关于各测试项目的具体描述如下：·项目2.1Add-inCardTransmitterSignalQuality:验证插卡发送信号质量，针对2.5Gbps、5Gbps、8Gbps、16Gbps速率。·项目2.2Add-inCardTransmitterPulseWidthJitterTestat16GT/s:验证插卡发送信号中的脉冲宽度抖动...

  例如，分辨率为UXGA（1600×1200）的DVI信号，其信号传输速率为1.625Gbps，当该信号在FR4材料的PCB上传输时，其信号带宽波长为：3×10+8÷（4）1/2÷（1.625×10+9×5）≈0.02（m）=20mm，其中，FR4材料的相对介电常数为4。当DVI信号在PCB上传输时，传输通道长度大于1/4带宽波长，即5...

  2.3.3信号完整性的意义 只要有信号的传输，就存在信号的完整性问题。归纳起来，信号完整性问题存在于以下三个层面。 ①系统级信号完整性问题：进行设备与设备电气互联的信号传输时可能存在的信号完整性问题。 ②板级信号完整性问题：进行电子模块上器件与器件电气互联的信号传输时可能存在的信号完整性问题。 ③芯片级信号完整...

  2.4.2影响电源完整性的因素 良好的电源供电单元，类似良好的个人资金供给系统，应满足以下条件： ●电源转换装置必须能够提供稳定且功率充足的电源功率，否则受电器件会因得不到足够的电源功率而无法正常工作； ●中远距电源供电中继电容器必须能够存储足够的电源能量，并及时补充受电器件附近的近距电源供电中继电容器所消耗的能量；...

  2.1.2数字信号的时域特性高速信号传输的主要研究内容是高速数字信号传输，因此，我们先以时钟信号为例，讨论数字信号在时域和频域中的特征。在时域中，时钟信号有两个重要的参数，即时钟周期和上升时间。图2.1说明了数字时钟信号的这两个特性。时钟信号波形 时钟周期就是时钟信号重复一次的时间间隔，在高速信号系统中，时钟信号的周期（Tclo...

  需要注意的是，每一代CBB和CLB的设计都不太一样，特别是CBB的 变化比较大，所以测试中需要加以注意。图4.10是支持PCIe4.0测试的夹具套件，主要包括1块CBB4测试夹具、2块分别支持x1/x16位宽和x4/x8位宽的CLB4测试夹具、1块可 变ISI的测试夹具。在测试中，CBB4用于插卡的TX测试以及主板RX测试中的校准； CL...

  HDMI测试 对于设备制造商来说，重要的是保证产品的互操作性以获得良好的用户体验。 HDMI协会要求在市面上销售的HDMI设备必须通过相应的一致性测试，对于不同设备的 测试项目和测试方法的要求可以参考其CTS规范(Compliance Test Specification,一致性 测试规范)或各测试设备厂商的MOI(Meth...

  Cle4.0测试的CBB4和CLB4夹具无论是Preset还是信号质量的测试，都需要被测件工作在特定速率的某些Preset下，要通过测试夹具控制被测件切换到需要的设置状态。具体方法是：在被测件插入测试夹具并且上电以后，可以通过测试夹具上的切换开关控制DUT输出不同速率的一致性测试码型。在切换测试夹具上的Toggle开关时，正常的PCle4...

  要精确产生PCle要求的压力眼图需要调整很多参数，比如输出信号的幅度、预加重、 差模噪声、随机抖动、周期抖动等，以满足眼高、眼宽和抖动的要求。而且各个调整参数之间 也会相互制约，比如调整信号的幅度时除了会影响眼高也会影响到眼宽，因此各个参数的调 整需要反复进行以得到 一个比较好化的组合。校准中会调用PCI-SIG的SigTest软件对信号...

  和发送端测试类似， USB4.0 需要支持有源电缆 (Case 1) 和无源电 缆 (Case 2) 两种应用场景，接收端对应的测试点分别是 TP3’和 TP3。既然信号源需要提供一个标准的符合规范的压力信号进行 接收端测试， 就必须采用示波器对压力信号进行校准， 保证信号 源发出的信号经过不同的夹具、电缆后到达测试点各压力成分均 ...

  HDMI2.1物理层测试 测试中应通过测试夹具引出被测的高速TMDS或FRL信号，使用4只探头同时连接 被测信号进行测试，并通过SCDC/EDID的控制器来控制被测的源设备输出不同状态和速 率的被测信号。图6.5是一个典型的HDMI信号质量测试连接图。需要注意的是，在 HDMI1.4的测试中，除了一些单端特性的测试(如VL、线对...

  DDR测试 测试头设计模拟针对测试的设计（DFT）当然收人欢迎，但却不现实。因为自动测试仪的所需的测试时间与花费正比于内存芯片的存储容量。显然测试大容量的DDR芯片花费是相当可观的。新型DDR芯片的通用DFT功能一直倍受重视，所以人们不断试图集结能有效控制和观察的内部节点。DFT技术，如JEDEC提出的采用并行测试模式进行多阵列...