北京洁净室环境检测技术好

1当生产工艺对温度和湿度有特殊要求时，食品工业洁净用房的温度和湿度应根据工艺要求确定。2当生产工艺对温度和湿度无特殊要求时，I级、Ⅱ级洁净用房温度应为20℃～25℃，相对湿度应为30%~65%；Ⅲ级、Ⅳ级洁净用房温度应为18℃～26℃，相对湿度应为30%～70%。4.3.2食品工业洁净用房应根据生产要求提供照度，并应符合下列规定：1检验场所工作面混合照明的最低照度不应低于500lx，加工场所工作面一般照明的最低照度不应低于200lx。2辅助工作室、走廊、缓冲室、人员净化和物料净化用室一般照明的照度值不宜低于100lx。3对照度有特殊要求的生产部位可设置局部照明。4.3.3I级洁净用房的噪声级（静态）不应大于65dB（A)，其他等级洁净用房噪声级（静态）不应大于60dB（A）。洁净室检测应建立档案，记录每次检测的情况和结果。北京洁净室环境检测技术好

5.3.1洁净厂房的建筑围护结构和室内装修,应选用气密性良好,且在温度和湿度变化时变形小、污染物浓度符合现行国家有关标准规定限值的材料。洁净室装饰材料及密封材料不得采用释放对室内各种产品品质有影响物质的材料。5.3.2洁净室内墙壁和顶棚的装修应符合下列规定:1洁净室内墙壁和顶棚的表面应平整、光滑、不起尘、避免眩光,便于除尘,并应减少凹凸面。2踢脚不应突出墙面。3洁净室不宜采用砌筑墙抹灰墙面,当必须采用时宜采用干燥作业,抹灰应采用符合现行国家标准《建筑装饰装修工程质量验收规范》GB50210中高级抹灰的要求。墙面抹灰后应刷涂料面层,并应选用难燃、不开裂、耐腐蚀、耐清洗,表面光滑、不易吸水变质发霉的涂料。福建实验室环境检测方便客户洁净室的气密性检测有助于减少外界污染物的渗入。

1.适用范围此程序适用于高效过滤器完整性测试(俗称高效过滤器检漏)。2.高效过滤器检漏原理通过气溶胶光度计测定上下游粒子的浓度，得出泄漏率的大小。3.仪器设备气溶胶发生器气溶胶光度计供气软管耗材:PAO(EMERY3004)高效过滤器检漏价格?高效过滤器检漏按照高效过滤器数量进行收费，过滤器分为液槽式过滤器和隔板式过滤器，一般检测时采用冷发收费较贵而采用热发收费较为优惠，具体报价请联系旦霆科技销售顾问。高效过滤器检漏周期?高效过滤器检漏周期一般按照GB规定每1年进行高效过滤器检漏一次4.高效过滤器完整性测试方法/高效过滤器检漏方法/高效过滤器DOP检漏方法操作步骤预检查①对于非层流区域-关闭HVAC的风机。-拆除中效过滤器。-将气溶胶发生器放置于机组的负压段。②对于层流单元-发烟位置靠近回风口，风机进风口或专门的气溶胶发烟口。-找到高效过滤器前的测试软管或测试孔，如果没有测试孔，可在空调机组的压力表处测试上游浓度。-将光度计内部参数调节至100。高效过滤器完整性测试(高效检漏)-扫描HEPA的表面及其边框。-对球型结构，直接将高效过滤器的软管或洞与光度计下游通道相连。高效过滤器完整性测试(高效检漏)测试程序-接通电源，温度升至400??C。

四、照度标准规定：洁净区主要操作间照度不得少于300勒克斯，一般照明的照度均匀度不应小于0.7。洁净区的照度检查每年不得少于一次，在经过设备大修、厂房改造、工艺布局调整等变更的时候应在变更结束后重新检测照度。检测要求：室内照度测度必须在室温已趋稳定，光源光输出趋于稳定后进行（对荧光灯必须有100h）。检测方法:测点平面离地面0.85m，按间距1-2m布点，测点距墙面1m。其要求基本与洁净度的测定位置要求相同。记录实测照度值并计算总的平均照度。照度测量一般*测定除局部照明之外的一般照明。对洁净室的送风必须是有很高洁净度的空气。

4.1.1洁净厂房位置选择应符合下列规定，并经技术经济方案比较后确定：1应在大气含尘和有害气体浓度较低、自然环境较好的区域。2应远离铁路、码头、飞机场、交通要道以及散发大量粉尘和有害气体的工厂、贮仓、堆场等有严重空气污染、振动或噪声干扰的区域。当不能远离严重空气污染源时，应位于比较大频率风向上风侧，或全年极小频率风向下风侧。3应布置在厂区内环境清洁，人流、物流不穿越或少穿越的地段。4.1.2对于兼有微振控制要求的洁净厂房的位置选择，应实际测定周围现有振源的振动影响，并应与精密设备、精密仪器仪表容许振动值分析比较后确定。4.1.3洁净厂房新风口与交通干道边沿的极近距离宜大于50m。4.1.4洁净厂房周围宜设置环形消防车道，也可沿厂房的两个长边设置消防车道。4.1、5洁净厂房周围的道路面层应选用整体性能好、发尘少的材料。4.1.6洁净厂房周围应进行绿化。可铺植草坪，不应种植对生产有害的植物，并不得妨碍消防作业。温湿度波动范围的控制对于某些敏感产品的生产至关重要。广东口罩生产车间环境检测方便客户

检测为送回风口的布置和气流的通畅创造条件：气流设计时要考虑高大设备对气流组织的影响。北京洁净室环境检测技术好

B.2.1.2计数效率测量U描述符所用体系的计数效率应落在图B.1的阴影之内[1]。该阴影区为性能达标区，其中心对应的选定粒径超微粒子的计数效率为50%，粒径示为U。超微粒径U的允差为土10%，见图B.1中的1.1U和0.9U。这一计数效率允差的规定，是基于对扩散元件透过率的计算，该扩散元件对粒径大于选定超微粒径10%的粒子的透过率不低于40%，对粒径小于选定超微粒径10%的粒子的透过率不高于60%。若离散粒子计数器（DPC）或凝聚核计数器（CNC）的计数效率曲线落在图B.1阴影区之外的右侧，则不能用其测量或验证U描述符。若曲线落在阴影区之外的左侧，则可使用B.2.1.3介绍的粒径限制器来降低计数效率。此时，经改进的离散粒子计数器或凝聚核计数器的计数效率就成为原计数器的计数效率与粒径限制器透过率的乘积。北京洁净室环境检测技术好