将晶圆针座的输入输出针座垫片(I/Opads)放在接脚和针座正确对应的晶圆后，针座会将晶圆向上挪动，使其电气和连接于测试仪上的针座接触，以进行探测。当测试完成，则会自动将下一个待测晶圆替换到针座下面，如此周而复始地循环着。半导体生产过程中的探测，可略分为三大类：参数探测：提供制造期间的装置特性测量；晶圆探测：当制造完成要进行封装前，在一系列的晶圆上(wafersort)测试装置功能；以针座为基础的晶圆处理探测(FinalTest)：在出货给顾客前，对封装完成的装置做后的测试。针座有效防止布料与针板底面接触。wafer 针座规格参数
可调整针座，包括梳针和呈长方体的底座，每两根梳针垂直设置在一圆盘的两端，底座上开有一排呈"一"字型的圆孔，圆盘底部设置有转轴，转轴的根部设置在圆孔内，并与圆孔形成滑动连接，底座上设置有锁定转轴的锁定装置，底座的两端窄缩形成枢耳，底座通过枢耳设置在一支座上，支座上设置有锁定枢耳的角度定位装置，采用简单可靠的旋转圆盘作为调整梳针针具的载体，其可以同过旋转圆盘来调整圆盘上梳针，使梳针以底座为参照时，其针距发生改变，调整快捷，无需拆卸针座，提高了生产效率。珠海针座端子连接器国产替代工厂针座主要应用半导体行业以及光电行业的测试。
关于针座：针座实现同轴到共面波导转换，针座需要保证一致性和兼容性，同时需要严格的控制其阻抗。板手动针座在测试中非常受欢迎。它是精密和灵活性的独特组合，可实现PCB的横板或竖板的测量，并能扩展成双面PCB板测试系统，也可以根据客户的PCB板尺寸定制可调式夹具。搭配相应针座座与高精度电源或网络分析仪后，能够轻松实现FA级别的直流参数提取或67G内的射频参数测量。针座可根据用户实验，选配DC、微波或光纤针座臂等。晶圆在通过基本的特性测试后，即进入晶圆探测阶段，此时需要用复杂的机器、视觉及软件来侦测晶圆上的每颗裸晶，精确度约在±2.0μm之间。
尽管半导体测试针座国产化迫在眉睫，但从技术的角度来看，要想替代进口产品却并不容易。业内人士指出，国内半导体测试针座还只能用于要求不高的测试需求，比如可靠性测试国产针座可以替代很多，但功能性测试和性能测试还有待突破。弹簧测试针座主要的技术是精微加工和组装能力，涉及精微加工设备、经验、工艺能力缺一不可。值得注意的是，由于半导体测试针座市场一直被国外厂商占据，同时也实施了技术封锁，国内并没有相应的技术人才，包括生产人员和设计人员都缺乏。国内大部分测试针座厂商基本不具备全自动化生产制造能力。针座其自动化程度和组装效率高。
封管时夹子与针座距离对留置时间的影响。方法选取慢性肺源性心脏病患者60，第1次在左上肢进行留置针穿刺，封管时夹子距针座15mm，第2次在右上肢平行位置进行留置针穿刺，封管时夹子距针座5mm，记录2次留置时间及留置针使用期间外渗，堵管发生情况。结果第2次患者静脉留置针留置时间长于第1次(P0。05)。第2次患者静脉留置针使用期间外渗，堵管发生率均低于第1次(P0。05)。结论慢性肺源性心脏病患者静脉留置针封管时夹子距针座5mm较夹子距针座15mm时，留置时间更长，外渗，堵管发生率更低。针座通道相互配合来对液体进行密封，紧密可靠，具有良好的防回血功能。广州1.5mm针座源头厂家
针座可以利用真空吸嘴自动化装配的效果，节约了人工保证了产品品质。wafer 针座规格参数
链轮式针座上安装多个吸种针，在吸种针圆周外侧部位处包容配置留有豁口的柔性护种带，柔性护种带由带辊Ⅰ，Ⅱ，Ⅲ，Ⅳ，Ⅴ支撑，带辊Ⅰ为驱动辊，在随动轴上固装链轮式驱动套和转动套装链轮式针座，负压气道设置在随动轴上。在柔性护种带豁口部位处设置气体喷嘴和导种管;本器采用种子自身重力，旋转离心力和气流吹力的三力合一作用将种子从吸种针上卸下，完成气吸排种器的排种作业，具有排种可靠，漏播率低，作业故障少，结构紧凑，合理的特点。wafer 针座规格参数
