综合轨道交通测试试验

    反复短路测试在各种输入和输出状态下将模块输出短路，模块应能实现保护或回缩，反复多次短路，故障排除后，模块应该能自动恢复正常运行。A、空载到短路：在输入电压全范围内，将模块从空载到短路，模块应能正常实现输出限流或回缩，短路排除后，模块应能恢复正常工作。让模块反复从空载到短路不断的工作，短路时间为1s，放开时间为1s，持续时间为2小时。这以后，短路放开，判断模块是否能够正常工作。B、满载到短路：在输入电压全范围内，将模块从满载到短路，模块应能正常实现输出限流或回缩，短路排除后，模块应能恢复正常工作。让模块从满载到短路然后保持短路状态2小时。然后短路放开，判断模块是否能够正常工作。C、短路开机：将模块的输出先短路，再上市电，再模块的输入电压范围内上电，模块应能实现正常的限流或回缩，短路故障排除后，模块应能恢复正常工作，重复上述试验10次后，让短路放开，判断模块是否能够正常工作。 上海天梯检测在轨道交通可靠性测试领域具有丰富经验。综合轨道交通测试试验

你了解轨道交通测试吗？可依据的标准有哪些吗?

轨道交通测试试验标准（2）：

下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，*注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其*新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。

(6) GB/T 21563-2008 轨道交通机车车辆设备 冲击和振动试验(IEC 61373:1999,IDT )

(7) GB/T 24338-2009轨道交通 电磁兼容 第3-2部分 机车车辆 设备(IEC62236-3-2:2003,MOD )

(8) TB/T 2761机车用电连接器基本技术条件

振动冲击轨道交通测试试验机构自动售检票系统以轨道交通售票、检票、计费、收费、统计、清分、管理等全过程的自动处理为目标。

  引用标准

IEC 60077-1:1999    

《铁路应用 机车车辆电气设备 第1部分：一般使用条件和通用规则》

IEC60077-2:1999      

《铁路应用 机车车辆电气设备 第2部分：电工器件 通用规则》

EN 50155          

《铁路设施 机车车辆上使用的电子设备》

IEC 61373-2010    

  铁路应用 机车车辆设备 冲击和振动试验

IEC 60571-2012      

轨道交通 机车车辆电子装置

EN 50121-3-2-2006     铁路设施 机车车辆设备 电磁兼容性

TB/T 1334-93      

  直接作用模拟指示机车电测量仪表技术条件

TB/T 2438-93      

  模拟指示机车速度表

众所周知，冬季是汽车的疲软期，由于气温骤降的缘故，车辆各个部位的零件或多或少都会受到些许影响，严重时甚至会影响到车辆的启动性能。因此，为了确保车辆在低温环境下能够正常运行，*在车辆的启动上，进行了低温冷启动试验、低温重复启动试验、低温热机启动试验等三个测试科目。

在车辆的启动测试过程中，要求测试环境温度保持在（0℃～-35℃），并且参与测试的车辆需要停放在能够被自然风吹拂冷却的位置8—72小时，在此基础上，还需要确保每次启动都能成功，并且无异响、无熄火故障等现象，才算通过测试 轨道交通EN50155标准需要做哪些测试？

轨道交通环境试验测试方法

交变湿热贮存试验：

（1） 在25℃±3℃、相对湿度75%条件下，贮存2h；在*后1h内，将相对湿度提高至不低于95%，温度仍保持25℃±3℃。

（2） 在3h内由25℃±3℃连续上升到55℃±2℃，*后15min内相对湿度不低于90%外，升温阶段相对湿度都不应低于95%；在55℃±2℃、相对湿度(93±3)%条件下，贮存9h；在3h内，将由55℃±2℃降至25℃±3℃，除*初的15min内不低于90%外，其他时间均不低于95%；在25℃±3℃、相对湿度不低于95%条件下，贮存9h。以上为一个循环，共进行2个循环。

轨道交通 机车车辆电子装置 GB/T 25119-2010,IEC 60571：2006。综合轨道交通测试试验

轨道交通综合测试之

静电放电抗扰度测试概述

静电放电抗扰度试验(ESD)的国家标准为GB/T17626.2(等同于国际标准IEC61000-4-2)。

静电放电（ESD)是一种自然现象,经验表明,人在合成纤维的地毯上行走时,通过鞋子与地毯的摩擦,只要行走几步,人体上积累的电荷就可以达到10-6库仑以上(这取决于鞋子与地毯之间的电阻),在这样一个"系统"里(人/地毯/大地)的平均电容约为几十至上百pF,可能产生的电压要达到15kV.研究不同的人体产生的静电放电,会有许多不同的电流脉冲,电流波形的上升时间在100ps至30ns之间.电子工程师们发现,静电放电多发生于人体接触半导体器件的时候,有可能导致数层半导体材料的击穿,产生不可挽回的损坏.静电放电以及紧跟其后的电磁场变化,可能危害电子设备的正常工作。综合轨道交通测试试验

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