企业商机
位移计基本参数
  • 品牌
  • 中科图测
  • 型号
  • ziki-M
  • 类型
  • 图像/视频位移计
  • 测量精度
  • ±0.02mm(距离1m);±0.1mm(距离10m);±0
  • 工作温度
  • -30℃至+60℃;
  • 用途
  • 桥梁、隧道、大坝、护坡、山体以及建筑物等结构位移的长期监测
  • 规格
  • ziki-M
  • 外形尺寸
  • 220*120*90
  • 重量
  • 1
  • 厂家
  • 中科图测
  • 产地
  • 成都
  • 监测距离
  • 2m-500m
  • 同时监测点数
  • 100
  • 相机分辨率
  • 30万-200万
  • 采集频率
  • 1-800Hz
  • 供电方式
  • 市电交流220V /太阳能
  • 靶标类型
  • 有源靶标/无源靶标
  • 主机功耗
  • 15W
  • 防护等级
  • IP65
  • 传输方式
  • 支持有线传输、4G/5G传输
位移计企业商机

位移计是一种测量材料位移的仪器,通过测量物体的位置的变化来确定位移量。它被广泛应用于工程、材料科学、地质学等领域,用于研究材料的变形性能、结构的稳定性以及地壳运动等。位移计的工作原理基于物体的位置的变化,通常由一个固定的参考点和一个可移动的测量点组成。当物体发生位移时,测量点相对于参考点的位置也会发生变化。通过测量这种位置变化,位移计可以确定物体的位移量。根据不同的应用场景和要求,选择合适的位移计是很重要的。在实际应用中,可以根据需要选择位移计的精度、测量范围、稳定性等方面的特性。 成都中科图测的位移计可根据客户需求进行定制。工程试验位移计精度

图像位移计是一种先进的测量设备,具有高精度、非接触式测量、实时可视化和便捷性等技术优势。通过图像处理和计算机视觉技术,它能够以亚像素级别的高精度进行位移测量,而且无需直接接触物体,减少了对被测物体的影响。同时,图像位移计可以实时采集和处理图像数据,以可视化方式呈现出测量结果,帮助用户实时监测物体的位移情况。此外,图像位移计具备适应不同尺寸和形状物体的测量能力,拥有高效便捷的操作方式,并支持数据记录和分析功能。总的来说,图像位移计具有高精度、非接触式测量、实时可视化和便捷性等技术优势,为用户提供了一种准确、方便的位移测量解决方案。 主梁位移计案例位移计可以用于测量飞机的机翼位移。

以下是位移计在材料测试中的一些常见应用:1.断裂韧性测量:位移计可用于测量材料的断裂韧性,即材料在受到应力时抵抗断裂的能力。通过加载材料并测量位移,可以计算出材料的断裂韧性,这对于评估材料的可靠性和耐久性非常重要。2.疲劳性能测试:位移计可以用于评估材料的疲劳性能,即材料在循环加载下的耐久性能。通过加载材料并测量位移,可以监测材料的变形和损伤,从而评估其疲劳寿命和性能。3.压缩和剪切测试:位移计可用于测量材料在压缩和剪切加载下的变形行为。通过测量位移,可以确定材料的应力-应变曲线和变形特性,这对于材料的设计和分析非常重要。4.材料性能比较:位移计可以用于比较不同材料的性能。通过加载不同材料并测量位移,可以确定它们的强度、刚度、韧性等性能差异,从而帮助选择适合特定应用的材料。

在材料试验中,位移计是一种用于测量物体的位移或变形的仪器。选择适合的位移计对于准确测量材料的力学性能至关重要。以下是选择适合位移计的要点:测量范围:首先要确定需要测量的位移范围。不同的试验可能需要不同的位移范围,因此需要选择一个能够满足试验需求的位移计。通常,位移计的测量范围应略大于试验中预期的比较大位移。精度和分辨率:位移计的精度和分辨率也是选择时的重要考虑因素。精度是指位移计测量结果与实际位移之间的偏差,而分辨率是指位移计能够分辨的蕞小位移变化。通常情况下,精度和分辨率越高,位移计的测量结果越准确。 成都中科图测的位移计可用于监测建筑物的变形情况。

图像位移计在半导体领域有多个应用,下面是一些常见的应用场景:1.芯片光刻对准:在半导体芯片制造过程中,图像位移计可用于芯片光刻对准。它能够实时监测芯片表面的位移和变形,帮助调整光刻机的参数,确保光刻器件与设计图案对准,提高芯片制造的准确性和成功率。2.集成电路封装测试:图像位移计可用于测试集成电路的封装质量。通过监测封装过程中芯片的位移和变形情况,可以评估封装的可靠性和质量,并提供反馈以改进封装工艺。3.晶圆上层结构分析:在研究晶圆上层结构时,如金属薄膜层或纳米结构,图像位移计可用于测量材料的微小位移和变形。它可以提供关于材料性能、变形机理和薄膜结构的重要信息。4.焊接质量监测:在半导体器件组装和焊接过程中,图像位移计可以用于监测焊点位移和变形。通过比对实际位移与规定的偏差范围,可以评估焊接质量,并提供实时的反馈来改善焊接工艺。5.薄膜材料应用研究:对于薄膜材料的研究,图像位移计可用于测量薄膜在不同加载和应变条件下的位移和变形。这可以帮助研究薄膜材料的力学性质、蠕变行为等,以及优化薄膜材料的应用性能。除了上述应用之外,图像位移计还可以用于半导体器件的故障诊断、表面瑕疵检测和质量控制等方面。 位移计可以用于测量电子元件的位移。铁路边坡位移计方案

成都中科图测的位移计可用于地质勘探和矿山测量。工程试验位移计精度

电容式位移计利用电容的变化来测量位移。当物体发生位移时,电容器的电容值会相应地改变,从而改变电路中的电流或电压。通过测量电流或电压的变化,可以得到物体的位移信息。电感式位移计则利用电感的变化来测量位移。当物体发生位移时,电感器的电感值会相应地改变,从而改变电路中的电流或电压。通过测量电流或电压的变化,可以得到物体的位移信息。需要注意的是,位移计的输出信号是模拟信号,需要经过模数转换器(ADC)转换为数字信号,才能进行处理和分析。模数转换器将模拟信号转换为数字信号,使得位移计的输出可以被数字系统接收和处理。 工程试验位移计精度

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