TB/T 2761轨道交通测试试验行业

上海天梯检测技术有限公司可靠性试验目的： 环境试验与可靠性试验的区别： 环境应力量值选用准则： 环境试验基本采用极值条件，用严酷代替温和，即采用产品在寿命周期内可能遇到的较极端的环境条件作为试验条件。许多试验带有一定的破坏性且试验过程中一般不需模拟产品的工作状态。而可靠性试验采用实效试验，即真实地模拟贮存，运输，使用过程中遇到的主要环境条件及其动态变化过程。在GJB-889和相应的MIL-STD-781 D中规定了一套要据任务剖面确定环境剖面，再将环境剖面简化为试验剖面对产品进行长时间可靠性考核的方法。可靠性试验一般不会对产品造成破坏，它需要模拟产品的工作状态，所用的试验条件大部分模拟工作中常遇到的较温和的应力环境，取值较环境试验低得多。轨道交通领域环境检测、振动噪声、电磁兼容、防火试验、电气安全检测。TB/T 2761轨道交通测试试验行业

上海天梯检测技术有限公司可靠性试验目的： 环境试验与可靠性试验的区别： 环境试验与可靠性试验虽然关系紧密，但它们在试验目的，所用环境应力数量，环境力量值选用准则，试验类型，试验时间，试验终止判据方面存在截然的不同之处。 试验目的： 环境试验考察的是产品对环境的适应性，确定产品的环境适应性设计是否符合合同要求，为接收，拒收提供决策依据。而可靠性试验是定量评估产品的可靠性，即产品在规定环境条件下，规定时间内完成规定功能的概率。上海轨道交通综合试验实验室知道轨道交通的试验标准是什么吗？上海天梯可以为您设计试验！出具专业报告！

⑸IPX 5

方法名称：喷水试验

试验设备：喷嘴的喷水口内径为 6.3mm

试验条件：使试验样品至喷水口相距为 2.5m ～ 3m ，水流量为 12.5 L/min （750 L/h)

试验时间：按被检样品外壳表面积计算，每平方米为 1 min （不包括安装面积） *少 3

min

⑹IPX 6

方法名称：强烈喷水试验；

试验设备：喷嘴的喷水口内径为 12.5 mm

试验条件：使试验样品至喷水口相距为 2.5m ～ 3m ，水流量为 100 L/min （6000 L/h)

试验时间：按被检样品外壳表面积计算，每平方米为 1 min（不包括安装面积）*少 3 min

机械冲击项目介绍

试验目的是确定在正常和极限温度下，当产品受到一系列冲击时，各性能是否失效。冲击试验的技术指标包括:峰值加速度、脉冲持续时间、速度变化量(半正弦波、后峰锯齿波、梯形波)和波形选择。冲击次数无特别要求外每个面冲击3次共18次。许多产品在使用、装卸、运输过程中都会受到冲击。冲击的量值变化很大并具有复杂的性质。因此冲击和碰撞可靠性测试适用于确定机械的薄弱环节，考核产品结构的完整性。

冲击试验波形

半正弦波

梯形波（方波）

三角波（前锋锯齿波及后锋锯齿波）

机械冲击试验条件

冲击类型：半正弦/方波冲击加速度脉冲宽度/速度变化率（方波）样品数量；试验轴向：±X/±Y/±Z；试验次数：n次/轴或n次/面；试验样品的大小---小于或等于设备*大尺寸；样品重量；样品的装夹，是否需要设计夹具（特殊夹具需客户提供）附加功能测试信息确认；试验依据（参考标准）及结果判定依据（结果判定方法） 我们为通信信号、车站设施、电气电子设备等领域的全mian的测试评价服务。

温度试验概念本试验是用来确定产品在温度气候环境条件下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于高温的温度和曝露持续时间。温度范围：-70℃～150℃，温差：±℃湿度范围：20～98%RH,湿差：±温度试验适用标准：GB/GB/，美国军yong标准，基本上国内和国外的环境测试标准……3.温度试验具体分类：高温试验本试验是用来确定产品在高温气候环境条件下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于高温的温度和曝露持续时间。低温试验本试验是用来确定产品在低温气候环境条件下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于低温的温度和曝露持续时间。轨道交通是指运营车辆需要在特定轨道上行驶的一类交通工具或运输系统。上海轨道交通综合试验实验室

上海天梯实验室出具的检测报告是国家认可的第三方检测报告，为满足产品出口需要，还可以出具英文检测报告。TB/T 2761轨道交通测试试验行业

轨道交通综合测试之

静电放电抗扰度测试概述

静电放电抗扰度试验(ESD)的国家标准为GB/T17626.2(等同于国际标准IEC61000-4-2)。

静电放电（ESD)是一种自然现象,经验表明,人在合成纤维的地毯上行走时,通过鞋子与地毯的摩擦,只要行走几步,人体上积累的电荷就可以达到10-6库仑以上(这取决于鞋子与地毯之间的电阻),在这样一个"系统"里(人/地毯/大地)的平均电容约为几十至上百pF,可能产生的电压要达到15kV.研究不同的人体产生的静电放电,会有许多不同的电流脉冲,电流波形的上升时间在100ps至30ns之间.电子工程师们发现,静电放电多发生于人体接触半导体器件的时候,有可能导致数层半导体材料的击穿,产生不可挽回的损坏.静电放电以及紧跟其后的电磁场变化,可能危害电子设备的正常工作。TB/T 2761轨道交通测试试验行业

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