企业商机
位移计基本参数
  • 品牌
  • 中科图测
  • 型号
  • ziki-M
  • 类型
  • 图像/视频位移计
  • 测量精度
  • ±0.02mm(距离1m);±0.1mm(距离10m);±0
  • 工作温度
  • -30℃至+60℃;
  • 用途
  • 桥梁、隧道、大坝、护坡、山体以及建筑物等结构位移的长期监测
  • 规格
  • ziki-M
  • 外形尺寸
  • 220*120*90
  • 重量
  • 1
  • 厂家
  • 中科图测
  • 产地
  • 成都
  • 监测距离
  • 2m-500m
  • 同时监测点数
  • 100
  • 相机分辨率
  • 30万-200万
  • 采集频率
  • 1-800Hz
  • 供电方式
  • 市电交流220V /太阳能
  • 靶标类型
  • 有源靶标/无源靶标
  • 主机功耗
  • 15W
  • 防护等级
  • IP65
  • 传输方式
  • 支持有线传输、4G/5G传输
位移计企业商机

Ziki-M型多点图像位移测量使用场景:汽车制造:在汽车制造中,Ziki-M型多点图像位移测量技术可以用于测量汽车的变形情况。例如,在汽车的生产过程中,由于生产过程中的振动和荷载等因素,汽车的变形情况会发生变化。而使用Ziki-M型多点图像位移测量技术可以实时监测汽车的变形情况,及时发现问题并采取措施,确保汽车的质量。机械制造:在机械制造中,Ziki-M型多点图像位移测量技术可以用于测量机械的变形情况。例如,在机械的制造过程中,由于制造过程中的振动和荷载等因素,机械的变形情况会发生变化。而使用Ziki-M型多点图像位移测量技术可以实时监测机械的变形情况,及时发现问题并采取措施,确保机械的质量。 相机位移计是如何工作的?高频率位移计案例

随着科技的不断发展,现代工程建设和制造业的发展越来越依赖于高精度的测量技术。而在这些领域中,多点图像位移测量技术已经成为了一种非常重要的测量方法。其中,Ziki-M型多点图像位移测量技术是一种非常先进的测量技术,它可以在多种场景下应用,下面我们就来详细了解一下iki-M型多点图像位移测量技术的使用场景。建筑工程:在建筑工程中,Ziki-M型多点图像位移测量技术可以用于测量建筑物的变形情况。例如,在高层建筑的施工过程中,由于施工过程中的振动和荷载等因素,建筑物的变形情况会发生变化。而使用iki-M型多点图像位移测量技术可以实时监测建筑物的变形情况,及时发现问题并采取措施,确保建筑物的安全性。 视频位移计厂家位移计是如何测量材料的位移的?

位移计是一种测量材料位移的仪器,通过测量物体的位置的变化来确定位移量。它被广泛应用于工程、材料科学、地质学等领域,用于研究材料的变形性能、结构的稳定性以及地壳运动等。位移计的工作原理基于物体的位置的变化,通常由一个固定的参考点和一个可移动的测量点组成。当物体发生位移时,测量点相对于参考点的位置也会发生变化。通过测量这种位置变化,位移计可以确定物体的位移量。根据不同的应用场景和要求,选择合适的位移计是很重要的。在实际应用中,可以根据需要选择位移计的精度、测量范围、稳定性等方面的特性。

当图像位移计进行测量时,它采用以下技术原理来实现精确的位移测量:特征点识别:图像位移计使用图像处理算法来识别和提取物体表面上的特征点,这些特征点可以是标记点、纹理区域或其他形状等。通过识别这些特征点,位移计可以跟踪它们的位置变化。特征匹配:在连续的图像帧之间进行特征点的匹配,通过匹配算法来确定特征点在不同帧之间的对应关系。这样,位移计可以准确地计算出特征点的位移量。相机标定:在进行位移测量之前,需要对使用的摄像机进行标定。标定过程中,位移计会获取相机的内部参数(如焦距、畸变等)和外部参数(相机与物体之间的位置和姿态信息),以确保测量结果的准确性。 材料试验位移计的使用可以帮助工程师评估材料的可靠性和耐久性。

提供实验数据和结果的功能:位移计可用于提供实验数据和结果,以协助研究人员进行数据分析和结果评估。通过位移计测量的位移数据可用于绘制应力-应变曲线、位移-时间曲线等图表,从而更好地理解材料的力学性能和变形行为。总结而言,位移计在材料试验中的作用主要包括测量材料的变形、确定材料的应力-应变关系、检测材料的弹性和塑性行为、监测材料的破坏行为以及提供实验数据和结果。它是研究材料力学性能和变形行为的重要工具之一。 材料试验位移计可以帮助我们评估材料的力学性能和变形特性。高频率位移计安装

相机位移计与其他测量设备有何不同?高频率位移计案例

图像位移计在半导体领域有多个应用,下面是一些常见的应用场景:1.芯片光刻对准:在半导体芯片制造过程中,图像位移计可用于芯片光刻对准。它能够实时监测芯片表面的位移和变形,帮助调整光刻机的参数,确保光刻器件与设计图案对准,提高芯片制造的准确性和成功率。2.集成电路封装测试:图像位移计可用于测试集成电路的封装质量。通过监测封装过程中芯片的位移和变形情况,可以评估封装的可靠性和质量,并提供反馈以改进封装工艺。3.晶圆上层结构分析:在研究晶圆上层结构时,如金属薄膜层或纳米结构,图像位移计可用于测量材料的微小位移和变形。它可以提供关于材料性能、变形机理和薄膜结构的重要信息。4.焊接质量监测:在半导体器件组装和焊接过程中,图像位移计可以用于监测焊点位移和变形。通过比对实际位移与规定的偏差范围,可以评估焊接质量,并提供实时的反馈来改善焊接工艺。5.薄膜材料应用研究:对于薄膜材料的研究,图像位移计可用于测量薄膜在不同加载和应变条件下的位移和变形。这可以帮助研究薄膜材料的力学性质、蠕变行为等,以及优化薄膜材料的应用性能。除了上述应用之外,图像位移计还可以用于半导体器件的故障诊断、表面瑕疵检测和质量控制等方面。 高频率位移计案例

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