显微镜分类显微镜以显微原理进行分类可分为偏光显微镜、光学显微镜与电子显微镜和数码显微镜。折叠偏光显微镜偏光显微镜(Polarizing microscope)是用于研究所谓透明与不透明各向异性材料的一种显微镜，在地质学等理工科专业中有重要应用。凡具有双折射的物质，在偏光显微镜下就能分辨的清楚，当然这些物质也可用染色法来进行观察，但有些则不... 【查看详情】

超声波扫描显微镜，英文是：Scanning Acoustic Microscope，简称SAM，由于它的主要工作模式是C模式，因此也简称：C-SAM。现在做失效分析的实验室里，这个设备直接被通称为C-SAM，就像X射线透射机被通称为X-Ray一样。声波扫描显微镜有两种工作模式：基于超声波脉冲反射和透射模式工作的。反射模式是主要的... 【查看详情】

电子显微镜与光学显微镜的成像原理基本一样，所不同的是前者用电子束作光源，用电磁场作透镜。另外，由于电子束的穿透力很弱，因此用于电镜的标本须制成厚度约50nm左右的超薄切片。这种切片需要用超薄切片机（ultramicrotome）制作。电子显微镜的放大倍数比较高可达近百万倍、由照明系统、成像系统、真空系统、记录系统、电源系统5部分构成，... 【查看详情】

由电子* 发射的电子束比较高可达30keV, 经会聚透镜、物镜缩小和聚焦, 在样品表面形成一个具有一定能量、强度、斑点直径的电子束。在扫描线圈的磁场作用下, 入射电子束在样品表面上按照一定的空间和时间顺序做光栅式逐点扫描。由于入射电子与样品之间的相互作用, 将从样品中激发出二次电子。由于二次电子收集极的作用, 可将各个方向发射的二级... 【查看详情】

Leica EM TXP 精研一体机是一款多功能机械修块研磨抛光机，适用于对目标定位，进行铣削，切割，冲钻，研磨，修块及抛光等操作。特别适用于对样品微小目标的精细定位、切割等加工。徕卡精研一体机EM TXP标靶面制备系统具有定点修块抛光功能，对样品进行铣削，切割，冲钻，研磨，修块及抛光等操作后，可以用于电子显微镜(TEM-透射电子显微... 【查看详情】

透射电子显微镜（Transmission electronmicroscope，缩写TEM），简称透射电镜，是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像，影像将在放大、聚焦后在成像器件（如荧光屏、胶片、以及感光耦合... 【查看详情】

透射电子显微镜的成像原理可分为三种情况：1、吸收像：当电子射到质量、密度大的样品时，主要的成相作用是散射作用。样品上质量厚度大的地方对电子的散射角大，通过的电子较少，像的亮度较暗。早期的透射电子显微镜都是基于这种原理。2、衍射像：电子束被样品衍射后，样品不同位置的衍射波振幅分布对应于样品中晶体各部分不同的衍射能力，当出现晶体缺陷时，缺... 【查看详情】

透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM),可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜，电子束的波长要比可... 【查看详情】

2019年中，在深圳市机械行业协会牵头带领下，新则兴科技有限公司与深圳市计量质量检测研究院、海克斯康共同创建创新联合实验室，致力于通过搭建**咨询平台结合现场试验，并聚焦于设计研发、制造生产、检测控制等产品全生命周期各个环节的几何质量以及原材料问题，为广大企业提供包括测试、辅助设计、分析验证、咨询、培训等在内的综合技术解决方案。共同打造测... 【查看详情】

扫描电子显微镜(SEM)是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品,通过光束与物质间的相互作用,来激发各种物理信息,对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。新式的扫描电子显微镜的分辨率可以达到1nm;放大倍数可以达到30万倍及以上连续可调;并且景深大,... 【查看详情】

TESCAN电镜：维修简单：现在保持电镜处在***的状态很简单，只需要很短的停机时间。每个细节设计得很仔细，使得仪器的效率比较大化，操作简化。 自动操作：设备的特点包括了自动设置和众多自动操作。除此之外,电镜还有样品台自动导航与自动分析程序，能明显减少操作员的操作时间。通过内置脚本语言(Python) 可进入软件的大多数功... 【查看详情】

透射电镜的总体工作原理是：由电子发射出来的电子束，在真空通道中沿着镜体光轴穿越聚光镜，通过聚光镜将之会聚成一束尖细、明亮而又均匀的光斑，照射在样品室内的样品上；透过样品后的电子束携带有样品内部的结构信息，样品内致密处透过的电子量少，稀疏处透过的电子量多；经过物镜的会聚调焦和初级放大后，电子束进入下级的中间透镜和第1、第2投影镜进行综合... 【查看详情】