对于该类探测器,基底由Si变为Ge时,其探测波段可从IR延伸到THz,在这里姑且将Si基与Ge基两类放在一起加以阐述｡传统的非本征探测器是基于被掺杂的Ge或Si作为吸收材料制作而成的结构简单的PC探测器,主要有Ge:X[X=Hg､Ga､铍(Be)､锌(Zn)]､Si:Y[Y=Ga､砷(As)､铟(In)]等类型｡这类探测器的响应范围取决于杂质元素在基底里的离化能量,一般可覆盖LWIR､VLWIR乃至THz波段,但需要在低温(<10K)下工作｡由于响应波段很宽,非本征探测器被应用到了航天领域,然而困境也随之出现:在太空中核辐射对探测器响应的影响较大,需要减薄探测器吸收层来降低影响,但这样也会使量子效率降低红外热像仪 （行业**高防护等级热像仪）、工业交换机、在线控制系统、热像监测系统软件等。手持式红外热像仪水冷套
红外热像仪与普通相机有以下几个主要区别：工作原理：普通相机通过捕捉可见光来形成图像，而红外热像仪则是通过检测物体发出的红外辐射来形成图像。红外辐射是物体在热量分布上的表现，与物体的温度相关。感应器：普通相机使用光敏感器（如CCD或CMOS）来捕捉可见光信号，而红外热像仪使用红外感应器（如微波探测器或热电偶）来捕捉红外辐射信号。图像显示：普通相机显示的是可见光图像，而红外热像仪显示的是热图像，即物体的热量分布图。热图像通常以不同的颜色或灰度表示不同温度区域。应用领域：普通相机主要用于捕捉可见光图像，适用于大多数日常摄影和视频拍摄需求。而红外热像仪主要用于检测物体的热量分布，适用于建筑、工业、医疗、安防等领域的热成像应用。价格和复杂性：由于红外热像仪的技术和应用特性，其价格通常比普通相机高。此外，红外热像仪的操作和解读热图像的技术要求也相对较高，需要专业培训和经验。德国欧普士红外热像仪样品建筑领域在国外是红外热像仪应用比较广的行业，渗水、保暖、鼓包、霉变等。但是国内还是未开垦的领域。
红外(Infrared,IR)波是指波长在，它在大自然的电磁波谱里处在可见光与微波之间。由于IR在电磁波谱中涵盖的波长范围很宽，人们通常按波长将它分成５个子波段，分别为：近红外(near-IR,NIR)、中红外(mid-IR,MIR)、长波红外(long-wavelengthIR,LWIR)、甚长波红外(very-long-wavelengthIR,VLWIR)以及远红外(far-IR,FIR)，它们所对应的波长范围如下表所示：一、IR红外探测器分类根据探测机理的不同，IR探测器可分为两大类，分别是光子探测器和热探测器，下图所示：在吸收IR波后，热探测材料的温度、电阻率、电动势以及自发极化强度等会产生明显的波动，根据这些波动可探测目标物体向外辐射IR的能量。热探测器的响应速度普遍比光子探测器低，因此在大规模FPA探测器的发展方面不如光子探测器乐观，但热探测器制造成本低廉、使用便利，这使它们在民用市场大受欢迎与光子探测器不同，热探测器的响应光谱较为平坦，不存在峰值波长，其探测率不随波长变化而变化，如图所示。
对表面散热的计算还可以采用公式法，本文中的公式法源于《化工原理》中的传热学部分，对于具体传热系数的计算方法则来自于拉法基集团水泥工艺工程手册及拉法基集团热工计算工具中使用的经验计算公式。公式法将表面散热分为辐射散热和对流散热分别进行计算，表面的总热损失是辐射和对流损失的总和：Q总=Q辐射+Q对流。1）红外热像仪辐射散热而言，附件物体的表面会把所测外壳的热辐射反射回外壳，从而减少了热量的传递，辐射热量的减少量取决于所测外壳的大小、形状、发射率和温度。所测壳体的曲面以及壳体大小、形状和距离将影响可视因子，这里所说的可视因子是指可以被所测外壳“看到”的附件物体表面的比例。即使对于相对简单的形状，可视因子的计算也变得相当复杂，因此必须进行假设以简化计算。当两个表温度相差0.03℃时，红外热像仪能测量出差异，在做体温筛查时，高热灵敏度有助于发现轻微发热者。
美国TIS(Teledyne Imaging Sensors,TIS)研制的､应用于詹姆斯韦伯空间望远镜(James Webb Space Telescope, JWST)的Hawaii-2RG模块就是由2Kx2K规模的HgCdTe FPA探测器组成的｡第三代IR成像系统的概念一经提出,大家便把目光聚焦于HgCdTe探测器,认为它是实现单像素多色成像目标的**完美的践行者｡事实证明大家的期待是正确的,HgCdTe多色FPA探测器目前已经成为第三代成像系统里的佼佼者｡红外热像仪发展历史可以通过下图来了解。HgCdTe FPA探测器在气象和海洋监视､***侦察､导弹预警以及天文观测等许多方面都有无可替代的重要地位｡红外热像仪无需外界光源补光，距离远，拥有更好的穿透力。高温红外热像仪销售
红外热像仪可检测的目标数量与镜头大小、红外像素、目标物体大小、检测距离等因素有关。手持式红外热像仪水冷套
测量表面温度一般采用非接触红外高温计，必须注意在测量时需要调整红外热像仪所使用的发射率ε，发射率是材料及其表面状况的特性，采用不正确的发射率会产生明显的测量误差。有两种方法可以在静态表面上校准发射率，***个方法是使用接触式高温计测量温度，然后将红外高温计指向同一点并调整发射率，直到温度读数与接触式温度计的读数相同；第二个方法是在被测表面粘上黑胶布，或者涂上黑漆，然后用测得的温度校准红外高温计。常用特定温度下水泥窑系统表面发射率见表1。手持式红外热像仪水冷套
