硬件可靠性测试试验

电子产品器件密度不断提高，从第1代电子管产品到第二代晶体管，中小规模集成电路已经进入大规模和超大规模集成电路。电子产品正朝着小型化、小型化的方向发展。结果，器件的密度不断增大，使得器件内部温度升高，散热条件恶化。电子元器件的可靠性会随着环境温度的升高而降低，因此电子元器件的可靠性问题备受关注。可靠性测试已被列为检验和试验产品的重要质量指标。长期以来，人们只把产品的技术性能指标作为衡量电子元器件质量的标志，只反映了产品质量的一个方面，也不能反映产品质量的全局。因为如果产品不可靠，即使其技术性能好，也无法发挥作用。从某种意义上说，可靠性测试可以多方面反映产品的质量。可靠性测试也称产品的可靠性评估。硬件可靠性测试试验

温湿环境试验系列 　　序号 项目 试验范围 　　1 高温试验 （1）高温箱(小) 常温~300℃ 　　（2）1m3 常温~100℃ 　　（3）16 m3 常温+10℃~80℃ 　　（4）40 m3 常温+10℃~80℃ 　　2 低温试验 （1）0.2 m3 -40℃ 　　（2） 1m3 -40℃ 　　（3）16 m3 -40℃ 　　（4）16 m3 -40℃--70℃ 　　3 恒定湿热 （1）0.2 m3 20℃~80℃ 30%~95%R.H 　　（2） 1m3 20℃~80℃ 20%~98%R.H 　　（3）16 m3 20℃~80℃ 30%~95%R.H 　　（3）40 m3 20℃~80℃ 30%~95%R.H 　　4 交变高低温湿热 （1）0.2m3 -20℃~80℃ 30%~95%R. 　　（2）1m3 -40℃~80℃ 20%~98%R.H 　　（3）16 m3 -40℃~80℃ 30%~95%R.H 　　5 盐雾试验 　　35℃~50℃ 250L （1） 中性盐雾 　　（2） 铜加速乙酸 　　（3） 交变盐雾上海温度可靠性测试方案可靠性测试的开展能让用户在产品开发阶段，就对产品的属性有清晰的认知。

上海天梯检测技术有限公司ISTA运输包装检测认证为您提供如下的切实利益: （1）减少产品的损坏和流失,以保证产品价值； （2）节省分销成本； （3）减少和消除索赔争议； （4）缩短包装开发的时间,增强市场投放信心； （5）提高客户满意度和产品的市场占有率。 一系列：完全不模拟运输测试：包括ISTA1A,1B,1C,1D,1E,1G,1H; 二系列：部分模拟运输测试: 包括ISTA2A,2B,2C,2D,2E,2F; 三系列：完全模拟运输测试: 包括ISTA3A,3B,3E,3F,3H; 六系列： FedEx 联邦快递测试: 包括 ISTA6A,ISTA6B； 其中试验项目有环境预处理,压力,跌落,定频振动,堆码振动,随机振动,水平挤压,斜面冲击,旋转跌落等

可靠性测试可以是实验室内的试验，也可以是现场试验，可按试验目的分为工程试验和统计试验两类。工程试验的目的则是暴露产品的可靠性薄弱环节，并采取纠正措施加以排除，或使其故障率低于允许水平。这种试验由承制方进行，以研制样机为受试产品。再就是统计试验，统计试验的目的则是在一定的置信度要求下，验证产品的可靠性是否达到规定的定量要求。一般由有经国家认可的第三方可靠性测试机构进行测试。可靠性测试项目根据测试目的不同又分为很多种，如环境适应性类的高温试验、低温试验、温度冲击、盐雾试验等；机械环境类的振动测试、冲击测试、碰撞测试等。如何确定产品需做哪些可靠性试验?

高压空载，低压限流态运行试验 测试说明： 高压空载运行是测试模块的损耗情况，尤其是带软开关技术的模块，在空载情况下，软开关变为硬开关，模块的损耗相应增大。低压满载运行是测试模块在较大输入电流时，模块的损耗情况，通常状态下，模块在低压输入、满载输出时，效率较低，此时模块的发热较为严重。 试验是模仿电子产品工作状态进行的，即焊点由于自身的电阻，当有电流通过时会发热，而不工作时焊点恢复到室温，从高温到室温意味着焊点经受高低温的变化，在汽车电子中有些部位电子产品中焊点升温会达刭800C以上。如果再加上环境温度交替变化那么焊点升温还会更高。故该试验方法实用性强，但试验周期长费用高，试验前应做好充分准备。为什么要做可靠性试验？上海电子仪器可靠性测试

靠谱的可靠性测试公司要在控制测试价格的同时达到客户的要求。硬件可靠性测试试验

可靠性测试公司拥有相关部门批准的相关证明作为市场的准入门槛，这样既保证了自身所具备的实力，又可以让厂家安心将产品交于测试公司进行测试。这一证明也可以保证厂家与企业的长久且稳定的合作。同时因为公司接触的测试产品各异，所以面向的产品也是多种多样，测试公司可以满足许多不同公司的测试要求且具备丰富的测试能力。可靠性测试公司包含了可靠的产品测试，还拥有包装测试、新能源测试等多种测试能力，且会拥有专门的测试团队提前服务。硬件可靠性测试试验

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