电镜基本参数
  • 产地
  • 捷克
  • 品牌
  • 泰思肯
  • 型号
  • 1
  • 是否定制
电镜企业商机

扫描电子显微镜类型多样, 不同类型的扫描电子显微镜存在性能上的差异。根据电子qiang种类可分为三种:场发射电子qiang、钨灯丝qiang和六硼化镧 [5]  。其中, 场发射扫描电子显微镜根据光源性能可分为冷场发射扫描电子显微镜和热场发射扫描电子显微镜。冷场发射扫描电子显微镜对真空条件要求高, 束流不稳定, 发射体使用寿命短, 需要定时对针尖进行清洗, *局限于单一的图像观察, 应用范围有限;而热场发射扫描电子显微镜不仅连续工作时间长, 还能与多种附件搭配实现综合分析。在地质领域中, 我们不仅需要对样品进行初步形貌观察, 还需要结合分析仪对样品的其它性质进行分析, 所以热场发射扫描电子显微镜的应用范围更广。新则兴电镜,科学研究和教育的得力助手。上海泰思肯电镜性能

Leica EM TIC 3X 三离子束切割仪可制备横切面和抛光表面,用于扫描电子显微镜 (SEM)、微观结构分析 (EDS、WDS、Auger、EBSD) 和 AFM 科研工作。使用

Leica EM TIX 3X,您几乎可以在室温或冷冻条件下,对任何材料实现***的表面处理,尽可能显示样品近自然状态下的内部结构。对于离子束研磨机的效率来说,真正重要的是同时具备出色的品质结果和高产量。与前代版本相比,全新版本不仅切割速度提高了一倍,其独特的三离子束系统还优化了制备质量,并缩短了工作时间。一次可处理样品多达 3 个, 并可在同一个载物台上进行横切和抛光。工作流程解决方案可安全、高效地将样品传输至后续的制备仪器或分析系统。


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Leica EM TIC 3X三离子束切割机通过离子*激发获得的离子束,以垂直于样品侧面纵向轰击样品,可获得高质量无应力“切割”截面,以用于扫描电子显微镜(SEM),显微结构分析(EDS,WDS,Auger,EBSD)和AFM研究、观察。

Leica EM TIC 3C的优势:

1、前列性能独特的三离子束系统,可获得比较好的截面处理质量,并可高效获得宽且深的切割区域,较大降低工作时间。并可实现在一次处理过程中会处理3个样品。

2、样品托多种多样的样品托,适合于各类尺寸样品。

3、可装配系统根据您的样品制备需要,可以有针对性地在徕卡EM TIC 3X上装配一体化设计样品台一标准样品台,多样品台或冷冻样品台。

4、样品TOPO结构清晰可见除了剖面切割,使用同--样品托还可对样品进行清洁及增强衬度的功能。

5、冷冻样品台针对温度敏感型样品如橡胶或水溶性高分子聚合纤维等,可以使用冷冻样品台对样品进行低温下处理,获得高质量处理结果。样品托和挡板的温度都可达到-150℃。

Leica EM TIC 3X 三离子束切割仪可制备横切面和抛光表面,用于扫描电子显微镜 (SEM)、微观结构分析 (EDS、WDS、Auger、EBSD) 和 AFM 科研工作。使用Leica EM TIX 3X,您几乎可以在室温或冷冻条件下,对任何材料实现***的表面处理,尽可能显示样品近自然状态下的内部结构。对于离子束研磨机的效率来说,真正重要的是同时具备出色的品质结果和高产量。与前代版本相比,全新版本不仅切割速度提高了一倍,其独特的三离子束系统还优化了制备质量,并缩短了工作时间。一次可处理样品多达 3 个, 并可在同一个载物台上进行横切和抛光。工作流程解决方案可安全、高效地将样品传输至后续的制备仪器或分析系统。 新则兴电镜,开启您的科学探索之旅。

2019年中,在深圳市机械行业协会牵头带领下,新则兴科技有限公司与深圳市计量质量检测研究院、海克斯康共同创建创新联合实验室,致力于通过搭建**咨询平台结合现场试验,并聚焦于设计研发、制造生产、检测控制等产品全生命周期各个环节的几何质量以及原材料问题,为广大企业提供包括测试、辅助设计、分析验证、咨询、培训等在内的综合技术解决方案。共同打造测试检测行业泛生态圈,做到满足产品全生命周期的一站式服务平台,未来无论您在何时何地遇到产品在装配、可靠性、稳定性、失效分析以及原材料等问题,欢迎随时联系创新联合实验室进行**的**咨询预约。深圳市新则兴科技有限公司成立于2004年,专注于代理国外质量的金相制样设备!武汉场发射电镜

深圳市新则兴科技有限公司成立于2004年,专注于代理国外质量的金相制样设备。上海泰思肯电镜性能

标准的工作流程解决方案

— 与Leica EM TXP产生协同效应:在使用 Leica EM TIC

3X之前,通常需要进行机械准备工作,以便尽可能接近感兴趣区域。Leica EM TXP 是一种独特的标靶面抛光系统,开发用于样品的切割和抛光,具有定点修块抛光功能,是用锯,磨,铣削,抛光样品后,供扫描电镜,透射电镜,和LM技术检测,为 Leica EM TIC 3X 等仪器进行后续技术处理做好充分准备Leica EM TXP 经专业设计,利用锯切、铣削、研磨和抛光技术对样品进行预制。 对于需要精细定位以及难以制备的挑战性样品,它能提供出色的结果,令处理变得轻松简单。 上海泰思肯电镜性能

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