天津FRP半导体与电子工程塑料零件定制加工特质

    本实用新型涉及治具领域，尤其涉及一种针对半导体零件的抓数治具。背景技术：半导体零件即半导体晶体，晶体是脆性的，加工过程中会在边缘形成碎石块似的崩碎。如有较大应力加载到晶体的解理方向上，会造成很大的崩碎面积，破坏中间已加工好的表面。因此，在加工端面前，应对半导体晶体进行端面边缘的倒角，使得在加工端面时，不容易产生破坏性的崩口。然而，在实际加工时，大部分的晶体多多少少的会发生不影响晶体性能的轻微崩口，以及极少部分会发生破坏性的崩口，为了防止破坏后的晶体被继续使用，因此，我们需要制作一个治具，用于检测晶体的崩口尺寸，将破坏严重的晶体剔除。技术实现要素：本实用新型的目的在于克服现有技术存在的以上问题，提供一种针对半导体零件的抓数治具，本实用新型设计新颖，结构简单、合理，能够通过设置的**基准面和第二基准面定位半导体零件的位置，并通过设置的圆弧基准台的切边抓取半导体零件的倒角以及崩口的尺寸，以剔除不良的半导体零件。为实现上述技术目的，达到上述技术效果，本实用新型通过以下技术方案实现：一种针对半导体零件的抓数治具，包括抓数治具，所述抓数治具包括设置的**基准块以及与**基准块垂直连接的第二基准块。通过范围更多的产品，来实现解决方案，来成本节约，并可保证使用安全性。天津FRP半导体与电子工程塑料零件定制加工特质

    所述在真空条件、700℃～900℃下进行加热处理的步骤中，加热处理的时间为1h～4h。在其中一个实施例中，所述将所述造粒粉成型，得到***预制坯的步骤包括：将所述造粒粉先进行模压成型，成型压力为70mpa～170mpa，保压时间为10s～90s，然后进行等静压成型，成型压力为200mpa～400mpa，保压时间为60s～180s，得到所述***预制坯。在其中一个实施例中，所述将所述造粒粉成型，得到***预制坯的步骤之后，所述将所述***预制坯与第二碳源混合加热的步骤之前，还包括：将所述***预制坯以℃/min～℃/min的速率升温至900℃，保温2h～4h，进行排胶；及/或，所述将所述***预制坯与第二碳源混合加热，使所述第二碳源呈液态，然后加压至3mpa～7mpa，得到第二预制坯的步骤之后，所述将所述第二预制坯和硅粉混合的步骤之前，还包括：将所述第二预制坯以℃/min～℃/min的速率升温至900℃，保温2h～4h，进行排胶。在其中一个实施例中，所述***碳源和所述第二碳源相互独立地选自石墨、炭黑、石油焦、糠醛、聚碳硅烷、沥青、酚醛树脂及环氧树脂中的至少一种；及/或。山东HIPS半导体与电子工程塑料零件定制加工隔音吗耐温、耐磨、可高效加工的高比强材料用于此领域。

    代替25Gbps设备投入大量使用。而这些设备中将大量使用磷化铟、砷化镓、锗硅等化合物半导体集成电路。5.移动通信技术正在不断朝着有利于化合物半导体产品的方向发展。目前二代半（）技术成为移动通信技术的主流，同时正在逐渐向第三代（3G）过渡。二代半技术对功放的效率和散热有更高的要求，这对砷化镓器件有利。3G技术要求更高的工作频率，更宽的带宽和高线性，这也是对砷化镓和锗硅技术有利的。目前第四代（4G）的概念已明确提出来了。4G技术对手机有更高的要求。它要求手机在楼内可接入无线局域网（WLAN），即可工作到，在室外可在二代、二代半、三代等任意制式下工作。因此这是一种多功能、多频段、多模式的移动终端。从系统小巧来说，当然会希望实现单芯片集成（SOC），但单一的硅技术无法在那么多功能和模式上都达到性能**优。要把各种优化性能的功能集成在一起，只能用系统级封装（SIP），即在同一封装中用硅、锗硅、砷化镓等不同工艺来优化实现不同功能，这就为砷化镓带来了新的发展前景。

