纳米力学测试相关图片
  • 纳米力学材料测试应用,纳米力学测试
  • 纳米力学材料测试应用,纳米力学测试
  • 纳米力学材料测试应用,纳米力学测试
纳米力学测试基本参数
  • 品牌
  • 星石科技
  • 型号
  • 齐全
  • 类型
  • 纳米力学测试
纳米力学测试企业商机

微纳米材料力学性能测试系统可移动范围:250mm x 150mm;步长分辨率:50nm;Encoder 分辨率:500nm;较大移动速率:30mm/S;Z stage。可移动范围:50mm;步长分辨率:3nm;较大移动速率:1.9mm/S。原位成像扫描范围。XY 方向:60μm x 60μm;Z 方向:4μm;成像分辨率:256 x 256 像素点;扫描速率:3Hz;压头原位的位置控制精度:<+/-10nm;较大样品尺寸:150mm- 200mm。纳米压痕试验:测试硬度及弹性模量(包括随着连续压入深度的变化获得硬度和弹性模量的分布)以及断裂韧性、蠕变、应力释放等。 纳米划痕试验:获得摩擦系数、临界载荷、膜基结合性质。纳米摩擦磨损试验 :评价抗磨损能力。在压痕、划痕、磨损前后的SPM原位扫描探针成像: 获得微区的形貌组织结构。纳米力学测试还可以用于研究纳米结构材料的断裂行为和变形机制。纳米力学材料测试应用

纳米力学材料测试应用,纳米力学测试

分子微纳米材料在超声诊疗学中的应用,分子影像可以非侵入性探测体内生理和病理情况的变化,有利于研究疾病的病因、发生、发展及转归。近年来由于微纳米技术的飞速发展,超声分子影像也取得了长足的进步。微纳米材料具有独特的优点,可以负载多种药物/分子、容易进行理化修饰、可以进行多重靶向运输等。通过与超声结合可以介导血脑屏障的开放,实现多模态成像、诊疗一体化、重症微环境标志物监控和信号放大。进一步研究应着眼于其生物安全性,实现材料的无潜在致病毒性、无脱靶效应及能进行体内代谢等,解决这些问题将为疾病提供一种新的诊疗模式。重庆科研院纳米力学测试服务纳米力学测试可以帮助研究人员了解纳米材料的力学响应机制,从而推动纳米科学的发展。

纳米力学材料测试应用,纳米力学测试

摘要 随着科学技术的发展进步,材料的研发和生产应用进入了微纳米尺度,微纳米材料凭借其出色的性能被人们普遍应用于科研和生产生活的各方各面。与此同时,人们正深入研究探索微纳米尺度的材料力学性能参数测量技术方法,以满足微纳米材料的飞速发展和应用需求。微纳米力学测量技术的应用背景,随着材料的研发生产和应用进入微纳米尺度,以往的通过宏观的力学测量手段已不适用于测量微纳米薄膜和器件的力学性能参数的测量。近年来,微纳米压入和划痕等力学测量手段随着微纳米材料的发展和应用,在半导体薄膜和器件、功能薄膜、新能源材料、生物材料等领域应用愈发普遍,因此亟待建立基于微纳米尺度的材料力学性能参数测量的技术体系。

特点:能同时实现SEM/FIB高分辨成像和纳米力学性能测试,力学测量范围0.5nN-200mN(9个数量级),位移测量范围0.05nm-21mm(9个数量级),五轴(X,Y,Z,旋转,倾斜)闭环控制保证样品和微力传感探针的精确对准,能在SEM/FIB较佳工作距离下实现高分辨成像(可达4mm)以及FIB切割和沉积,五轴(X,Y,Z,旋转,倾斜)位移记录器实现样品台上多样品的自动测试和扫描,导电的微力传感探针可有效减少荷电效应,能够通过力和位移两种控制模式实现各种力学测试,例如拉伸、压缩、弯曲、剪切、循环和断裂测试等,电性能测试模块能够实现力学和电学性能同步测试(样品座配备6个电极)导电的微力传感探针可有效减少荷电效应,实现力学性能测试与其他SEM/FIB原位分析手段联用,如EDX、EBSD、离子束沉积和切割,兼容于SEM本身的样品台,安装和卸载快捷方便。纳米力学测试可以解决纳米材料在制备和应用过程中的力学问题,提高纳米材料的性能和稳定性。

纳米力学材料测试应用,纳米力学测试

常把纳米力学当纳米技术的一个分支,即集中在工程纳米结构和纳米系统力学性质的应用面。纳米系统的例子,包括纳米颗粒,纳米粉,纳米线,纳米棍,纳米带,纳米管,包括碳纳米管和硼氮纳米管,单壳,纳米膜,纳米包附,纳米复合物/纳米结构材料(有纳米颗粒分散在内的液体),纳米摩托等。纳米力学一些已确立的领域是:纳米材料,纳米摩檫学(纳米范畴的摩檫,摩损和接触力学),纳米机电系统,和纳米应用流体学(Nanofluidics)。作为基础科学,纳米力学是以经验原理(基本观察)为基础。包括:1.一般力学原理;2.由于研究或探索的物体变小而出现的一些特别原理。发展高精度、高稳定性纳米力学测试设备,是当前科研工作的重要任务。湖南化工纳米力学测试原理

随着纳米技术的不断发展,纳米力学测试技术也在不断更新换代,以适应更高精度的测试需求。纳米力学材料测试应用

对纳米元器件的电测量——电压、电阻和电流——都带来了一些特有的困难,而且本身容易产生误差。研发涉及量子水平上的材料与元器件,这也给人们的电学测量工作带来了种种限制。在任何测量中,灵敏度的理论极限是由电路中的电阻所产生的噪声来决定的。电压噪声[1]与电阻的方根、带宽和一定温度成正比。高的源电阻限制了电压测量的理论灵敏度[2]。虽然完全可能在源电阻抗为1W的情况下对1mV的信号进行测量,但在一个太欧姆的信号源上测量同样的1mV的信号是现实的。纳米力学材料测试应用

与纳米力学测试相关的**
信息来源于互联网 本站不为信息真实性负责