在半导体器件与集成电路制造工艺中，从单晶硅棒的制取到终器件制造的完成需经过复杂的工序，可分为前道工序与后道工序，针座是检测半导体芯片的电参数、光参数的关键设备。经过检测，针座将参数特性不符合要求的芯片记录下来，在进入后序工序前予以剔除，降低器件的制造成本。针座是半导体（包括集成电路、分立器件、光电器件、传感器）行业重要的检测装备之一，其普遍应用于复杂、高速器件的精密电气测量，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。针座够增大PIN针的退PIN力，使PIN针不易被顶出。广州连接器针座
贴公用焊片的贴片针座，包括塑胶基座，接触端子和焊片，塑胶基座的内部设有插槽，塑胶基座的底板内部设有接触端子槽，接触端子槽有十个，接触端子有十个，十个接触端子分别插入十个接触端子槽中，塑胶基座的左右两侧壁内部各设有一个焊片槽，焊片有两个，两个焊片分别插入两个焊片槽中，焊片包括焊片本体，立贴焊接部，卧贴焊接部，第1焊片固定脚和第二焊片固定脚。与现有技术相比，一种带有立贴卧贴公用焊片的贴片针座，将焊片设计成直角形状，两直角边上分别设置立贴和卧贴焊接部，使得立贴和卧贴贴片针座都能公用。深圳板端针座国产替代针座保证设备的正常运行，提高安全性。
针座是用于检测每片晶圆上各个芯片电信号，保证半导体产品品质的重要检测设备。下面我们来了解下利用针座进行在片测试的一些相关问题，首先为什么需要进行在片测试？因为我们需要知道器件真正的性能，而不是封装以后的，虽然可以去嵌，但还是会引入一些误差和不确定性。因为我们需要确定哪些芯片是好的芯片来降低封装的成本并提高产量。因为有时我们需要进行自动化测试，在片进行自动化测试成本效益高而且更快。一个典型的在片测试系统，主要包括：矢量网络分析仪，线缆，针座，针座定位器，针座，校准设备及软件，电源偏置等。
半导体生产过程中的探测，可略分为三大类：1.参数探测：提供制造期间的装置特性测量；2.晶圆探测：当制造完成要进行封装前，在一系列的晶圆上(wafersort)测试装置功能；3.以针座为基础的晶圆处理探测(FinalTest)：在出货给顾客前，对封装完成的装置做后的测试。晶圆在通过基本的特性测试后，即进入晶圆探测阶段，此时需要用复杂的机器、视觉及软件来侦测晶圆上的每颗裸晶，精确度约在±2.0μm之间。将晶圆针座的输入输出针座垫片(I/Opads)放在接脚和针座正确对应的晶圆后，针座会将晶圆向上挪动，使其电气和连接于测试仪上的针座接触，以进行探测。当测试完成，则会自动将下一个待测晶圆替换到针座下面，如此周而复始地循环着。针座固定倒勾能够在该固定槽内移动。
针座为研究和工程实验室在测试运行期间移动通过多个温度点时，提供前所未有的自动化水平。这种新技术使针座系统能够感知，学习和反应以多温度和特征的极其复杂的环境。随着集成电路产品不断进入汽车应用等更高发热量的环境，在越来越宽的温度范围内表征器件性能和耐用性变得越来越重要。以前，大多数芯片在两个温度点进行晶圆级测试，通常为20˚C（室温）和90˚C。现在，该范围已经扩大到-40˚C至125˚C，并且可能需要在此范围内的四个温度步骤中进行一整套测试。某些情况下需要更普遍的范围，如-55˚C至200˚C，晶圆可靠性测试可能要求高达300˚C的温度。针座降低了劳动量，产品质量稳定，能有效提高产品合格率。天津汽车针座国产替代
针座能够使得连接器密封，防止渗水或其他液体。广州连接器针座
接触电阻即针座尖与焊点之间接触时的层间电阻。通常不能给出具体的指标，因为实际的接触电阻很难测量。一般，信号路径电阻被用来替代接触电阻，而且它在众多情况下更加相关。在检测虚焊和断路的时候，针座用户经常需要为路径电阻指定一个标称值。信号路径电阻是从焊点到测试仪的总电阻，即接触电阻、针座电阻、焊接电阻、trace电阻、以及弹簧针互连电阻的总和。但是，接触电阻是信号路径电阻的重要组成部分。测试信号的完整性需要高质量的针座接触，这与接触电阻（CRes）直接相关。广州连接器针座
