平面轮廓度和平面度是有质的区别。如果是曲面就不会有求平面度，应该是面轮廓度。就平面而言，面轮廓度和平面度也是有质的区别：平面度不带基准，面轮廓度会会带基准，如果不带基准的面轮廓度，是表示自身变化在一个中心线的下负公差里偏移。平面度就是一个面上报有点在理论高度上的最大值和最小值点的总和。面轮廓度描述曲面尺寸准确度的主要指标为轮廓度误差，它是指被测实际轮廓相对于理想轮廓的变动情况。面轮廓度是限制实际曲面对理想曲面变动量的一项指标，它是对曲面的形状精度要求。是实际被测要素（轮廓面线要素）对理想轮廓面的允许变动。描述曲面尺寸准确度的主要指标为轮廓度误差，它是指被测实际轮廓相对于理想轮廓的变动情况。平面度是指基片具有的宏观凹凸高度相对理想平面的偏差。深圳市新则兴科技有限公司 一直专注于代理国外质量的金相制样设备;武汉***无损检测互惠互利
检测表面不连续性,如裂纹、气孔及缝隙等。优点对所有的材料都适用的。设备轻便,投资相对较少。探伤简便,结果易解释。除光源需电源外,其它设备都不需电源,可直观核对显示。局限性由于涂料、污垢及涂覆金属等表面层会掩盖缺陷,孔隙表面的漏洞也能引起假显示,探伤前后必须清洁工件。涡流检测法(ET)涡流检测是运用电磁感应原理，将载有正弦波电流的激励线圈，接近金属表面，线圈周围的交变磁场在金属表面感应出电流（涡流）。涡流又产生一个与原磁场方向相反，频率相同的磁场，使得激励线圈中的原磁场有部分的减小，从而引起线圈阻抗的变化。设备涡流探伤仪和标准试块。用途检测表面的不连续性(如裂纹、气孔、未熔合等)和某些亚表面夹渣。优点较经济、简便,可自动探伤对准工件,不需藕合,探头不必接触试件。 湖南耐用无损检测系列采用无损检测方法对制造用原材料直至产品进行全程检测，为改进工艺提供指导。
X射线物理特性：穿透作用。X射线因其波长短，能量大，照在物质上时，*一部分被物质所吸收，大部分经由原子间隙而透过，表现出很强的穿透能力。X射线穿透物质的能力与X射线光子的能量有关，X射线的波长越短，光子的能量越大，穿透力越强。X射线的穿透力也与物质密度有关，利用差别吸收这种性质可以把密度不同的物质区分开来；电离作用。物质受X射线照射时，可使核外电子脱离原子轨道产生电离。利用电离电荷的多少可测定X射线的照射量，根据这个原理制成了X射线测量仪器。在电离作用下，气体能够导电；某些物质可以发生化学反应；在有机体内可以诱发各种生物效应。
斐索干涉仪是一种原理为等厚干涉，用以检测光学元件的面形、光学镜头的波面像差以及光学材料均匀性等的精密仪器。其测量精度一般为/10～/100,为检测用光源的平均波长。干涉仪的一种类型。由斐索(H．Fizeau1819—1896)研究而得名。光路见图，点光源S的光线经准直后，近乎正入射地照射被观察透明物体，光线在物体上下表面间多次反射，并从反射方向S'处观察干涉条纹。光学工厂用这种千涉仪来检验透明平行平板的光学厚度的均匀性。
深圳市新则兴科技有限公司成立于2004年，自成立以来一直致力于成为客户信赖的实验室整体解决方案提供商。代理国际**品牌实验室仪器设备：法国普锐斯PRESI金相制样设备、德国徕卡显微镜LEICA、苏州慧利HOOL激光干涉仪、日本日立HITACHI超声波扫描显微镜、捷克泰思肯TESCAN扫描电镜等系列产品。
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2020年6月14日，在深圳市新则兴科技有限公司总经理刘红祥的带领下，新则兴一行人前往法国普锐斯（PRESI）位于上海闵行区的中国区总部进行为期三天的培训。本次培训的目的在于进一步深入学习仪器设备的使用方法，交流探讨金相样品制备过程中的技巧，学习售前、售后服务中应该为客户提供的帮助，从而在未来的工作中可以为客户提供更加专业、更加成熟的解决方案和样品处理方法，以及更加详尽的产品介绍和更加完备的产品售后服务跟进。公司技术人员深入学习了岩相切割研磨一体机、切割机、磨抛机、镶嵌机等设备的使用方法，并在与深资技术工程师讨论的过程中了解了针对不同样品，不同设备的选择和相应的处理技巧；公司销售人员则学习了面对不同的客户需求，我们提供的服务相应的变化，另外了解了销售和技术结合的重要性，销售人员也应该做好准备为客户提供技术上更为专业的建议。本次培训帮助我司人员更好的设立短期与长期目标，在工作上具有指导性的价值意义，大家均表示受益匪浅，将会把这次培训学到的内容运用到未来的工作中。
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HOOL型系列激光干涉仪以压电陶瓷驱动(PZT)标准平晶移动，从而产生多幅干涉图像，通过相移算法对数字化的相移干涉图进行处理分析，可以得到整个被测平晶面形的三维形貌图，突破高精度***测量闭环自检的难题，**终测量结果以整个被测平晶面形的峰谷值、均方根值为平面度指标。***的应用于计量检测、光学加工、高等教学仪器、光学成像系统和衍射元件测量、纳米薄膜现场检测和LED芯片制备等领域对波面检测的应用需求。 光波干涉法常利用平晶进行，图为测量所得的不同干涉条纹。图中a的干涉条纹是直的，而且间距相等，只在周边上稍有弯曲。这说明被检验表面是平的，但与光学平晶不平行，而且在圆周部分有微小的偏差。
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