发射率标准体。其中一套标准体可以用来测量时使用,另一套标准体备用并作为参考电源:通用交流电源适配器100-240V,50-60Hz,12V直流输出AE1发射率仪:包括发射率仪、电源线、加热装置,两个高发射率标准体和两个低发射率标准体,技术手册及操作指南。 太阳光反射率发射率测量仪特点电源:通用交流电源适配器100-240V,50-60 Hz,12V直流输出。

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校准AE1/RD11.设置RD1到“变量”.(downfromtheoffposition)把RD1表头数值调到0.00,2.把一个高发射率标定块放在其中一个测量台上,另一个低发射率放在另一个测量台上。把标定块放上测量台之前请在测量台上滴几滴水,确保有足够的水来填满样本和散热器之间的间隙,但是也不能太多,太多的话会流到样品和探测器里面。3.把探头放在高发射率标定块上,然后等60~90s直至RD1上的读数稳定。然后调节RD1上的旋钮直至该显示的数值和我们提供给您的高发射率标定块的具体发射率数值相同,我们的标定块的具体发射率数值有写在它的反面同时在其校准证书中也有。

    参数介绍|半球发射率AE1/RD1:AE1/RD1辐射率仪测量材料的总半球发射率,测量仪*对辐射热传输响应,并且输出电压和发射率成线性关系。D&S的标度数字电压表RD1是AE1辐射率仪读数器,RD1通过可调旋钮来设定电压读数和发射率标准体的电压一致,当AE1测量待测样品上时,RD1就能直接读出发射率。把该仪器放在高发射率标准体(黑体)上,设定RD1来表示发射率标准参数;然后仪器就会根据这个标准,计算并直接读出RD1上该被测目标的发射率。AE1测量样品直径不小于()。可选附件AE-AD1和AE-AD3探测头能使测量样品直径不小于(),可以为圆柱形表面和几乎任何几何形状面需求的客户提供定制探头。对小直径圆柱形面样品测量,可以测量平行放置的多个样品。如需定制测量头,可来上海明策咨询! 价格实惠: 相较于一些用比较法测量发射率的仪器便宜很多。

快速测量发射率测量仪,发射率测量仪

AE1/RD1可选配件(用于AE1型发射率计)发射率测量仪适配器—型号AE-AD3。AE1和AE-AD3适配器的发射率测量可以在直径约为1.0英寸(2.54厘米)的平坦区域进行。典型应用包括对材料的小样品试样进行测量,并在一个较大的样本上测量一个小的可用的平面区域。适配器可以在要测量的区域上有效阻隔1英寸高度的垂直障碍物影响。发射率测量仪适配器—型号AE-AD1。AE1和AE-AD1适配器的发射率测量仪可以实现在直径为1.5英寸(3.8厘米)的平坦区域小目标测量。典型的应用是在太阳能吸收板上的管子进行测量,或者测量小于直径2.25英寸(5.7cm)的区域。发射率测量仪端口适配器—型号ADP。AE-ADP端口内径为1.5英寸。该模型用于测量较小的样品尺寸,具有低导热性的材料,大曲率圆柱形表面(>2英寸)粗糙或纹理表面。AE1/RD1发射率仪测量材料的总半球发射率,测量仪*对辐射热传输响应,并且输出电压和发射率成线性关系。二合一发射率测量仪

AE1发射率仪:发射率仪、电源线加热装置,两个高发射率标准体和两个低发射率标准体,技术手册及操作指南。快速测量发射率测量仪

    3.把探头放在高发射率标定块上,然后等60~90s直至RD1上的读数稳定。然后调节RD1上的旋钮直至该显示的数值和我们提供给您的高发射率标定块的具体发射率数值相同,我们的标定块的具体发射率数值有写在它的反面同时在其校准证书中也有。4.把探头放在低发射率标定块上(下图)然后等60~90s直至RD1上的读数稳定。然后用我们提供给您的小螺丝到调节探头上的微调螺丝,使RD1表头上显示的数值直至我们提供给您的低发射率标定块数值相同,我们的标定块的具体发射率数值有写在它的反面同时在其校准证书中也有。请谨记需要重复循环调节高发射率标准块(步骤3)和低发射率标准(步骤4)。重复补偿两个调试过程,直到重复两个标定过程都不需要改变显示数值时,我们才能说RD1和Emissometer现在测出来的发射率和表头显示的数值才是**准确的。 快速测量发射率测量仪

上海明策电子科技有限公司位于茸悦路208弄富悦财富广场C座1718室。明策科技致力于为客户提供良好的黑体校准源,红外测温仪,高速摄像机,发射率测量仪,一切以用户需求为中心,深受广大客户的欢迎。公司秉持诚信为本的经营理念,在仪器仪表深耕多年,以技术为先导,以自主产品为重点,发挥人才优势,打造仪器仪表良好品牌。明策科技立足于全国市场,依托强大的研发实力,融合前沿的技术理念,飞快响应客户的变化需求。

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