来间接的测定信号传播的时间,从而求得被测距离的。因此,信号相位测量的精度也就决定了测距的精度。相位测量技术的研究由来已久,**早的研究和应用是在数学的矢量分析和物理学的圆周运动以及振动学方面,随之在电力部门、机械部门、航空航天、地质勘探、海底资源等方面也相应得到重视和发展。随着电子技术和计算机技术的发展,相位测量技术得到了迅速的发展,目前相位测量技术已较完善,测量方法及理论也比较成熟,相位测量仪器已系列化和商品化。现代相位测量技术的发展可分为三个阶段:***阶段是在早期采用的诸如阻抗法、和/差法、三电压法、比对法和平衡法等,虽然方法简单,但测量精度较低;第二阶段是利用数字**电路、微处理器、FPGA/CPLD、DSP等构成测相系统,使测量精度得以**提高;第三阶段是充分利用计算机及智能化虚拟测量技术,从而**简化设计程序,增强功能,使得相应的产品精度更高、功能更全。同时,各种新的算法也随之出现。相位测量是正弦信号经过不同的时间或不同的网络后可以有不同的相位。通常所谓相位测量是指对两个同频率信号之间相位差的测量。**常见的是对网络输入与输出信号的相位差,即网络相移的测量。高精度轴角度相位差测量仪吸收轴角度/偏光轴角度。安徽光学膜补偿膜光轴角测试仪供应商
相位差测量是两同周期正弦电量对应点间角度差值的测量。
此两正弦电量可以同为电压、电流,或一为电压、一为电流等。对应点常取正弦电量由负到正的过零点,相当于正弦电量函数的初相角。相位差的单位是度或弧度,正、负号表示**或滞后关系。
待测相位差的正弦电量的频率范围很广,因此采用的测量方法和仪器一般随频率的高低来选择。
常用的方法:
直接法使用**的仪表如指针式相位表、数字相位表,或采用阴级示波器来测量相位差。采用阴极示波器时,将两同频正弦电压信号分别加到示波器的X、Y轴,得到如图1所示的椭圆图形,则两正弦电压之间的相位差∮=arc sin(b/α)。这一方法不能判断两信号哪一个**或滞后,并且在∮值接近零时,椭圆也退化接近成为一条直线,即b值很小,所以∮值很难测准
间接法通常采用三电压表法。一般要求两电压信号有一公共点(设为a点),当分别测出两信号电压Uab、Uca,以及两电压的差值Ubc后,可画出电压三角形。按余弦定理,两信号电压间的相位差当∮很小时,可将Uab或Uca中较大的一个信号电压分压,使分压后两信号的数值相等。 天津R0补偿膜光轴角测试仪相位差延迟量、椭偏率、配向角 ,色度、多波段测试(380nm~780nm)、偏光度。
若我们将一个信号周期看作是 360,则相差的范围就在0°~360°。:两个同频信号之间的移相, 是电子行业继电保护领域中模拟、分析问题的一个重要手段,利用移 相原理可以制作校验各种有关相位的仪器仪表、继电保护装置的信号 源。因此,移相技术有着很广的实用价值。我们知道,将参考信号整 形为方波信号,并以此信号为基准,延时产生另一个同频的方波信号, 再通过波形变换电路将方波信号还原成正弦波信号。以延时的长短来 决定两信号间的相位值。这种处理方式的实质是将延时的时间映射为 信号间的相位值。也就是说,只要能够测量出该延迟时间,我们就可 以推算出其相位差值。
跟着科学技术日新月异的发展,电子技术***的应用于工业、农业、交通运输、航空航天、**建设等国民经济的诸多领域中,而相位测. 量技术又是电子技术中进行信息检测的重要手法,在现代科学技术中占有举足轻重的效果和地位。 相位差测试仪是工业领域中是常常用到的一般丈量东西,比如在电力系统中电网并网合闸时,需要两电网的电信号相同,这就需要准确的 丈量两工频信号之间的相位差。更有丈量两列同频信号的相位差在研究网络、系统的频率特性中具备重要意义。相位丈量的办法许多,典型的 传统办法是通过显示器观测,这种办法差错较大,读数不方便。为此,咱们设计了一种数字相位差丈量仪,实现了两列信号相位差的自动丈量 及数显。近年来,跟着科学技术的迅速发展,许多丈量仪逐步向“智能仪器”和“自动测试系统”发展,这使得仪器的使用比较简单,功能越 越多。测量波段上料方式:手动上料。
专业性:光学博士团队合力研发,追求国产替代。 精心打造的每一台设备出货前都会用**i级计量标准片进行校验 打破国外垄断 主要精度数据: 整机尺寸:根据客户样品尺寸定制; 对应样品尺寸:可定;制 轴角度测量范围:0°~180°; 数据输出:电脑连接; 轴角度精度:±0.05°(精度业内*高); 测量重复性:0.02° (精度业内*高); 相位差重复性精度:3σ≦0.1nm; 测量波段:550nm单波段(可根据客户要求定制波段)可升级为380nm~780nm。配置表: PLM-100系列- -套 工业电脑及软件。重庆Re补偿膜光轴角测试仪供应商
狹缝:可 选择狭缝宽度(25um、 50um、100um、 200um )。安徽光学膜补偿膜光轴角测试仪供应商
PLM系列是由苏州千宇光学科技有限公司精心设计研发及生产的一款高精度相位差轴角度测量仪。该设备可解析多层相位差,是对吸收轴角度、快慢轴角度、相位差、偏光度、色度及透过率等进行高精密测量;是结合偏光解析和一般光学特性分析于一体的设备;并提供不同型号,供客户进行选配。
设备主要运用于:偏光片,盖板玻璃,双折射材料,离型膜,补偿膜,其他光学材料的测试中。可解析多层相位差,主要测试项目包括:吸收轴角度,偏光轴角度,快轴,慢轴角度,波长分散性,三次元折射率,相位差R0/Rth(0~20000nm),透过率,色度,偏光度。 安徽光学膜补偿膜光轴角测试仪供应商