芯片测试机基本参数
  • 品牌
  • 泰克光电
  • 型号
  • 齐全
  • 类型
  • 芯片测试机
芯片测试机企业商机

测试相关的各种名词:ATE-----------Automatic Test Equipment,自动化测试设备,是一个高性能计算机控制的设备的集中,可以实现自动化的测试。Tester---------测试机,是由电子系统组成,这些系统产生信号,建立适当的测试模式,正确地按顺序设置,然后使用它们来驱动芯片本身,并抓取芯片的输出反馈,或者进行记录,或者和测试机中预期的反馈进行比较,从而判断好品和坏品。Test Program---测试程序,测试机通过执行一组称为测试程序的指令来控制测试硬件。DUT-----------Device Under Test,等待测试的器件,我们统称已经放在测试系统中,等待测试的器件为DUT。芯片测试机其原理基于芯片的电路设计和功能测试。广州LED芯片测试机厂家

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本发明在另一实施例中公开一种芯片测试机的测试方法。该测试方法包括以下步骤:将多个待测试芯片放置于多个tray盘中,每一个tray盘中放置多个待测试芯片,将多个tray盘放置于自动上料装置,并在自动下料装置及不良品放置台上分别放置一个空tray盘;移载装置从自动上料装置的tray盘中取出待测试芯片移载至测试装置进行测试;芯片测试完成后,移载装置将测试合格的芯片移载至自动下料装置的空tray盘中,将不良品移载至不良品放置台的空tray盘中;当自动上料装置的一个tray盘中的待测试芯片全部完成测试,且自动下料装置的空tray盘中放满测试合格的芯片后,移载装置将自动上料装置的空tray盘移载至自动下料装置。南昌LED芯片测试机生产厂家Test Program测试程序,测试机通过执行一组称为测试程序的指令来控制测试硬件。

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设备软件:1.中英文软件界面,三级操作权限,各级操作权限可自由设定力值单位Kg、g、N,可根据测试需要进行选择。2.软件可实时输出测试结果的直方图、力值曲线,测试数据实时保存与导出功能,测试数据并可实时连接MES系统软件可设置标准值并直接输出测试结果并自动对测试结果进行判定。3.SPC数据导出自带当前导出数据值、较小值、平均值及CPK计算。传感器精度:传感器精度±0.003%;综合测试精度±0.25%测试传感器量程自动切换。测试精度:多点位线性精度校正,并用标准法码进行重复性测试,保证传感器测试数据准确性。软件参数设置:根据各级权限可对合格力值、剪切高度、测试速度等参数进行调节。测试平台:真空360度自由旋转测试平台,适应于各种材料测试需求,只需要更换相应的治具或压板,即可轻松实现多种材料的测试需求。

优先选择地,所述机架上还固定有中转装置,所述中转装置位于所述自动上料装置及自动下料装置的一侧,所述中转装置包括气缸垫块、中转旋转气缸及tray盘中转台,所述中转旋转气缸固定于所述气缸垫块上,所述tray盘中转台与所述中转旋转气缸相连。优先选择地,所述自动上料机构、自动下料机构均包括伺服电机、行星减速机、滚珠丝杆、头一移动底板、第二移动底板47、以及位于所述滚珠丝杆两侧的两个导向轴,所述伺服电机与所述行星减速机相连,所述行星减速机通过联轴器与所述滚珠丝杆相连,所述滚珠丝杆及两个导向轴分别与所述头一移动底板相连,所述头一移动底板与所述第二移动底板47相连。芯片测试机能够支持自动测量硬件,并确定大多数问题,以确保芯片在正常运行。

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优先选择地,所述机架上还设置有预定位装置,所述预定位装置包括预定位旋转气缸、预定位底座及转向定位底座,所述预定位底座与所述预定位旋转气缸相连,所述预定位底座位于所述预定位旋转气缸与所述转向定位底座之间,所述转向定位底座上开设有凹陷的预定位槽。优先选择地,所述预定位装置还包括至少两个光电传感器,所述机架上固定有预定位气缸底座,所述预定位旋转气缸固定于所述预定位气缸底座上,所述预定位气缸底座上设有相对设置的四个定位架,所述预定位底座及转向定位底座位于四个所述定位架支之间,两个所述光电传感器分别固定于两个所述固定架上。在 IC 设计阶段时,将各个不同的 IC 放在一起制作成一张光罩,整合在一颗芯片中。MINI芯片测试机多少钱

测试机要求,测试机的资源需求,比如电源数量需求、程序的编写环境、各种信号资源数量、精度如何这些。广州LED芯片测试机厂家

晶圆、单颗die和封装的芯片。Wafer就是晶圆,这个由Fab进行生产,上面规则地放着芯片(die),根据die的具体面积,一张晶圆上可以放数百数千甚至数万颗芯片(die)。Package Device就是封装好的芯片,根据较终应用的需求,有很多种形式,这个部分由芯片产业价值链中的封装工厂进行完成。Prober--- 与Tester分离的一种机械设备,主要的作用是承载wafer,并且让wafer内的一颗die的每个bond pads都能连接到probe card的探针上,并且在测试后,移开之前的接触,同时移动wafer,换另外的die再一次连接到probe card的探针上,并记录每颗die的测试结果。广州LED芯片测试机厂家

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