企业商机
MappingOverInk处理基本参数
  • 品牌
  • 上海伟诺
  • 型号
  • 伟诺
  • 适用行业
  • 半导体
  • 版本类型
  • 网络版
  • 语言版本
  • 简体中文版
MappingOverInk处理企业商机

在智能制造转型背景下,YMS已不仅是数据分析工具,更是连接测试与工艺优化的中枢系统。系统实时汇聚来自ETS364、STS8107、93k等平台的测试结果,自动完成结构化清洗与整合,消除信息孤岛。标准化数据库支持动态监控良率变化,例如识别某机台连续三批边缘区域良率偏低,触发设备校准预警。SYL/SBL卡控功能则在指标超限时自动拦截异常批次,防止不良品流入下一环节。报表引擎支持按产品线、客户或班次生成定制化报告,适配不同管理层的信息需求。这种“采集—分析—干预—反馈”的闭环机制,明显提升了生产过程的可控性与响应速度。上海伟诺信息科技有限公司以打造中国半导体软件生态为使命,持续完善YMS的集成能力。Mapping Over Ink处理推动数据驱动决策,取代经验式质量判断。吉林晶圆GDBC服务商

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芯片制造对良率控制的颗粒度要求极高,任何微小偏差都可能造成重大损失。YMS系统通过自动接入各类Tester平台产生的多格式测试数据,完成高精度的数据解析与整合,确保从晶圆到单颗芯片的良率信息真实可靠。系统依托标准化数据库,支持按时间、区域、批次等多维度进行缺陷聚类与根因追溯,帮助研发与制造团队快速响应异常。结合WAT、CP、FT等关键节点数据的变化,可深入剖析工艺稳定性或设计兼容性问题。SYL与SBL参数的自动计算与卡控,为芯片级质量提供双重保障。报表工具支持按模板生成周期报告,并导出为常用办公格式,提升信息流转效率。上海伟诺信息科技有限公司自2019年成立以来,专注于半导体系统软件研发,其YMS系统正成为国产芯片企业提升产品竞争力的关键助力。海南自动化PAT解决方案Mapping Over Ink处理强化封测环节质量防线,拦截潜在失效风险Die。

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半导体测试是半导体制造过程中质量的一道关键防线,扮演着日益关键角色,单纯依赖传统电性测试的“通过/失败”界限,已无法满足对产品“零缺陷”的追求。为了大力提升测试覆盖度,构筑更为坚固的质量防线,采用GDBN技术来识别并剔除那些位于“不良环境”中的高风险芯片,已成为车规、工规等类产品不可或缺的必要手段。

细化需求。

为此,上海伟诺信息科技有限公司为客户提供了一套包含多重GDBN算法的综合解决方案,该方案具备高度的灵活性与强大的适应性,能够精确满足半导体设计公司与CP测试厂对提升产品可靠性的关键诉求,成为客户应对高质量挑战的可靠伙伴,共同构筑面向未来的半导体质量防线。

在半导体工厂高频率、多设备并行的测试环境中,人工处理异构数据极易延误问题响应。YMS系统通过自动化流程,实时汇聚来自STS8200、TR6850、ASL1000、MS7000等设备的多格式原始数据,完成统一解析与清洗,消除因格式差异导致的信息断层。结构化的数据库使良率数据可追溯、可比对,支持从批次到晶圆级别的精细监控。当某一批次良率骤降时,系统可迅速调取对应区域的缺陷热力图,并关联WAT、CP、FT参数变化,辅助工程师在数小时内锁定根本原因。SYL/SBL卡控功能则在指标超限时自动预警,防止不良品流入下一环节。周期性报表一键生成并支持多格式导出,满足从产线到高管的差异化信息需求。上海伟诺信息科技有限公司凭借对封测与制造场景的深入理解,持续优化YMS的数据驱动能力。Mapping Over Ink处理方案支持高密度逻辑与模拟芯片应用,覆盖多品类半导体产品。

在半导体设计公司或封测厂面临多源测试数据难以统一管理的挑战时,YMS良率管理系统提供了一套端到端的解决方案。系统自动对接ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200、TR6850等主流Tester平台,采集stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多种格式原始数据,并完成重复性检测、缺失值识别与异常过滤,确保分析基础可靠。通过标准化数据库对数据统一分类,企业可从时间维度追踪良率趋势,或聚焦晶圆特定区域对比缺陷分布,快速定位工艺异常。结合WAT、CP与FT参数的联动分析,进一步揭示影响良率的根本原因。SYL与SBL的自动计算与卡控机制强化了过程质量防线,而灵活的报表工具支持按模板生成日报、周报、月报,并导出为PPT、Excel或PDF格式,满足跨层级决策需求。上海伟诺信息科技有限公司自2019年成立以来,持续打磨YMS系统,助力客户构建自主可控的良率管理能力。上海伟诺信息科技SPAT功能,通过结合测试数据去除超出规范的芯片并生成新的Mapping。福建可视化MappingOverInk处理服务商

上海伟诺信息科技ZPAT功能,通过堆叠Mapping及不同算法帮助用户剔除潜在质量风险的芯片。吉林晶圆GDBC服务商

每日晨会前临时整理良率报表,常因数据口径不一引发争议。YMS系统按预设模板自动生成日报、周报、月报,内容涵盖良率趋势、区域缺陷分布、WAT/CP/FT关联分析等关键指标,并支持一键导出为PPT、Excel或PDF格式。生产主管可用PPT版直接汇报,质量工程师调取Excel原始数据深入挖掘,客户审计则接收标准化PDF文档。自动化流程消除手工汇总误差,确保全公司使用同一套可靠数据。报告生成时间从数小时压缩至分钟级,大幅提升跨部门协同效率。上海伟诺信息科技有限公司通过灵活报表工具,让数据真正服务于决策闭环。吉林晶圆GDBC服务商

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