企业商机
位移计基本参数
  • 品牌
  • 中科图测
  • 型号
  • ziki-M
  • 类型
  • 图像/视频位移计
  • 测量精度
  • ±0.02mm(距离1m);±0.1mm(距离10m);±0
  • 工作温度
  • -30℃至+60℃;
  • 用途
  • 桥梁、隧道、大坝、护坡、山体以及建筑物等结构位移的长期监测
  • 规格
  • ziki-M
  • 外形尺寸
  • 220*120*90
  • 重量
  • 1
  • 厂家
  • 中科图测
  • 产地
  • 成都
  • 监测距离
  • 2m-500m
  • 同时监测点数
  • 100
  • 相机分辨率
  • 30万-200万
  • 采集频率
  • 1-800Hz
  • 供电方式
  • 市电交流220V /太阳能
  • 靶标类型
  • 有源靶标/无源靶标
  • 主机功耗
  • 15W
  • 防护等级
  • IP65
  • 传输方式
  • 支持有线传输、4G/5G传输
位移计企业商机

图像位移计的技术原理基于光学的位移测量方法。它利用图像采集设备(如摄像机或传感器)获取物体表面标记点的图像,并通过图像处理算法来测量物体在空间中的位移。首先,在物体表面贴上或固定一组特殊的标记点,这些标记点可以是精确的黑白图案、斑点或其他形式的特征点。这些标记点在图像上表现出独特的纹理或形状,使得它们可以被识别和跟踪。接下来,通过摄像机或传感器对物体进行拍摄或捕捉。摄像机捕捉到的图像包含了标记点及其位置信息。然后,利用图像处理算法对这些图像进行分析。算法会检测和提取出标记点的位置,并根据标记点在图像中的变化来计算物体表面的位移。通过对标记点位置的跟踪和变化计算,图像位移计可以实时或离线地获取物体在三维空间中的位移和形变信息。这些数据可以用于分析物体的结构特性、应变量测量、变形分析等应用。总之,图像位移计通过光学成像及图像处理技术,利用物体表面的标记点作为参考,实现对物移和形变的高精度测量。它提供了一种非接触、高效、精确的位移测量解决方案,被广泛应用于工程、科学研究、制造等领域。 位移计的使用注意事项有哪些?建筑物位移计公司

位移计在建筑结构监测中扮演着重要角色,用于测量和监测建筑结构的变形和位移。通过实时监测和记录建筑结构的位移,可以及时发现和识别结构的变形和位移情况,确保建筑结构的安全和稳定。以下是位移计在建筑结构监测中的主要作用:1.结构安全评估:位移计可帮助工程师和监测人员评估建筑结构的安全性。通过监测结构的位移,可以了解结构的变形情况,判断是否存在异常变形或位移过大的情况,及时采取修复或加固措施。2.结构变形监测:位移计可实时监测建筑结构的变形情况。结构的变形可能由荷载、温度、湿度等因素引起,通过位移计可以准确测量结构的变形量和变形速度,帮助工程师了解结构的变形规律和趋势,为结构的设计和维护提供依据。 航天位移计质量位移计在材料测试中的应用是什么?

以下是一些常见的位移测量仪器的描述:激光测距仪:激光测距仪利用激光束来测量物体的距离。它通过发射一束激光,并测量激光束从仪器发射到物体反射回来所需的时间来确定距离。光电编码器:光电编码器是一种用于测量物体的位移的传感器。它通常由一个光源和一个光电探测器组成,通过测量光电探测器接收到的光信号的变化来确定位移。压电传感器:压电传感器是一种将压力转换为电信号的装置,可用于测量物体的位移。当物体受到压力时,压电传感器会产生电荷,通过测量电荷的变化来确定位移。超声波测距仪:超声波测距仪利用超声波来测量物体的距离。它通过发射超声波,并测量超声波从仪器发射到物体反射回来所需的时间来确定距离。

除了线性应变和剪切应变,还存在其他类型的应变,包括体积应变、热应变和电应变等。体积应变是指物体在受到体积变化力作用下发生的形变,可以通过测量物体的体积变化来计算。热应变是指物体在温度变化下发生的形变,可以通过测量物体的长度或体积变化来计算。电应变是指物体在电场作用下发生的形变,可以通过测量物体的电阻、电容或电感值的变化来计算。位移计测量应变是一种常用的测量方法,它可以通过测量物体的形变或变形程度来计算物体的位移。应变计和光栅测量是常用的位移计测量设备,它们具有高精度、非接触和无损等优点,在工程、科学研究和制造业等领域广泛应用。 位移计的测量范围有限吗?如果有,如何确定合适的测量范围?

图像位移计在半导体领域有多个应用,下面是一些常见的应用场景:1.芯片光刻对准:在半导体芯片制造过程中,图像位移计可用于芯片光刻对准。它能够实时监测芯片表面的位移和变形,帮助调整光刻机的参数,确保光刻器件与设计图案对准,提高芯片制造的准确性和成功率。2.集成电路封装测试:图像位移计可用于测试集成电路的封装质量。通过监测封装过程中芯片的位移和变形情况,可以评估封装的可靠性和质量,并提供反馈以改进封装工艺。3.晶圆上层结构分析:在研究晶圆上层结构时,如金属薄膜层或纳米结构,图像位移计可用于测量材料的微小位移和变形。它可以提供关于材料性能、变形机理和薄膜结构的重要信息。4.焊接质量监测:在半导体器件组装和焊接过程中,图像位移计可以用于监测焊点位移和变形。通过比对实际位移与规定的偏差范围,可以评估焊接质量,并提供实时的反馈来改善焊接工艺。5.薄膜材料应用研究:对于薄膜材料的研究,图像位移计可用于测量薄膜在不同加载和应变条件下的位移和变形。这可以帮助研究薄膜材料的力学性质、蠕变行为等,以及优化薄膜材料的应用性能。除了上述应用之外,图像位移计还可以用于半导体器件的故障诊断、表面瑕疵检测和质量控制等方面。 相机位移计是如何工作的?结构试验位移计算法

材料试验位移计的发展和创新对于材料科学和工程领域的进步至关重要。建筑物位移计公司

图像位移计是一种先进的测量设备,具有高精度、非接触式测量、实时可视化和便捷性等技术优势。通过图像处理和计算机视觉技术,它能够以亚像素级别的高精度进行位移测量,而且无需直接接触物体,减少了对被测物体的影响。同时,图像位移计可以实时采集和处理图像数据,以可视化方式呈现出测量结果,帮助用户实时监测物体的位移情况。此外,图像位移计具备适应不同尺寸和形状物体的测量能力,拥有高效便捷的操作方式,并支持数据记录和分析功能。总的来说,图像位移计具有高精度、非接触式测量、实时可视化和便捷性等技术优势,为用户提供了一种准确、方便的位移测量解决方案。 建筑物位移计公司

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