常见典型探头的功能：
1.它通常用于检测平行于锻件纵向表面的缺陷。
2.横波斜探头是一种利用横波探测的探头。它是一种探头，其入射角介于第1临界角和第2临界角之间，折射波为纯横波。主要用于检测垂直于检测面或与检测面成一定角度的缺陷，广泛应用于焊缝、管材、锻件的检测。
3.纵波角探头是一种入射角小于第1临界角的探头。其目的是用小角度纵波进行缺陷检测，或在横波衰减过大的情况下，利用纵波穿透力强的特点进行纵波斜入射检测。使用时，应注意试样中是否存在横波干扰。 荧光探伤是利用荧光材料在紫外光照射下，在零件表面荧光涂层的性质下，借助荧光检测零件表面缺陷。常州磁粉探伤剂联系方式
3.测试仪器的调整
使用仪器时，测量仪器的水平线性度和垂直线性度。时间基线标度可按比例调整以表示脉冲回波的水平距离、深度或声程。
4.扫描
扫描时一般考虑两个原则：一是保证试件的整个检测区域被足够的声束覆盖，避免漏检；二是扫描时声束入射方向始终符合规定要求。通用标准规定扫描速度不应大于150mm/s，在扫描过程中，应给探头适当且一致的压力，以保持探头的平稳移动。在扫描过程中，探头的方向应严格按照扫描方式的规定进行（应特别注意斜束探头）。
对于单探头探伤，由于探头移动方向的改变，缺陷检测的灵敏度会随着入射波方向的变化而变化；对于双探头法，另一个探头无法接收到反射或透射波。因此，为了避免漏检，每次扫描都应提供一定比例的波束覆盖。 绍兴U-ST探伤剂荧光法是将荧光渗透液涂在工件表面，通过毛细作用渗入缺陷中，清洗工件表面，留下缺陷中的渗透液进行显象。
不同行业有不同的探伤要求和公差。对于荧光渗透检测和磁粉检测，航空航天行业对其工艺的各个环节都提出了很高的要求。经过5年的研究，astme3022标准化了航天工业中对LED UV-A黑光的要求。本标准规定了灯具制造商荧光探伤的标准性能。通过ASTM e3022认证的Led UV-A灯可用于所有航空航天组织和原始设备制造商，并符合NADCAP审核标准。
型式试验主要测试灯具的性能，包括工作距离、辐照形式、热稳定性、工作温度、电流控制、电池放电曲线和UV-A滤光片透过率。以上信息可用于编写正确使用探伤的具体程序。
此外，需要对每个灯进行单独的测试，以确定每个灯的具体性能。这些测试在制造过程中进行，包括峰值波长、发射光谱和极限UV-A照度。符合ASTM e3022标准的灯具应附有上述所有试验的认证记录。
1） 由于超声波的衍射作用，超声波探伤的灵敏度约为波长的一半。在同一种材料中，超声波的传播速度是一定的，因此提高频率可以缩短超声波的长度，提高检测灵敏度，有利于检测较小的缺陷。
2） 高频、小脉宽、高分辨率有助于区分相邻缺陷，提高分辨率。
3） 根据扩散公式，如果频率高，超声波长度长，半扩散角小，声束方向性好，超声能量集中，有利于缺陷的检测和定位，定量精度高。
4） 根据近场区长度公式，高频、长超声波、大近场长度不利于探伤。
5） 根据衰减和吸收公式，随着超声频率和介质粒度的增加，超声波的衰减迅速增加。 磁粉探伤的缺点也很明显。它只适用于铁磁性材料，只能显示缺陷的长度和形状，但难以确定缺陷的深度。
工作距离与照射形态
LED UV-A灯的照明面积是指被检表面黑光强度大于1000μw/cm2（探伤所需的最小值）的区域。曝光面积较小的灯可用于检测较小的区域，如孔、焊接接头和内表面。在大型结构中使用时，较小的暴露区域会产生“隧道视觉”，探伤人员只关注一个区域，暴露区域以外的指示很容易被漏掉。曝光面积较大的灯可以向眼睛注视（检查）周围区域提供UV-A辐射。这样，探伤人员就可以快速定位和识别这些区域的荧光显示，以便进行进一步的检测。 然后，在适当的光照条件下，可以揭示缺陷的位置和形状，并观察和解释这些磁粉的积聚。南京码科泰克探伤剂质量保证
磁粉探伤也可用于棒材、坯料、锻件、铸件等半成品和原材料的检验，以发现存在的表面缺陷。常州磁粉探伤剂联系方式
荧光渗透探伤，是指将含有荧光染料的渗透剂渗透到工件表面的微裂纹中，清洗干净后涂上吸附剂，使缺陷内的荧光油渗出表面的方法，紫外灯照射下出现黄绿色荧光斑点或条纹，以发现和判断缺陷。荧光探伤是利用荧光材料在紫外光照射下，在零件表面荧光涂层的性质下，借助荧光检测零件表面缺陷。
荧光检测是在铸件表面涂上在紫外线照射下具有较强荧光的荧光液体。荧光液从铸件表面的缺陷开口处渗入铸件中，除去表面多余的荧光液，然后喷洒显示粉。由于毛细管效应，渗入缺陷的荧光液体被显示粉末吸出。在荧光灯的照射下，暗室铸件的缺陷呈亮白色。荧光探伤方法简单、灵敏。它能检测出铸件表面细小的裂纹，但不能检测铸件内部的深层缺陷。 常州磁粉探伤剂联系方式
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