探针台主要用途是为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台,探针台可吸附多种规格的芯片,并提供多个可调测试及探卡测试针台座,配合测量仪器可完成集成电路的电压、电流、电阻以及电容电压特性曲线等参数检测。半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。根据导电性,材料被分为像铜一样导电的导体,像陶瓷一样不导电的绝缘体,还有导电性介于两者间的半导体。近,“半导体”也常被用来称呼利用半导体的特性制成的集成电路。探针台广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发。河南温控探针台厂家
如何将探针连接至待测点:(1) 显微镜小倍数物镜下找到待测点(或附近的位置),使待测点成像清晰。(2) 确认定位器XYZ三轴均中间行程位置(即各轴导轨端面螺丝对齐)。Z轴也可略向上错开3mm左右。(3) 安装并调节好探针的高度,侧向平视,观察探针与样品台(或样品)间的距离(大概5mm,或略小于5mm)。可通过调节探针臂或探针臂适配器的高度进行粗调定位。(4) 移动定位器,将所有探针移动至显微镜光斑下。此时通过目镜观察可看到探针的虚影(探针成像未实体化)。天津手动高低温探针台机构我们通过探针卡把测试仪和被测芯片连接起来。
为什么要射频探测?由于器件小形化及高频谱的应用,电路尺寸不断缩小,类似微带线及PCB版本Pad的测试没有物理接口,使得仪表本身无法与待测物进行直接连接,如果人为的焊接射频接口难免会引入不确定的误差,所以射频探针的使用完美的解决了这个问题。射频探头和校准基板允许工程师进行精确、重复的测量与校准。且任何受过一定训练的工程师都可以进行探针台的架设与仪表的校准,以分钟为单位进行测量。同样一个Pad测试点,如果通过探针测量与通过焊接SMA接口引出测量线的方法进行测试对比会发现,探针的精度是高于焊接Cable的精度。
接触电阻即探针尖与焊点之间接触时的层间电阻。通常不能给出具体的指标,因为实际的接触电阻很难测量。一般,信号路径电阻被用来替代接触电阻,而且它在众多情况下更加相关。在检测虚焊和断路的时候,探针卡用户经常需要为路径电阻指定一个标称值。信号路径电阻是从焊点到测试仪的总电阻,即接触电阻、探针电阻、焊接电阻、trace电阻、以及弹簧针互连电阻的总和。但是,接触电阻是信号路径电阻的重要组成部分。测试信号的完整性需要高质量的探针接触,这与接触电阻(CRes)直接相关。PCB生产完毕后,直接对PCB进行测试。
晶圆测试基本的一点就是:晶圆测试必须能够辨别芯片的好坏,并使合格芯片继续进入下面的封装工艺。为了确保芯片功能和成品率的有效测试,封装厂商和设备制造者需要不断探索,进而找到高精度、高效率和低成本的测试方法,并运用新的组装工艺要求对晶圆片进行探测,这些要求将引起设备和工艺过程的重大变化。探针台从操作上来区分有:手动,半自动,全自动,从功能上来区分有:温控探针台,真空探针台(低温探针台),RF探针台,LCD平板探针台,霍尔效应探针台,表面电阻率探针台。如果发现问题,就需要复杂的诊断过程和人工分析,才能找到问题的原因。天津手动高低温探针台机构
探针卡没焊到位,是因为焊锡时针受热要稍微的收缩,使针尖偏离压点区。河南温控探针台厂家
探针卡上有细小的金属探针附着,通过降低探针高度或升高芯片的高度使之和芯片上的焊盘接触,可以把卡上的线路和芯片的结合焊盘连起来。之后,运行测试程序检验芯片合格与否。测试完成后,探针卡于芯片分离,如果芯片不合格,则会在其**做上标记,然后圆片移动到下一个芯片的位置,这种方法可以让圆片上的每一个芯片都经过测试。这一检测过程会在芯片的每个焊盘上留下标记以表明该芯片被测试过了。通常我们作标记的方法是在不合格的芯片上打点。在探针台上装上打点器,打点器根据系统的信号来判断是否给芯片打点标记。系统在测试每个芯片的时候对芯片的好坏与否进行判断,发出合格与不合格的信号。如果是合格的芯片,打点器不动作;如果是不合格的芯片,打点器立刻对这个不合格的芯片打点。河南温控探针台厂家
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