    得到排胶后的***预制坯。(5)将排胶后的***预制坯升温至300℃，加入第二碳源酚醛树脂，加热2h，然后抽真空1h，再以氮气加压至5mpa，进行压力浸渗，让高含碳液体渗入预制坯的孔隙中，降温得到第二预制坯。(6)将第二预制坯放置于真空排胶炉中，以每分钟℃的速度升温至900℃，保温3h，排胶后，机加工得到排胶后的第二预制坯。(7)将排胶后的第二预制坯和硅粉按质量比为1∶2在石墨坩埚中混合，然后放置于真空高温烧结炉中进行反应烧结，烧结温度为1600℃，保温时间为3h，冷却后，得到碳化硅陶瓷。实施例3本实施例的碳化硅陶瓷的制备过程具体如下：(1)以氧化铈与碳化硅微粉的质量比为5∶100，得到氯化铈与碳化硅微粉的质量比为，然后将氯化铈溶解在水和酒精的混合溶液中，溶解完全后加入***分散剂丙烯酸铵与丙烯酸钠的混合物，然后加入粒径为10μm的碳化硅微粉，搅拌均匀，得到***浆料。在冰浴条件下加入与***浆料的质量比为∶1的环氧丙烷，搅拌均匀得第二浆料。将第二浆料在闭式喷雾塔中喷雾，得到表面覆盖有氧化铈的碳化硅颗粒。然后将碳化硅颗粒在真空条件、900℃下进行热处理1h，得到预处理颗粒。(2)将第二分散剂丙烯酸铵与丙烯酸钠的混合物溶解在水中形成溶液。CMP环材料的制造商，包括Techtron® PPS（CMP应用）。

    表1实施例和对比例的碳化硅陶瓷的力学性能数据从上表1中可以看出，实施例得到的碳化硅陶瓷的抗弯强度均在400mpa左右，实施例2得到的碳化硅陶瓷的抗弯强度甚至高达451mpa，远高于对比例得到的碳化硅陶瓷的抗弯强度。实施例得到的碳化硅陶瓷的显微硬度至少为2441hv，致密度均在3g/cm3以上，而对比例得到的碳化硅陶瓷的抗显微硬度和致密度均较低。由此可以看出，采用实施例中的碳化硅陶瓷的制备方法得到的碳化硅陶瓷的力学性能较好。以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。以上所述实施例*表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。磨削、铣削、钻孔、车削和制造都可以很好地运用在半导体零件加工上。湖南PVC半导体与电子工程塑料零件定制加工绝热

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    圆弧避让槽6，圆弧基准台7，底座8，半导体零件9。具体实施方式下面结合附图对本实用新型作进一步的描述：参照图1至图3所示，一种针对半导体零件的抓数治具，包括抓数治具1，所述抓数治具1包括设置的**基准块2以及与**基准块2垂直连接的第二基准块3，所述第二基准块3与**基准块2一体成型；所述**基准块2的一侧设置有**基准面4，所述第二基准块3上设置有第二基准面5，所述第二基准面5垂直于**基准面4，所述**基准面4和第二基准面5的连接处设置有与**基准块2和第二基准块3连接的圆弧避让槽6；所述**基准块2和第二基准块3远离圆弧避让槽6的一侧设置有圆弧基准台7，所述圆弧基准台7的圆心位于**基准面4与第二基准面5的连接处。采用此技术方案，设置的**基准面4和第二基准面5有助于半导体零件9的贴合；设置的圆弧避让槽6不*有助于抓数治具1的加工，而且有助于半导体零件9的贴合；设置的圆弧基准台7有助于通过圆弧的切边抓数以计算或抓取半导体零件9的尺寸以及导角的尺寸。作为推荐，所示抓数治具1还设置有底座8，所示底座8上均匀排列有四个或四个以上抓数治具1；四个或四个以上所述的抓数治具1其**基准面4或第二基准面5在同一直线上。采用此技术方案，以便于批量检测抓数。天津FRP半导体与电子工程塑料零件定制加工特质

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