针座是检测芯片的重要设备，在芯片的设计验证阶段，主要工作是检测芯片设计的功能是否能够达到芯片的技术指标，在检测过程中会对芯片样品逐一检查，只有通过设计验证的产品型号才会量产。晶圆测试一般在晶圆厂、封测厂或专门的测试代工厂进行，主要用到的设备为测试机和针座。半导体的测试环节，主要包括芯片设计中的设计验证、晶圆制造中的晶圆测试（CP测试）和封装完成后的成品测试（FT测试）。半导体测试设备主要包括测试机、针座和分选机。在所有的测试环节中都会用到测试机，不同环节中测试机需要和分选机或针座配合使用。针座也可称探针座，但在半导体业界称之探针座主要应用Probe上。珠海2.0双排 针座工厂
针座其实也可称探针座，但在半导体业界称之探针座主要应用Probe上，半导体行业以及光电行业的测试。使用范围:1。小电流量测及电容量测。2。高压量测。3。R/F量测。4。I/O点量测。液相针座堵塞后将针座连接的六通阀的5号位置拆开，用两个小扳手从下面将整个针座撬出取下，或是用尖嘴镊子从自动进样器上面将针座拔出，之后超声清洗。如不擅长或不熟练拆卸针座，可将针提起后，采用懒人办法：直接互换接头位置，在针座处放几张吸水纸，吸收针座流出的液体，避免出现漏液爆红，无法完成清洗。珠海2.0双排 针座工厂针座可以使异形转轮对活动板间歇式施加压力。
用于缝被机能防断针的针座装置，包括针杆座和针筒，针筒固定在针杆座的下表面，针筒内壁固定有限位环，限位环上方设有上腔室，限位环下方设有下腔室，针筒内部套接有连接杆，连接杆的中部侧壁缠绕有减震弹簧，连接杆的下端设有针头座，针头座的外壁套接有防护罩，针头座的底部固定有金属针，金属针的上侧壁套接有橡胶套；针筒的下侧壁套接有与固定螺栓相配合的压脚套，压脚套的侧壁固定有压脚，压脚底杆上表面开设有通孔；也解决了操作者手容易被金属针误伤的问题。
针座的使用：1、将样品载入真空卡盘，开启真空阀门控制开关，使样品安全且牢固地吸附在卡盘上。2、使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台，在显微镜低倍物镜聚焦下看清楚样品。3、使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台将样品待测试点移动至显微镜下。4、显微镜切换为高倍率物镜，在大倍率下找到待测点，再微调显微镜聚焦和样品，将影像调节清晰,带测点在显微镜视场中心。待测点位置确认好后,再调节针座座的位置,将针座装上后可眼观先将针座移到接近待测点的位置旁边,再使用针座座-Z三个微调旋钮,慢慢的将针座移至被测点,此时动作要小心且缓慢，以防动作过大误伤芯片。针座保证了从血液样本收集管传的操作力不会影响到穿刺针管。
针座为研究和工程实验室在测试运行期间移动通过多个温度点时，提供前所未有的自动化水平。这种新技术使针座系统能够感知，学习和反应以多温度和特征的极其复杂的环境。随着集成电路产品不断进入汽车应用等更高发热量的环境，在越来越宽的温度范围内表征器件性能和耐用性变得越来越重要。以前，大多数芯片在两个温度点进行晶圆级测试，通常为20˚C（室温）和90˚C。现在，该范围已经扩大到-40˚C至125˚C，并且可能需要在此范围内的四个温度步骤中进行一整套测试。某些情况下需要更普遍的范围，如-55˚C至200˚C，晶圆可靠性测试可能要求高达300˚C的温度。针座两直角边上分别设置立贴和卧贴焊接部，使得立贴和卧贴贴片针座都能公用。汕头线路板针座生产厂商
针座其自动化程度和组装效率高，降低了劳动量，产品质量稳定。珠海2.0双排 针座工厂
针座焊接：针座要求底部贴板插装，且位置端正，方向正确，针座焊接后，底部浮高不超过0。5mm，座体歪斜不超出丝印框。成排的针座还应保持整齐，不允许前后错位或高低不平。焊点截面：元件剪脚尽可能不剪到焊锡部分，在引脚与焊锡的接触面上无裂锡现象。在截面处无尖刺、倒钩。焊点表面：光滑、明亮，无黑斑、助焊剂等杂物，无尖刺、凹坑、气孔、露铜等缺陷。焊点高度：焊锡爬附引脚高度单面板不小于1mm，双面板不小于0。5mm且需透锡。焊点形状：呈圆锥状且布满整个焊盘。珠海2.0双排 针座工厂
