半导体与电子工程塑料零件定制加工定制

    工艺盘转轴1用于驱动工艺盘01旋转，工艺盘组件还包括驱动轴3和驱动衬套2。如图5至图12所示，驱动轴3包括驱动连接部310和驱动轴体部320，驱动衬套2套设在驱动连接部310外部，工艺盘转轴1的底端形成有安装孔，驱动衬套2部分设置在该安装孔中，工艺盘转轴1通过驱动衬套2、驱动连接部310与驱动轴体部320连接。其中，驱动连接部310的横截面为非圆形，驱动衬套2的套孔与驱动连接部310相匹配，工艺盘转轴1的安装孔与驱动衬套2相匹配，驱动轴3旋转时，带动驱动衬套2及工艺盘转轴1旋转。需要说明的是，在本实用新型的实施例中，驱动连接部310匹配设置在驱动衬套2的套孔中、驱动衬套2匹配设置在工艺盘转轴1的安装孔中，驱动轴体部320用于通过驱动连接部310、驱动衬套2带动工艺盘转轴1转动，并且驱动轴体部320能够保证驱动轴3轴线的角度和位置。本实用新型对驱动轴体部320如何实现定位不做具体限定，例如，驱动轴体部320可以直接与轴承等零件连接，以实现其轴向定位和径向定位，或者，驱动轴体部320也可以与其它在轴承中固定的转轴结构固定连接。在本实用新型的实施例中，驱动连接部310为非圆柱体，驱动衬套2的套孔相匹配地也形成为异形孔。为行业的关键部件提高N倍寿命、免维护。半导体与电子工程塑料零件定制加工定制

    表1实施例和对比例的碳化硅陶瓷的力学性能数据从上表1中可以看出，实施例得到的碳化硅陶瓷的抗弯强度均在400mpa左右，实施例2得到的碳化硅陶瓷的抗弯强度甚至高达451mpa，远高于对比例得到的碳化硅陶瓷的抗弯强度。实施例得到的碳化硅陶瓷的显微硬度至少为2441hv，致密度均在3g/cm3以上，而对比例得到的碳化硅陶瓷的抗显微硬度和致密度均较低。由此可以看出，采用实施例中的碳化硅陶瓷的制备方法得到的碳化硅陶瓷的力学性能较好。以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。以上所述实施例*表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。半导体与电子工程塑料零件定制加工定制既满足了晶圆低污染加工的严格要求，又是低成本的解决方案。

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    第二溶剂能够溶解第二分散剂。在其中一个实施例中，第二溶剂为水或酒精。可以理解，在其他实施例中，第二溶剂还可以为其他物质。第二分散剂包括四甲基氢氧化铵、聚乙烯吡咯烷酮、丙烯酸铵、丙烯酸钠、聚乙烯醇及聚乙烯醇缩丁醛中的至少一种。在本实施方式中，***分散剂与第二分散剂可以相同，也可以不同。采用上述第二分散剂、第二溶剂和粘结剂能够将预处理颗粒和***碳源均匀混合。具体地，步骤s120包括：步骤s122：将预处理颗粒与第二分散剂、第二溶剂、粘结剂和***碳源混合，并进行球磨，得到球磨后的浆料。其中，球磨过程中的转速为100转/分～300转/分，球磨的时间为1h～5h。通过球磨能够使得预处理颗粒、第二分散剂、粘结剂和***碳源等混合均匀。步骤s124：将球磨后的浆料进行喷雾造粒，得到造粒粉。通过步骤s122和步骤s124能够得到均匀的造粒粉。在其中一个实施例中，造粒粉的平均尺寸为60微米～120微米。步骤s130：将造粒粉成型，得到***预制坯。具体地，步骤s130包括：将造粒粉先进行模压成型，成型压力为70mpa～170mpa，保压时间为10s～90s，然后进行等静压成型，成型压力为200mpa～400mpa，保压时间为60s～180s，得到***预制坯。通过先进行模压成型。PP板及零件加工(聚丙烯板）。

    并实现对工艺盘的角度进行调整，进一步推荐地，当采用上述配合面轴向错开的设计时，驱动通孔211与驱动连接部310之间为过盈配合，第二衬套部220的圆柱面与安装孔之间为过盈配合。在本实用新型的实施例中，设置工艺盘转轴1、驱动衬套2与驱动轴3之间均为过盈配合，从而使得工艺盘转轴1和驱动衬套2能够在安装后保持与驱动轴3之间的同轴度。并且，*通过调整驱动轴3的朝向即可微调工艺盘转轴1的角度，并**终实现对工艺盘的角度进行调整。为避免驱动通孔211与驱动连接部310之间的配合面尺寸的偏差导致零件损坏，推荐地，如图6所示，驱动通孔211的内壁上形成有避让槽211a，避让槽211a与驱动通孔211内壁上圆柱面与平面的相贯线位置匹配。在本实用新型的实施例中，驱动通孔211内壁上形成有避让槽211a，驱动通孔211与驱动连接部310连接时，驱动连接部310侧面的棱插入避让槽211a中，从而能够将驱动通孔211与驱动连接部310之间的平面配合面与圆柱面配合面分离。在驱动通孔211与驱动连接部310为过盈配合时，平面配合面与圆柱面配合面可以分别向外发生微小形变，而驱动连接部310侧面上的棱始终位于避让槽211a中，从而不会因两种配合面形变程度的不同而与驱动通孔211的内壁之间发生刮擦。用于刻蚀、CVD和离子植入等干式制程工具的材料，可降低成本和提高性能。半导体与电子工程塑料零件定制加工定制

由于该材料的线性热膨胀系数（CLTE）较低、公差配置可更紧。半导体与电子工程塑料零件定制加工定制

    本实用新型涉及治具领域，尤其涉及一种针对半导体零件的抓数治具。背景技术：半导体零件即半导体晶体，晶体是脆性的，加工过程中会在边缘形成碎石块似的崩碎。如有较大应力加载到晶体的解理方向上，会造成很大的崩碎面积，破坏中间已加工好的表面。因此，在加工端面前，应对半导体晶体进行端面边缘的倒角，使得在加工端面时，不容易产生破坏性的崩口。然而，在实际加工时，大部分的晶体多多少少的会发生不影响晶体性能的轻微崩口，以及极少部分会发生破坏性的崩口，为了防止破坏后的晶体被继续使用，因此，我们需要制作一个治具，用于检测晶体的崩口尺寸，将破坏严重的晶体剔除。技术实现要素：本实用新型的目的在于克服现有技术存在的以上问题，提供一种针对半导体零件的抓数治具，本实用新型设计新颖，结构简单、合理，能够通过设置的**基准面和第二基准面定位半导体零件的位置，并通过设置的圆弧基准台的切边抓取半导体零件的倒角以及崩口的尺寸，以剔除不良的半导体零件。为实现上述技术目的，达到上述技术效果，本实用新型通过以下技术方案实现：一种针对半导体零件的抓数治具，包括抓数治具，所述抓数治具包括设置的**基准块以及与**基准块垂直连接的第二基准块。半导体与电子工程塑料零件定制加工定制

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