企业商机
位移计基本参数
  • 品牌
  • 中科图测
  • 型号
  • ziki-M
  • 类型
  • 图像/视频位移计
  • 测量精度
  • ±0.02mm(距离1m);±0.1mm(距离10m);±0
  • 工作温度
  • -30℃至+60℃;
  • 用途
  • 桥梁、隧道、大坝、护坡、山体以及建筑物等结构位移的长期监测
  • 规格
  • ziki-M
  • 外形尺寸
  • 220*120*90
  • 重量
  • 1
  • 厂家
  • 中科图测
  • 产地
  • 成都
  • 监测距离
  • 2m-500m
  • 同时监测点数
  • 100
  • 相机分辨率
  • 30万-200万
  • 采集频率
  • 1-800Hz
  • 供电方式
  • 市电交流220V /太阳能
  • 靶标类型
  • 有源靶标/无源靶标
  • 主机功耗
  • 15W
  • 防护等级
  • IP65
  • 传输方式
  • 支持有线传输、4G/5G传输
位移计企业商机

位移计是一种用于测量物体的位移或变形的仪器,在工程、建筑、地质、材料科学等领域广泛应用。随着科技进步和需求增长,位移计的未来发展趋势将受到一系列影响和变化。以下是一些可能的未来发展趋势:1.精度和灵敏度提高:随着科技进步,位移计的精度和灵敏度将不断提高。引入新的传感器技术和信号处理算法将使位移计能够更准确地测量微小的位移和变形。2.无线传输和远程监测:传统的位移计通常需要通过有线连接传输数据,限制了其应用范围和便利性。未来的位移计可能采用无线传输技术,使数据可以远程传输和监测。这将使位移计在一些特殊环境或难以接触的地方得到更广泛的应用。 宽度测量位移计在工业生产中广泛应用,可以用于监测产品的尺寸变化。非接触位移计测量原理

图像位移测量系统是一种基于计算机视觉技术的测量系统,可以用于测量物体在平面内的位移、形变、旋转等参数。该系统由摄像机、图像采集卡、计算机、测量软件等组成,通过对物体在不同时间点的图像进行处理和分析,可以得到物体的位移和形变信息。该系统具有测量精度高、测量速度快、操作简便等优点,可以广泛应用于机械、航空、航天、电子、建筑等领域的位移测量和形变分析。同时,该系统还可以与其他测量设备(如应变计、位移传感器等)配合使用,提高测量精度和可靠性。目前市场上常见的图像位移测量系统产品包括:Vic-3D、ARAMIS、DIC3D、GOMCorrelate等。这些产品具有不同的特点和适用范围,用户可以根据自己的需求选择合适的产品。 飞机位移计技术指标位移计可以用于测量地震中地壳的位移。

图像位移计是一种基于图像处理和计算机视觉技术的精密测量设备。它利用摄像机以及特征点识别、特征匹配、相机标定和三维重建等技术原理,实现对物形变的准确测量。通过识别物体表面的特征点,并计算特征点在不同图像帧之间的位移量,图像位移计可以得出物体的位移和形变信息。同时,它还可以通过背景校正、噪声处理、高速图像采集和数据处理分析等技术手段,提高测量的准确性和可靠性。图像位移计广泛应用于结构工程、材料测试、运动分析和生命科学等领域,凭借其非接触式测量、高精度和实时可视化等特点,为用户提供了一种高效、可靠的位移测量解决方案。

电容式位移计利用电容的变化来测量位移。当物体发生位移时,电容器的电容值会相应地改变,从而改变电路中的电流或电压。通过测量电流或电压的变化,可以得到物体的位移信息。电感式位移计则是利用电感的变化来测量位移。当物体发生位移时,电感器的电感值会相应地改变,从而改变电路中的电流或电压。通过测量电流或电压的变化,可以得到物体的位移信息。需要注意的是,位移计的输出信号是模拟信号,需要经过模数转换器(ADC)转换为数字信号,才能进行处理和分析。模数转换器将模拟信号转换为数字信号,使得位移计的输出可以被数字系统接收和处理。 成都中科图测的位移计可用于监测建筑物的变形情况。

Ziki-M图像位移测量系统性能指标:监测距离:5-500m;同时监测点数:任意设定可见即可测;测量精度:±0.02mm(距离1m);±0.1mm(距离10m);±0.5mm(距离50m);±5mm(距离300m);相机分辨率:130万-2000万像素;采集频率:1-100Hz;供电方式:市电交流220V/太阳能;靶标类型:有源靶标/无源靶标;主机功耗:15W;防护等级:IP65;隧道裂缝智能识别与自动测量,裂缝测量精度:≦0.2mm,可测量病害距离10-15m;工作温度:-30℃至+60℃;传输方式:支持有线传输、4G/5G传输。 成都中科图测的位移计具有精确的测量能力。航空位移计精度

成都中科图测的位移计可用于桥梁和隧道的结构监测。非接触位移计测量原理

位移计的测量原理有多种,以下是几种常见的位移计测量原理的介绍:光学位移计:光学位移计利用光学原理来测量位移。它由光源、光学传感器和测量物体组成。光源发出光线,经过物体反射后被光学传感器接收。通过测量光线的强度、相位或干涉等参数的变化,可以确定物体的位移量。

电阻式位移计:电阻式位移计利用电阻的变化来测量位移。它由电阻元件和测量电路组成。当物体发生位移时,电阻元件的长度或截面积会发生变化,导致电阻值的变化。测量电路可以通过测量电阻值的变化来确定物体的位移量。

压电位移计:压电位移计利用压电效应来测量位移。压电材料具有特殊的电荷分布结构,当施加力或压力时,会产生电荷的不均匀分布,从而产生电势差。通过测量电势差的变化,可以确定物体的位移量。

拉线位移计:拉线位移计利用拉线的伸缩来测量位移。它由固定的参考点、可移动的测量点和连接两者的拉线组成。当物体发生位移时,拉线会伸缩,导致测量点相对于参考点的位置变化。通过测量拉线的伸缩量,可以确定物体的位移量。 非接触位移计测量原理

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