发射率测量仪可用于航天热控涂层所谓的热控涂层简单的说就是两个字—保温，让升上天的那些航空元器件不至于暴露在**温环境下损坏。发射率测量仪这时候就很重要。测量这种航天热控涂层，需要测量涂层的法向发射率、半球发射率、太阳光反射率，以计算涂层的热辐射性能（就是一束太阳光照过来，我吸收了多少能量，散掉了多少能量，保留了多少能量，这样就能计算出在不同光照下，涂层大概会维持在什么温度范围，这个就是对航空器件的控温要求的一种保证）。像这种应用的话TESA2000发射率测量仪是很合适的。发射率测量仪可应用于节能建筑、LEED认证等研究都是有用到的。便携式反射率测定仪常温下材料半球发射率的测定。明策科技发射率测量仪特点
AE1/RD1可选配件（用于AE1型发射率计）发射率测量仪适配器—型号AE-AD3。AE1和AE-AD3适配器的发射率测量可以在直径约为1.0英寸（2.54厘米）的平坦区域进行。典型应用包括对材料的小样品试样进行测量，并在一个较大的样本上测量一个小的可用的平面区域。适配器可以在要测量的区域上有效阻隔1英寸高度的垂直障碍物影响。发射率测量仪适配器—型号AE-AD1。AE1和AE-AD1适配器的发射率测量仪可以实现在直径为1.5英寸（3.8厘米）的平坦区域小目标测量。典型的应用是在太阳能吸收板上的管子进行测量，或者测量小于直径2.25英寸（5.7cm）的区域。发射率测量仪端口适配器—型号ADP。AE-ADP端口内径为1.5英寸。该模型用于测量较小的样品尺寸，具有低导热性的材料，大曲率圆柱形表面（>2英寸）粗糙或纹理表面。精确发射率测量仪种类AE1测量样品**小直径为2.25英寸（5.7cm）。
发射率通过两个步骤获取：1.把辐射计放在高发射率标准体上，设定RD1来表示发射率；2.把辐射计放在待测样品上并直接读出RD1上的发射率。读数器:D&S微型数字伏特计，型号RD1.输出:2.4毫伏→在材料发射率为0.9，材料温度为25℃时线性关系:该测量仪输出和发射率成线性关系，小于±0.01测量时间:10s加热装置:用来加热使标准体和待测样品温度一致。样品温度:比较大130F。样品温度和标准体温度必须一致。.漂移:输出值可能随着外界环境的变化而改变，但是这些影响在本仪器这么短的检测时间内可以忽略。标准体:随机提供两个高发射率标准体和两个低发射率标准体。其中一套标准体可以用来测量时使用，另一套标准体备用并作为参比。
发射率测量仪适配器—型号AE-AD3(用于AE1型发射率计)。AE1和AE-AD3适配器的发射率测量可以在直径约为（）的平坦区域进行。典型应用包括对材料的小样品试样进行测量，并在一个较大的样本上测量一个小的可用的平面区域。适配器可以在要测量的区域上有效阻隔1英寸高度的垂直障碍物影响。适配器通过两根尼龙螺丝固定在仪表的位置上。从项圈上，适配器延伸到一个，然后到一个锥形部分，其末端是测量端口。管的内部被高反射和镜面材料覆盖。该反射材料引导检测器和样品之间的热辐射交换，使得仪器被校准以读取样品的发射率。适配器的铝配件也包括在内。它安装在发射探测器上，以便在使用适配器时保持稳定。检测器必须与测量标准块和表面测量的表面保持水平。 可选附件AE-AD1和AE-AD3探测头，能测量样品的**小直径为1.0英寸（2.54cm）。
反射率测量仪则拥有六个经过高精度标定的探测器来对应不同的光谱范围，通过创建一个自定义加权法来配置每个仪器，从而尽量减少不同仪器的变化影响结果，内部卤钨灯对样品孔处的样品提供漫照射，反射光能在与正常情况下成20°角被检测器接收。通过相互作用，这个检测结果等同于在同样检测条件下检测得到的直射光能。SSR-ER反射率测量仪能够准确测量漫反射和镜面反射材料的太阳能吸收率和反射率，甚至还可测透明材料透射率(厚度可测6.4mm)。太阳能反射率或吸收率的***精度为0.001级别，重复精度在0.003D&S 半球发射率测量仪，现货，可提供一次样品测试服务。上海明策发射率测量仪安装
操作简单:探测器采用电加热设计，无须加热样品，也不需要测量温度。明策科技发射率测量仪特点
AE1/RD1辐射率仪是专门针对测量物体的辐射率设计的，重复性±，热沉，标准板（低发射率抛光不锈钢标准板和高发射率黑色标准板，各两块），AE1/RD1发射率属于美国DS品牌，精确、易操作、快速测量、性价比高。满足《JG_T235-2014建筑反射隔热涂料》JGJ/T287-2014《建筑反射隔热涂料节能检测标准》中对半球发射率的要求。AE1/RD1红外半球发射率测量仪使用方法，去除仪器探头底部的红色保护塞，接上电源适配器，然后接上两个香蕉插头使仪器通上电，并使仪器暖机大约三十分钟左右，在仪器暖机期间，允许水蒸气逸出；如果仪器经常使用，一直处于使用状态那我们可以免除暖机过程；不是经常用的时候，就必须要暖机。 明策科技发射率测量仪特点
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