湖北透过率补偿膜光轴角测试仪销售厂家

相位差测量仪主要是由锁相环产生360倍频基准信号和移相网络的基准信号与待测信号进行异或后的信号作为显示器的闸门电路和控制信号。频率测量模块主要是用计数法测量频率的，它是有某个已知

标准时间间隔Ts内，测出被测信号重复出现的次数N，然后计算出频率f=N/Ts.显示电路模块主要是由计数器、锁存器、译码器和数码管组成。

相位差测试仪是工业领域中是经常用到的一般测量工具，比如在电力系统中电网并网合闸时，需要两电网的电信号相同,这就需要精确的测量两工频信号之间的相位差。 轴角度测量范围：0°~180，轴角度测量范围：0°~180。湖北透过率补偿膜光轴角测试仪销售厂家

相位差测试仪是工业领域中是经常用到的一般测量工具,比如在电力系统中电网并网合闸时，需要两电网的电信号相同,这就需要精确的测量两工频信号之间的相位差。更有测量两列同频信号的相位差在研究网络、系统的频率特性中具备重要意义。相位测量的方法很多,典型的传统方法是通过显示器观测，这种方法误差较大，读数不方便。为此，我们设计了一种数字相位差测量仪，实现了两列信号相位差的自动测量及数显。近年来,随着科学技术的迅速发展，很多测量仪逐渐向“智能仪器”和“自动测试系统”发展，这使得仪器的使用比较简单，功能越越多。甘肃偏光片补偿膜光轴角测试仪商家测量波段：550nm单波段（可根据客户要求定制波段）。

相位差测试仪的发展与现状

相位测量技术的研究由来已久,**早的研究和应用是在数学的矢量分析和物理学的圆周运动以及振动学方面，随之在电力部门、机械部门、航空航天、地质勘探、海底资源等方面也相应得到重视和发展。随着电子技术和计算机技术的发展,相位测量技术得到了迅速的发展，目前相位测量技术已较完善，测量方法及理论也比较成熟，相位测量仪器已系列化和商品化。现代相位测量技术的发,展可分为三个阶段:***个阶段是早期采用的诸如阻抗法、和/差法、三电压法、对比法和平衡法等，虽方法简单，但测量精度较低，第二阶段是利用数字**电路，微处理器、FPGA/CPLD、 DSP 等构成测相系统，使测量精度得以**提高，第三阶段是充分利用计算机及智能化虚拟测量技术，从而**简化设计程序，增强功能，使得相应的产品精度更高，功能更全，同时各种新的算法也随之出现。

光谱仪参数

探测器类型:                   HAMATSU光电二极管阵列

像素点：                              2048

光栅：                          全息平场凹面衍射光栅

狭缝：        可选择狭缝宽度（25um、50um、100um、200um）

光谱范围：                        VIS：400--800nm

UV-VIS:190--800nm

光学分辨率：                     VIS：1.5nm（100um狭缝）

UV-VIS:1.5nm（100um狭缝）

波长精度：                             ±0.2nm

光谱杂散光：                             <0.05%（400nm）

信噪比：                               2000：1

AD分辨率：                             16bit

积分时间：                            0.1ms--60s

供电：                                 5V/220mA

通讯接口：                          USB2.0（480Mbps）

解析多层相位差：相位差（0~20000nm）

吸收轴角度/偏光轴角度

透过率，色度（La、b），偏光度

快轴慢轴角度

单波段（550nm为主）/多波段测试（380nm~nm为主）

内应力（此功能软件开发中） 专业性:光学博士团队合力研发，追求国产替代。

所谓移相是指两种同频的信号，以其中的一路为参考，另一路相 对于该参考作超前或滞后的移动，即称为是相位的移动。两路信号的 相位不同，便存在相位差，简称相差。若我们将一个信号周期看作是 360，则相差的范围就在0°～360°。：两个同频信号之间的移相， 是电子行业继电保护领域中模拟、分析问题的一个重要手段，利用移 相原理可以制作校验各种有关相位的仪器仪表、继电保护装置的信号 源。因此，移相技术有着特别广的实用价值。我们知道，将参考信号整 形为方波信号，并以此信号为基准，延时产生另一个同频的方波信号， 再通过波形变换电路将方波信号还原成正弦波信号。相位差测试仪：补偿膜光轴角测试仪。吉林光学膜透过率补偿膜光轴角测试仪用途

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PLM系列是由苏州千宇光学科技有限公司精心设计研发及生产的一款高精度相位差轴角度测量仪。该设备可解析多层相位差，是对吸收轴角度、快慢轴角度、相位差、偏光度、色度及透过率等进行高精密测量；是结合偏光解析和一般光学特性分析于一体的设备；并提供不同型号，供客户进行选配。

设备主要运用于：偏光片，盖板玻璃，双折射材料，离型膜，补偿膜，其他光学材料的测试中。可解析多层相位差，主要测试项目包括：吸收轴角度，偏光轴角度，快轴，慢轴角度，波长分散性，三次元折射率，相位差R0/Rth（0~20000nm）,透过率，色度，偏光度。 湖北透过率补偿膜光轴角测试仪销售厂家