扫描探针显微镜根据所利用的探针与样品之间相互作用物理场的不同,被分为不同系列的显微镜。其中扫描隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM)是比较常用的两类扫描探针显微镜。扫描隧道显微镜是通过检测探针与被测样品之间的隧道电流的大小来检测样品表面结构。原子力显微镜是通过光电位移传感器检测针尖一样品间的相...
共聚焦显微镜技术下一步的研究重点应该集中在以下几点:1、更快的扫描速度目前共聚焦扫描速度受限于扫描设备的机械结构,要想获得更快的扫描速度只能牺(xi)牲分辨率。而很多生物过程非常迅速,目前仍然无法检测。2、更wan美的超高分辨率技术目前超高分辨率技术有STORM、PALM、STED和SSIM几种技术,分辨率从20~200nm不等,但是各种技术均有一定缺陷,例如在样品处理、Z轴方向、光毒性等方面还不近wan美,在实际观察中往往很难达到极限分辨率。3、更强的兼容性共聚焦显微镜技术涉及到多种激发方式,例如多光子和光片式观察,相干反斯托克斯拉曼散射在理论上可以公用一套激光系统。超高分辨率显微术可以搭配白激光技术。激光共聚焦显微镜不仅可以改善有效信号,而且可以降低噪声信号并获得高质量的荧光图像。70XL显微镜产品介绍
体视显微镜和光学显微镜的区别
体视显微镜是利用双通道光路,为左右两眼提供一个具有立体感的图像。它实质上是两个单镜筒显微镜并列放置;光学显微镜是利用光学原理,把人眼所不能分辨的微小物体放大成像,以供人们提取微细结构信息的光学仪器。体视显微镜其光学结构与普通光学显微镜不同,体视显微镜的成像具有三维立体感的;而普通光学显微镜的成像不具有三维立体感。体视显微镜被广泛应用在工业上更重要的特点是因为其立体感强,成像清晰和宽阔,又具有长工作距离,并是适用范围非常广的常规显微镜,操作方便,直观,检定效率高;光学显微镜在地质学等理工科专业中有重要应用。 非标显微镜系统透射电子显微镜、扫描电子显微镜、扫描隧道显微镜和原子力显微镜是各个高科技领域常用的四种显微镜。
扫描探针显微镜的特点:
扫描探针显微镜是除了场离子显微镜和高分辨率透射电子显微镜之后的第三种以原子尺度观察物质结构的显微镜。以扫描隧道显微镜(STM)为例,其横向分辨率为0.1~0.2nm,纵向深度分辨率则为0.01nm,这样的分辨率可以清楚地观测到分布在样品表面的单个原子或分子。同时,扫描探针显微镜还可以在空气,其他气体或液体环境下进行观察研究。扫描探针显微镜拥有原子分辨、原子搬运、纳米微加工等特点,但是由于细部各种扫描显微镜的工作原理不同,它们得到的结果所反映的样品表面信息是很不同的。扫描隧道显微镜测量的是样品表面的电子台分布信息,具有原子级别的分辨率但仍得不到样品的真结构。而原子显微镜探测的是原子之间的相互作用信息,因此可以得到样品表面原子分布的排列信息即样品的真实结构。但另一方面,原子力显微镜测不到可以和理论比较的电子态信息,因此二者各有短长。
显微镜的观察方式,你知道几种?
荧光成像在如今的科研中已经广泛应用,无论是荧光免疫组化染色、融合蛋白转基因表达,还是荧光染料染色,这些方式都对蛋白的定位和定量分析,细胞的动态变化,组织结构的观察,蛋白的共定位起到重要的影响。荧光成像的原理基于荧光分子获得能量后从高能态跃迁回低能态所释放出的荧光信号。激发这种状态可以使用各种光源,例如普通荧光显微镜使用的金属卤化物灯,LED荧光灯,共聚焦显微镜和双光子显微镜使用的激光。
需要记住的是,不同的荧光成像方式适合不同的研究对象:✓由于sCOMS相机的快速成像特点,在钙成像上普通荧光显微镜具有速度优势。✓共聚焦较好的信噪比和分辨率特点适合多色高分辨高对比成像。✓利用双光子光漂白少的特性,对活细胞或动物成像具有优势。✓利用不同的染料和荧光蛋白特性,还可以进行更多更复杂的荧光成像实验。材料样品也不甘寂寞,它们不像生物样品那样需要特定的染料进行标记,一般都是以自发荧光的方式来呈现它们多彩的一面。比如树脂材料,纤维等样品,利用这一特点可以对样品进行缺陷检测等应用,为科研和生产提供保障。 显微镜的使用方法及步骤;
体视显微镜的应用
1.动物学、植物学、昆虫学、组织学、矿物学、考古学、地质学和皮肤病学等的研究。
2.在纺织工业中,用于原料及棉毛织物的检验。
3.在电子工业中,作为晶体管点焊、检查等操作工具。
4.各种材料的裂缝构成,气孔形状腐蚀情况等表面现象的检查。
5.在制造小型精密零件时,用于机床工具的装置、工作过程的观察、精密零件的检查以及装配工具。
6.透镜、棱镜或其它透明物质的表面质量,以及精密刻度的质量检查。
7.作文书钱币的真假判辨,刑侦犯罪证据的检索。
8.广泛应用于纺织制品、化工化学、塑料制品、电子制造、机械制造、医药制造、食品加工、印刷业、高等院校、考古研究等众多的领域。 视频显微镜和金像显微镜。浙江金像显微镜
光电流测试显微镜系统;70XL显微镜产品介绍
显微镜的观察方法
明视场观察:垂直照射测量物表面,适用于金属、印刷电路板、浅孔的表面观察。
暗视场观察:通过对从工件发出的散射光进行观察,可完成在明视场下观察不到的划痕、尘埃、凹凸,以及胜任低反射工件的观察。
偏光观察:观察具有偏光特性的物质,适用于半导体材料、液晶、结晶、金属组织、矿物等表面观察。
微分干涉(DIC)观察:利用Nomarski棱镜将光线分为两束,形成明暗和对比度变化,可进行立体观察。适用于观察硅片的结晶缺陷、磁头研磨面的损伤检查、涂装面、金属组织、矿石表面等。 70XL显微镜产品介绍
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