晶圆切割是半导体封装的中心环节，传统刀片切割通过金刚石砂轮实现材料分离。中清航科研发的超薄刀片（厚度15-20μm）结合主动冷却系统，将切割道宽度压缩至30μm以内，崩边控制在5μm以下。我们的高刚性主轴技术可适配8/12英寸晶圆，切割速度提升40%，为LED、MEMS器件提供经济高效的解决方案。针对超薄晶圆（<50μm）易碎裂难题，中清航科激光隐形切割系统采用红外脉冲激光在晶圆内部形成改性层，通过扩张膜实现无应力分离。该技术消除机械切割导致的微裂纹，良率提升至99.3%，尤其适用于存储芯片、CIS等器件，助力客户降低材料损耗成本。中清航科多轴联动切割头，适应曲面晶圆±15°倾角加工。绍兴半导体晶圆切割划片
晶圆切割过程中产生的应力可能导致芯片可靠性下降，中清航科通过有限元分析软件模拟切割应力分布，优化激光扫描路径与能量输出模式，使切割后的晶圆残余应力降低40%。经第三方检测机构验证，采用该工艺的芯片在温度循环测试中表现优异，可靠性提升25%，特别适用于航天航空等应用领域。为帮助客户快速掌握先进切割技术，中清航科建立了完善的培训体系。其位于总部的实训基地配备全套切割设备与教学系统，可为客户提供理论培训、实操演练与工艺调试指导，培训内容涵盖设备操作、日常维护、工艺优化等方面，确保客户团队能在短时间内实现设备的高效运转。南京蓝宝石晶圆切割刀片切割路径智能优化系统中清航科研发，复杂芯片布局切割时间缩短35%。
为满足半导体行业的快速交付需求，中清航科建立了高效的设备生产与交付体系。采用柔性化生产模式，标准型号切割设备可实现7天内快速发货，定制化设备交付周期控制在30天以内。同时提供门到门安装调试服务，配备专业技术团队全程跟进，确保设备快速投产。在晶圆切割的工艺参数优化方面，中清航科引入实验设计（DOE）方法。通过多因素正交试验，系统分析激光功率、切割速度、焦点位置等参数对切割质量的影响，建立参数优化模型，可在20组实验内找到比较好工艺组合，较传统试错法减少60%的实验次数，加速新工艺开发进程。
为提升芯片产出量，中清航科通过刀片动态平衡控制+激光辅助定位，将切割道宽度从50μm压缩至15μm。导槽设计减少材料浪费，使12英寸晶圆有效芯片数增加18%，明显降低单颗芯片制造成本。切割产生的亚微米级粉尘是电路短路的元凶。中清航科集成静电吸附除尘装置，在切割点10mm范围内形成负压场，配合离子风刀清理残留颗粒，洁净度达Class1标准（>0.3μm颗粒<1个/立方英尺）。中清航科设备内置AOI（自动光学检测）模块，采用多光谱成像技术实时识别崩边、微裂纹等缺陷。AI算法在0.5秒内完成芯片级判定，不良品自动标记，避免后续封装资源浪费，每年可为客户节省品质成本超百万。中清航科晶圆切割代工厂通过ISO14644洁净认证，量产经验足。
晶圆切割的主要目标之一是从每片晶圆中获得高产量的、功能完整且无损的芯片。产量是半导体制造中的一个关键性能指标，因为它直接影响电子器件生产的成本和效率。更高的产量意味着每个芯片的成本更造能力更大，制造商更能满足不断增长的电子器件需求。晶圆切割直接影响到包含这些分离芯片的电子器件的整体性能。切割过程的精度和准确性需要确保每个芯片按照设计规格分离，尺寸和对准的变化小。这种精度对于在终设备中实现比较好电气性能、热管理和机械稳定性至关重要。切割道宽度测量仪中清航科研发，在线检测精度达0.05μm。常州芯片晶圆切割测试
中清航科切割液回收系统降低耗材成本35%，符合绿色制造。绍兴半导体晶圆切割划片
为满足汽车电子追溯要求，中清航科在切割机集成区块链模块。每片晶圆生成单独工艺参数数字指纹（含切割速度、温度、振动数据），直通客户MES系统，实现零缺陷溯源。面向下一代功率器件，中清航科开发等离子体辅助切割（PAC）。利用微波激发氧等离子体软化切割区材料，同步机械分离，切割效率较传统方案提升5倍，成本降低60%。边缘失效区（EdgeExclusionZone）浪费高达3%晶圆面积。中清航科高精度边缘定位系统通过AI识别有效电路边界，定制化切除轮廓，使8英寸晶圆可用面积增加2.1%，年省材料成本数百万。绍兴半导体晶圆切割划片
