扫描波长光学测量解决方案结合使用一个或多个光功率计与可调激光源 (TLS)，可以支持光功率与波长关系测量。此类测量常用于确定被测器件输入功率与输出功率的比值，比值称为插入损耗，单位为 dB。当 TLS 在选中范围内调谐波长时，功率计将定时采样指定数量测量点的功率。通过一个触发信号与 TLS 扫描同步，这些样本能够实现与对应波长的精确相关。使用多个功率计可以同时测量多端口器件 (例如多路复用器、功率分离器和波长开关) 的输出。使用81600B、81940A 或 81980A TLS，以及功率计 (例如 816x 系列模块或多端口 N7744A 和 N7745A) 和**的 N7700A IL 软件，可以组成一个测量系统。这些“波长扫描”例程的编程过程非常简单，可以使用**的 816x 即插即用驱动程序，并应用 N4150A 光基础程序库 (PFL) 的测量功能进行增强。该测量装置在 TLS 后与 81610A 回波损耗模块连接，还可以测量光反射 (回波损耗)。腔体，尺寸比较大可到1米5。丽水两低温光学测试系统
为了解决实际测量中单一测量方法存在的局限性,结合白光干涉测量技术与共聚焦测量技术,通过紧凑型部分共光路结构原则,设计并搭建了一套超精密表面形貌光学测量系统,实现微纳米几何形貌的三维重构与测量。基于C#语言与DirectX11开发组件,开发了上位机执行软件,实现了两种光学测量模式下硬件的协调控制及纳米标准样板表面形貌的三维重构。对台阶高度标定值为(98.8±0.6)nm的台阶标准样板进行测量,实验表明:用白光干涉测量模式和共聚焦测量模式分别实现了对台阶样板的大范围快速测量和小范围精密测量,10次测量的平均值分别为100.5和99.8 nm,标准差均小于2 nm,说明该系统能较好地满足微纳器件超精密表面形貌测量的要求。南京响应时间高低温光学测试系统可选配PMT＋光谱仪自动切换。
OLED光学测量系统
产品概要
二维色彩分析仪CA-2500采用可媲美人眼视觉效果的XYZ滤镜及高像素CCD ,能够对智能shou机、平板电脑等各种显示屏的亮度分布、色度分布进行准确、高 分辨率的二维测量。使用的**软件充分兼顾易用性,用户通过极简单的操作,就能在短时间内完成从测量到数据分析、评估的全过程,大幅提高了测量效率,可在开发评估、检测等方面发挥重要作用。
主要用途
统一测量多个中小型液晶面板、有机EL面板的亮度、色度分布测量单个大型液晶面板、有机EL面板的亮度、色度分布测量照明范围内的亮度分布，测量各种发光体的亮度、相关色温分布，测量车用仪表的亮度分布。
光谱法
光谱法利用物质的光谱特征，进行定性、定量及结构分析的方法称为光谱法或光谱分析法。按物质能级跃迁的方向，可分为吸收光谱法（如紫外-可见分光光度法、红外分光光度法、原子吸收分光光度法）及发射光谱法（如原子发射光谱及荧光分光光度法等）。按年能级跃迁类型，可分为电子光谱、振动光谱及转动光谱等类别。按发射或吸收辐射线的波长顺序，分为γ射线、X射线、紫外、可见及红外光谱法、微波谱法以及电子自旋共振波谱法等。按被测物质对辐射吸收的检测方法的差别（在明背景下检测吸收暗线或是在暗背景下检测共振明线）可分为吸收光谱法与共振波谱法两类。按被测物质粒子的类型，可分为原子光谱、分子光谱等。 机械架构根据客户要求灵活定制，可选配PMT＋光谱仪自动切换。
ORI测试系统是一个模块化的，多功能的测试系统用于 ***的光学系统测试，ORI测试系统支持光学模块一系列重要参数的测试：MTF（轴上，离轴）、分辨率（可见光/近红外镜头）、有效焦距、畸变、渐晕、透过率、后焦距、工作焦距、焦距深度、场曲。支持汇聚镜头与发散镜头头的测试。
ORI测试系统使用逆成像结构测试光学镜头，也就是说目标发生器模块位于被测试光学镜头的焦面处以作为一套图像投影系统，被测试的镜头生成一个畸变的图像。输出图像的质量可以在一系列不同光谱带宽的电子相机以及专业软件的辅助下进行测试评估。 光学探测器，机械架构根据客户要求灵活定制。甘肃显示屏高低温光学测试系统
按照客户要求定制报表输出。丽水两低温光学测试系统
工业检测系统设计能根据客户的需求不断的为客户提供性价比好的检测系统。加快客户产品投放市场的进度，同时也提高客户产品在市场的竞争优势。包括以下设计内容：1） 数据处理：数据采集、数据分析、数据传输2） 工业组态软件设计：实时数据库、实时控制、连网、开放数据接口、对I/O设备的***支持。3） **控制系统设计 。 技术服务在实际工作中，有的设备需要为了提高加工精度或增加其他所需的检测功能。也需要提供相映的技术服务，使之具有更高自动化程度和自动计量与检测功能。丽水两低温光学测试系统
